本发明专利技术公开了一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质。该测厚校准方法包括：获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；获取所述校准样片的标准数据；基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。通过采用上述方案，解决了解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。造成的偏差进行校准的问题。造成的偏差进行校准的问题。
【技术实现步骤摘要】
测厚校准方法、装置、设备和存储介质
[0001]本专利技术涉及测厚仪的
，尤其涉及一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质。
技术介绍
[0002]机器视觉是人工智能正在快速发展的一个分支。简单说来，机器视觉就是用机器代替人眼来做测量和判断。在锂电池极片的涂敷生产环节，需要使用测厚仪这一机器视觉产品对锂电池极片进行实时在线厚度或者面密度检测，测厚仪通常为射线测厚仪，在电池极片整个涂布生产过程中，测厚仪的射线检测窗口持续不断的发出射线对产线上电池极片进行在线扫描，以达到实时检测产线上电池极片涂布的质量，即检测电池极片的厚度或者面密度等。
[0003]由于锂电池极片涂布生产车间常年持续生产，产线设备几乎没有停机时间，因此测厚仪也处于常年持续运行的状态，因此测厚仪设备长期高强度的运行，对设备结构考验极大，且随着时间的推移，测厚仪设备的运行导轨，支撑机构等逐渐出现松动磨损的现象，这将直接导致测厚仪的整机检测精度降低，检测准确性无法得到有效保障。目前行业中针对这一问题主要采取的办法是，测厚仪定期进行校准，即设定一个周期时间，将测厚仪的传感器退出到被测材料外边静止，然后启动测厚仪内部校准程序，但此方法存在一个严重的缺陷，即测厚仪只能自检出因射线装置松动衰减造成的影响，且该自校验所修正的也只是静态状态下的误差波动，而对于测厚仪整个传感器扫描行程内的误差波动无法进行检测和校准。并且在设备无法判断自身结构是否稳定的情况下进行生产操作，对厂家所生产的产品带来极大的安全隐患。
技术实现思路
[0004]本专利技术提供了一种测厚校准方法、装置、设备和存储介质，以解决现有的测厚仪无法对整机结构磨损松动造成的偏差进行校准的问题。
[0005]根据本专利技术的一方面，提供了一种测厚校准方法，用于测厚仪的校准，所述测厚校准方法包括：
[0006]获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
[0007]获取所述校准样片的标准数据；
[0008]基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
[0009]确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
[0010]若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
[0011]在本专利技术的可选实施例中，所述确定所述标准差是否满足第一预设校准规则，包括：
[0012]确定所述标准差是否大于第一预设值；
[0013]若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；
[0014]若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。
[0015]在本专利技术的可选实施例中，所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之前，还包括：
[0016]计算所述扫描数据的欧式距离；
[0017]确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；
[0018]若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；
[0019]若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。
[0020]在本专利技术的可选实施例中，所述确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，包括：
[0021]确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值；
[0022]若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
[0023]若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
[0024]在本专利技术的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算所述扫描数据的欧式距离，包括：
[0025]计算所述正行扫描数据的第一欧式距离；
[0026]计算所述反行扫描数据的第二欧式距离；
[0027]相应的，所述确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值，包括：
[0028]确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值；
[0029]若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则；
[0030]若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。
[0031]在本专利技术的可选实施例中，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述正行扫描数据的数量为至少两个，所述反行扫描数据的数量为至少两个；所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，包括：
[0032]基于所述正行扫描数据和所述标准数据确定正行扫描补偿量；
[0033]基于所述反行扫描数据和所述标准数据确定反行扫描补偿量；
[0034]相应的，所述基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式，包括：
[0035]基于所述正行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到正行扫描计算公式：
[0036]；
[0037]其中，为修正得到的正行扫描计算公式，为修正前的扫描计算公式，为正行扫描补偿量；
[0038]基于所述反行扫描补偿量通过下式修正所述测厚仪的扫描计算公式得到反行扫描计算公式：
[0039]；
[0040]其中，为修正得到的反行扫描计算公式，为反行扫描补偿量。
[0041]在本专利技术的可选实施例中，所述测厚仪包括测厚仪本体，测厚仪本体上设有射线检测窗口和样片驱动机构，所述样片驱动机构用于驱动校准样片运动至所述射线检测窗口；
[0042]所述获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，包括：
[0043]控制样片驱动机构驱动校准样片运动至射线检测窗口；
[0044]获取所述射线检测窗口发出射线扫描所述校准样片得到的扫描数据。
[0045]根据本专利技术的另一方面，提供了一种测厚校准装置，所述测厚校准装置包括：
[0046]扫描数据获取模块，用于获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；
[0047]标准数据获取模块，用于获取所述校准样片的标准数据；
[0048]标准差确定模块，用于基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；
[0049]规则确定模块，用于确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；
[0050]修正模块，用于若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。
[0051]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0052]至少一个处理器；以及...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测厚校准方法，用于测厚仪的校准，其特征在于，包括：获取测厚仪对校准样片进行扫描得到的扫描数据，其中，所述扫描数据的数量为多个；获取所述校准样片的标准数据；基于所述扫描数据和所述标准数据确定扫描补偿量的标准差；确定所述标准差是否满足第一预设校准规则；若满足第一预设校准规则，基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式。2.根据权利要求1所述的测厚校准方法，其特征在于，所述确定所述标准差是否满足第一预设校准规则，包括：确定所述标准差是否大于第一预设值；若所述标准差大于所述第一预设值，确定满足第一预设校准规则；若所述标准差小于或等于所述第一预设值，确定不符合第一预设校准规则，并结束校准，发出结构稳定提醒信息。3.根据权利要求1所述的测厚校准方法，其特征在于，所述基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式之前，还包括：计算所述扫描数据的欧式距离；确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则；若所述欧式距离符合第二预设校准规则，执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤；若所述欧式距离不符合第二预设校准规则，不执行基于所述扫描数据和所述标准数据确定所述扫描补偿量，并基于所述扫描补偿量修正所述测厚仪的扫描计算公式的步骤，并发出告警信息。4.根据权利要求3所述的测厚校准方法，其特征在于，所述确定所述欧式距离是否符合第二预设校准规则，包括：确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值；若所述欧式距离小于或等于所述第二预设值，确定符合第二预设校准规则；若所述欧式距离大于所述第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。5.根据权利要求4所述的测厚校准方法，其特征在于，所述扫描数据包括正行扫描数据和反行扫描数据，所述计算所述扫描数据的欧式距离，包括：计算所述正行扫描数据的第一欧式距离；计算所述反行扫描数据的第二欧式距离；相应的，所述确定所述欧式距离是否小于或等于第二预设值，包括：确定所述第一欧式距离和所述第二欧式距离是否均小于或等于第二预设值；若所述第一欧式距离和所述第二欧式距离均小于或等于第二预设值，确定符合第二预设校准规则；若所述第一欧式距离或所述第二欧式距离大于第二预设值，确定不符合第二预设校准规则。6.根据权利要求1至5...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛铭，沈井学，魏江，张烩，范靖男，
申请(专利权)人：杭州百子尖科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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