一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法及系统技术方案

本发明专利技术属于激光器测试领域，提供了一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法及系统，通过对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线分析确定延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流；通过对调谐波长与容差电流分布轨迹线分析确定最佳工作电流点；通过测试不同控制温度下谐振输出波长分布数据得到调谐波长与控制温度部分轨迹线，对调谐波长与控制温度分布轨迹线分析确定最佳工作控制温度点；基于最佳工作电流点和最佳工作控制温度点构成延展腔扫频源最佳工作点并输出。本发明专利技术解决传统在片测试系统对种子源工作参数的测试不能有效表征延展腔谐振单元总体性能对扫频源系统的兼容性而导致扫频源输出指标性能差异大的问题。差异大的问题。差异大的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法及系统


[0001]本专利技术属于激光器测试
，具体涉及一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法及系统。

技术介绍

[0002]本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。
[0003]延展腔扫频源(又称自由空间光外腔扫频激光光源，简称FS
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ECSS)由于具有单纵模、窄线宽、输出波长连续可调、全波段无跳模、相位噪声低等突出的优点已广泛应用于基于高阶光调制格式的高速相干光通信网络、互相关频域解耦的光纤三维形状传感、线性扫频的痕量气体探测和自动驾驶等领域，但是在传统的FS
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ECSS的光谱输出过程中，对宽范围、无跳模、窄线宽线性连续扫频激光输出的实现严重依赖于延展腔谐振单元运转状态最优值的准确预判。
[0004]传统的在片测试系统往往在增益种子源加工完毕且尚未划片之前，利用探针及测试仪器对其特征参数进行标定，通过存储模块记录每个被测增益种子源特征参数的标定数据，采用复杂交互解析算法将标定数据反演为可以判别增益种子源电气本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法，其特征在于，包括：通过测试不同驱动电流下谐振输出光功率的分布数据得到延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线，对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线分析确定延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流；以延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流为限定值，通过测试单个驱动电流下谐振输出波长分布数据得到调谐波长与容差电流分布轨迹线，对调谐波长与容差电流分布轨迹线分析确定最佳工作电流点；通过测试不同控制温度下谐振输出波长分布数据得到调谐波长与控制温度部分轨迹线，对调谐波长与控制温度分布轨迹线分析确定最佳工作控制温度点；基于最佳工作电流点和最佳工作控制温度点构成延展腔扫频源最佳工作点并输出。2.如权利要求1所述的一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法，其特征在于，所述通过测试不同驱动电流下谐振输出光功率的分布数据得到延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线，具体为：分别加载驱动电流DC[1～M]于延展腔扫频源内单管增益种子源集成单元中的增益芯片，测量并记录延展腔扫频源内增程式位移机构分别在N个驱动脉冲信号激励情况下M个驱动电流产生的谐振输出光功率数据；待谐振输出光功率数据自动测试完成后，读取谐振输出光功率分布数据P[1～N][1～M][1～M]；对谐振输出光功率分布数据P[1～N][1～M][1～M]分析，得到延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布迹线P[1][1～M][1～M]、P[C][1～M][1～M]和P[N][1～M][1～M]，其中，当N为奇数时C＝(N+1)/2，当N为偶数时C＝N/2。3.如权利要求1所述的一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法，其特征在于，对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布轨迹线分析确定延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流，具体为：对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布迹线P[C][1～M][1～M]分析，得到延展腔扫频源最大输出功率Pmax，Pmax＝P[C][M][M]；对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布迹线P[1][1～M][1～M]与P[N][1～M][1～M]分析，得到延展腔扫频源全波段输出所允许加载的最小驱动电流DCmin。4.如权利要求3所述的一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法，其特征在于，所述对延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布迹线P[1][1～M][1～M]与P[N][1～M][1～M]分析，得到延展腔扫频源全波段输出所允许加载的最小驱动电流DCmin，具体为：读取延展腔扫频源尾纤激射功率与注入电流分布迹线P[1][1～M][1～M]与P[N][1～M][1～M]；自激射功率与注入电流分布迹线P[1][1～M][1～M]的初始电流和第一激射功率P[1][1][1]向后逐点计算P[1][i+1][i+1]/P[1][i][i]，i＝1～M，若第n0点的比值大于判定阈值ThD0，则停止运算，输出当前电流值DC0；自激射功率与注入电流分布迹线P[N][1～M][1～M]的初始电流和第一激射功率P[1][1][1]向后逐点计算P[1][j+1][j+1]/P[1][j][j]，j＝1～M，若第n1点的比值大于判定阈值ThD1，则停止运算，输出当前电流值DC1；
读取电流值DC0和DC1，计算DC0
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DC1的差值DC01，若DC01大于等于0，则延展腔扫频源全波段输出所允许加载的最小驱动电流DCmin＝DC0，反之，则延展腔扫频源全波段输出所允许加载的最小驱动电流DCmin＝DC1；则延展腔扫频源全波段输出所允许加载的最小驱动电流DCmin。5.如权利要求1所述的一种延展腔扫频源最佳工作点的自动测试方法，其特征在于，所述以延展腔扫频源的最大输出功率和最小驱动电流为限定值，通过测试单个驱动电流下谐振输出波长分布数据得到调谐波长与容差电流分布轨迹线，具体为：步骤a：读取延展腔扫频源最大输出功率Pmax对应的驱动脉冲信号数C和驱动电流数M，将C和M分别加载至延展腔扫频源内的增程式位移机构与延展腔扫频源内单管增益种子源集成单元中的增益芯片；步骤b：控制计算机调整程控衰减器的衰减档位加1，判断光功率计采集到的谐振光功率PA是否小于等于设定阈值，如果成立，则转至步骤d，否则转至步骤c；步骤c：控制计算机调整程控衰减器的衰减档位再加1，判断光功率计采集到的谐振光功率PA是否小于等于设定阈值，如果成立，则转至步骤d，否则转至步骤c再进行一次；步骤d：控制计算机将光开关置于通道位置CP[2]，延展腔扫频源内控制电路加载分别加载驱动电流DC[DCmin+100mA～M]于延展腔扫频源内单管增益种子源集成单元中的增益芯片，测量并记录延展腔扫频源内增程式位移机构分别在N个驱动脉冲信号激励情况下M
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【专利技术属性】
技术研发人员：盛立文，黄琳，乔山，张爱国，韦育，鞠军委，刘志明，尹炳琪，张志辉，金辉，刘加庆，张一琪，肖凌峰，韩纪磊，
申请(专利权)人：中电科思仪科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：