本实用新型专利技术公开了一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置，包括测量板、支撑杆、测量小方；所述测量小方有多个，安装于测量板内部；所述支撑杆有多个，所述支撑杆顶部连接测量板底部；本实用新型专利技术的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，通过将被测物放置在测量小方所在空间上，并向被测物施压，使被测物在大平面上均匀受力后，将测量小方压下，读取测量小方伸出装置的高度数据，以获取被测物高度数据；避免通过夹具的方式进行几何量测量时，力度控制失误导致的较薄的被测物损坏，还可以通过设置不同精度的刻度条、测量小方，不同大小的测量板，达到对多种尺寸的矩形被测物测量的灵活应变，结构简单，制作成本低，后期维护费低，应用性好。性好。性好。
【技术实现步骤摘要】
一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置
[0001]本技术涉及测量装置
，尤其涉及一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置。
技术介绍
[0002]生活当中，常使用到几何量精密测量装置对被测物进行几何数据测量，测量装置通常通过设置夹具，将待测物边缘夹住后，进行数据读取；然而，对于较薄的矩形被测物，通过测量装置进行测量时，容易对于装置的夹取力度进行误判，造成控制失误，导致被测物损坏。
[0003]因此，本领域技术人员致力于开发一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置，旨在解决现有技术中存在的几何量精密测量过程中存在的缺陷问题。
技术实现思路
[0004]鉴于现有技术的上述缺陷，本技术所要解决的技术问题是现有装置测量过程中，对于较薄的矩形被测物，通过夹具进行测量的方式容易因力度控制失误，导致被测物损坏的缺陷问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供了一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置，包括测量板、支撑杆、测量小方；所述测量小方有多个，安装于测量板内部；所述支撑杆有多个，所述支撑杆顶部连接测量板底部；
[0006]进一步地，所述测量小方外壁上包括刻度；
[0007]进一步地，所述测量板为一个方框，所述方框内壁的长、宽、高上均包括刻度；
[0008]进一步地，所述测量小方横截面为正方形，且每个测量小方等大；所述每个测量小方高度与测量板高度相同；
[0009]进一步地，当所有小方组合放置于测量板中部时，刚好填满测量板中部空腔，且测量小方外壁包括一定摩擦力，由各测量小方间的摩擦力达到支撑作用，在各测量小方放置于测量板中部时不会掉落；
[0010]进一步地，所述刻度精度根据所需测量精度设置，包括毫米级、厘米级等；
[0011]进一步地，所述测量板、测量小方的大小跟随所需测量的被测物决定，可有多种大小；具体地，若被测物预想得到毫米级精度，则采用长、宽均为1mm的测量小方，且测量小方、测量板上的刻度均为毫米级；
[0012]进一步地，所述支撑杆为圆柱形、长方体形或正方体形；
[0013]进一步地，所述支撑杆有多个；
[0014]在本技术具体的实施方式中，所述支撑杆为长方体形；
[0015]在本技术具体的实施方式中，所述支撑杆有4个；
[0016]采用以上方案，本技术公开的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，具有以下技术效果：
[0017]1、本技术的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，通过将被测物放置在测量小方所在空间上，并向被测物施压，使被测物在大平面上均匀受力后，将测量小方压下，读取测量小方伸出装置的高度数据，以获取被测物高度数据；避免通过夹具的方式进行几何量测量时，力度控制失误导致的较薄的被测物损坏；
[0018]2、本技术的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，还可以通过设置不同精度的刻度条、测量小方，不同大小的测量板，达到对多种尺寸的矩形被测物测量的灵活应变；
[0019]3、本技术的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，结构简单，制作成本低，后期维护费低，应用性好；
[0020]综上所述，本技术的用于矩形被测物的几何量精密测量装置，通过将被测物放置在测量小方所在空间上，并向被测物施压，使被测物在大平面上均匀受力后，将测量小方压下，读取测量小方伸出装置的高度数据，以获取被测物高度数据；避免通过夹具的方式进行几何量测量时，力度控制失误导致的较薄的被测物损坏，还可以通过设置不同精度的刻度条、测量小方，不同大小的测量板，达到对多种尺寸的矩形被测物测量的灵活应变，结构简单，制作成本低，后期维护费低，应用性好。
[0021]以下将结合附图与具体实施方式对本技术的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本技术的目的、特征和效果。
附图说明
[0022]图1是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置结构示意图；
[0023]图2是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置内部结构示意图；
[0024]图3是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置的去除测量小方的结构示意图；
[0025]图4是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置的测量小方结构示意图；
[0026]图5是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置对矩形被测物进行测量时的示意图；
[0027]图6是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置未使用时的截面图；
[0028]图7是本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置使用时的截面图；
[0029]图中，1、测量小方；2、支撑杆；3、测量板。
具体实施方式
[0030]以下参考说明书附图介绍本技术的优选实施方式，使其
技术实现思路
更加清楚和便于理解。本技术可以通过许多不同形式的实施方式来得以体现，本技术的保护范围并非仅限于文中提到的实施方式。
[0031]在附图中，结构相同的部件以相同数字标号表示，各处结构或功能相似的组件以相似数字标号表示。附图所示的每一组件的尺寸和厚度是任意示出的，本技术并没有限定每个组件的尺寸和厚度。为了使图示更清晰，附图中有些地方适当夸大了部件的厚度。
[0032]如图1、2、3、4、6所示，本技术用于矩形被测物的几何量精密测量装置，包括测
量板3、支撑杆2、测量小方1；所述测量小方1有多个，安装于测量板3内部；所述支撑杆2有多个，所述支撑杆2顶部连接测量板3底部；
[0033]所述测量小方1外壁上包括刻度；
[0034]所述测量板3为一个方框，所述方框内壁的长、宽、高上均包括刻度；
[0035]所述测量小方1横截面为正方形，且每个测量小方1等大；所述每个测量小方1高度与测量板3高度相同；
[0036]当所有小方组合放置于测量板3中部时，刚好填满测量板3中部空腔，且测量小方1外壁包括一定摩擦力，由各测量小方1间的摩擦力达到支撑作用，在各测量小方1放置于测量板3中部时不会掉落；
[0037]所述刻度精度根据所需测量精度设置，包括毫米级、厘米级等；
[0038]所述测量板3、测量小方1的大小跟随所需测量的被测物决定，可有多种大小；具体地，本次测量预想得到毫米级精度，采用长、宽均为1mm的测量小方1，且测量小方1、测量板3上的刻度均为毫米级；
[0039]所述支撑杆2为长方体形；
[0040]所述支撑杆2有4个；
[0041]使用时，将本实施方式的用于矩形被测物的几何量精密测量装置的固定，将被测物沿测量板内壁的任一边角放置，如图5、7所示，将被测物缓慢压下，以致被测物顶面与测量板顶面位于同一平面上，读取伸出的测量小方的高度，得到测量物的高度，读取测量板刻度，得到被测物长、宽；即得到被测物的几何数据；测量结束后，回推小方，则测量物被推出，完成此次几何测量；
[0042]经实际使用，本实用本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于矩形被测物的几何量精密测量装置，其特征在于，包括测量板(3)、支撑杆(2)、测量小方(1)；所述测量小方(1)有多个，安装于测量板(3)内部；所述支撑杆(2)有多个，所述支撑杆(2)顶部连接测量板(3)底部；当所有小方组合放置于测量板(3)中部时，刚好填满测量板(3)中部空腔，且测量小方(1)外壁包括一定摩擦力，由各测量小方(1)间的摩擦力达到支撑作用，在各测量小方(1)放置于测量板(3)中部时不会掉落。2.如权利要求1所述用于矩形被测物的几何量精密测量装置，其特征在于，所述测量小方(1)外壁上包括刻度；所述测量板(3)为一个方框，所述方框内壁的长、宽、高上均包括刻度。3.如权利要求1所述用于矩形被测物的几何量精密测量装...
【专利技术属性】
技术研发人员：丁文，姚兴宇，于佃清，张瑜，韩翘楚，
申请(专利权)人：辽宁省计量科学研究院，
类型：新型
国别省市：
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