填充率测量方法、信息处理装置及程序制造方法及图纸

取得空间三维模型(S111)，该空间三维模型由与具有开口的容纳部对置的测距传感器经由开口测量而得到；取得容纳部的三维模型即容纳三维模型(S112)；提取空间三维模型中的作为测量对象物的部分的对象物部分(S114)；根据开口的二维图像，确定表示开口的形状的线段(S113)，上述开口的二维图像通过从测距传感器的位置向特定的方向测量而生成；根据以基于测距传感器的位置、特定的方向及开口的形状确定的三维空间上的开口的位置为基准的三维坐标系和对象物部分，推测作为测量对象物的三维模型的对象物三维模型(S115)；计算测量对象物对于容纳空间的填充率(S116)。于容纳空间的填充率(S116)。于容纳空间的填充率(S116)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】填充率测量方法、信息处理装置及程序


[0001]本公开涉及填充率测量方法、信息处理装置及程序。

技术介绍

[0002]在专利文献1中公开了使用三维激光扫描仪取得三维形状的三维形状测量装置。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2015
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87319号公报

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的课题
[0007]关于测量的三维形状的应用例还没有进行充分的研究。例如，关于表示在规定的容纳空间中容纳有多少量的测量对象物的填充率的计算，没有进行充分的研究。
[0008]本公开提供一种能够计算测量对象物的填充率的填充率测量方法等。
[0009]用来解决课题的手段
[0010]有关本公开的一技术方案的填充率测量方法，取得空间三维模型，所述空间三维模型通过对于具有容纳测量对象物的容纳空间且形成有开口的容纳部、由与上述容纳部对置的测距传感器经由上述开口进行测量从而获得；取得容纳三维模型，所述容纳三维模型是没有容纳上述测量对象物的上述容纳部的三维模型；取得上述开口的二维图像、及与上述二维图像对应的位置姿势信息；使用上述容纳三维模型，确定上述二维图像中的表示上述开口的形状的线段；基于上述位置姿势信息及所确定的上述线段，计算三维空间上的上述开口的位置；基于计算出的上述开口的位置，将上述容纳三维模型的位置与上述空间三维模型的位置建立对应；基于上述建立对应后的上述容纳三维模型及上述空间三维模型，推测作为上述容纳空间内的测量对象物的三维模型的对象物三维模型；使用上述容纳三维模型及上述对象物三维模型，计算上述测量对象物对于上述容纳空间的填充率。
[0011]有关本公开的一技术方案的信息处理装置具备处理器和存储器；上述处理器使用上述存储器，取得空间三维模型，所述空间三维模型通过对于具有容纳测量对象物的容纳空间且形成有开口的容纳部、由与上述容纳部对置的测距传感器经由上述开口进行测量而得到；取得容纳三维模型，所述容纳三维模型是没有容纳上述测量对象物的上述容纳部的三维模型；取得上述开口的二维图像、及与上述二维图像对应的位置姿势信息；使用上述容纳三维模型，确定上述二维图像中的表示上述开口的形状的线段；基于上述位置姿势信息及所确定的上述线段，计算三维空间上的上述开口的位置；基于计算出的上述开口的位置，将上述容纳三维模型的位置与上述空间三维模型的位置建立对应；基于上述建立对应后的上述容纳三维模型及上述空间三维模型，推测作为上述容纳空间内的测量对象物的三维模型的对象物三维模型；使用上述容纳三维模型及上述对象物三维模型，计算上述测量对象物对于上述容纳空间的填充率。
[0012]另外，本公开也可以作为使计算机执行上述填充率测量方法中包含的步骤的程序来实现。此外，本公开也可以作为记录有该程序的能够被计算机读取的CD
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ROM等非暂时性的记录介质来实现。此外，本公开也可以作为表示该程序的信息、数据或信号来实现。而且，也可以是这些程序、信息、数据及信号经由因特网等的通信网络而被分发。
[0013]专利技术效果
[0014]根据本公开，能够提供一种能够计算测量对象物的填充率的填充率测量方法等。
附图说明
[0015]图1是用来说明有关实施方式1的填充率测量方法的概要的图。
[0016]图2是表示有关实施方式1的三维测量系统的特征性的结构的框图。
[0017]图3是用来说明测距传感器的结构的第1例的图。
[0018]图4是用来说明测距传感器的结构的第2例的图。
[0019]图5是用来说明测距传感器的结构的第3例的图。
[0020]图6是表示第1例的坐标系计算部的结构的框图。
[0021]图7是用来说明第1例的坐标系计算部进行的测量坐标系的计算方法的图。
[0022]图8是表示第2例的坐标系计算部的结构的框图。
[0023]图9是用来说明第2例的坐标系计算部进行的测量坐标系的计算方法的图。
[0024]图10是表示第3例的坐标系计算部的结构的框图。
[0025]图11是用来说明第3例的坐标系计算部进行的测量坐标系的计算方法的图。
[0026]图12是表示模型生成部的结构的一例的框图。
[0027]图13是模型生成部进行的计算容纳空间的容积的处理的流程图。
[0028]图14是表示填充率计算部的结构的一例的框图。
[0029]图15是用来说明填充率计算部进行的填充率的计算方法的一例的图。
[0030]图16是用来说明填充率计算部进行的填充率的计算方法的另一例的图。
[0031]图17是由信息处理装置进行的填充率测量方法的流程图。
[0032]图18是第1例的坐标系计算部进行的计算测量坐标系的处理(S113)的流程图。
[0033]图19是第2例的坐标系计算部进行的计算测量坐标系的处理(S113)的流程图。
[0034]图20是第3例的坐标系计算部进行的计算测量坐标系的处理(S113)的流程图。
[0035]图21是表示有关实施方式2的坐标系计算部的结构的框图。
[0036]图22是表示有关实施方式2的坐标系计算部所具有的检测部的结构的框图。
[0037]图23是用来说明有关实施方式2的检测部进行的开口点端点的提取方法的图。
[0038]图24是实施方式2的坐标系计算部进行的计算测量坐标系的处理(S113)的流程图。
[0039]图25是用来说明填充率的计算方法的图。
[0040]图26是表示有关变形例1的填充率计算部的计算部的结构的一例的框图。
[0041]图27是有关变形例1的填充率计算部的计算部的填充率计算处理的流程图。
[0042]图28是表示将两个以上的搁架容纳到卡车的货箱等的容纳空间中的情况下的例子的图。
[0043]图29是表示容纳在货箱的容纳空间中的搁架、及与其填充率的关系的表。
[0044]图30是表示有关变形例2的填充率计算部的计算部的结构的一例的框图。
[0045]图31是有关变形例2的填充率计算部的计算部的填充率计算处理的流程图。
[0046]图32是用来说明有关变形例3的笼式台车的结构的图。
[0047]图33是表示有关变形例3的填充率计算部的结构的一例的框图。
[0048]图34是有关变形例3的填充率计算部的填充率计算处理的流程图。
[0049]图35是用来说明计算填充率的第2方法的一例的图。
[0050]图36是用来说明计算填充率的第2方法的另一例的图。
[0051]图37是用来说明有关变形例4的空间三维模型的生成方法的图。
[0052]图38是用来说明有关变形例5的空间三维模型的生成方法的图。
[0053]图39是用来说明有关变形例5的空间三维模型的生成方法的图。
[0054]图40本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种填充率测量方法，取得空间三维模型，该空间三维模型通过对于具有容纳测量对象物的容纳空间且形成有开口的容纳部，由与上述容纳部对置的测距传感器经由上述开口进行测量而得到；取得容纳三维模型，该容纳三维模型是没有容纳上述测量对象物的上述容纳部的三维模型；取得上述开口的二维图像、以及与上述二维图像对应的位置姿势信息；使用上述容纳三维模型，确定上述二维图像中的表示上述开口的形状的线段；基于上述位置姿势信息及所确定的上述线段，计算三维空间上的上述开口的位置；基于计算出的上述开口的位置，将上述容纳三维模型的位置与上述空间三维模型的位置建立对应；基于上述建立对应后的上述容纳三维模型及上述空间三维模型，推测作为上述容纳空间内的测量对象物的三维模型的对象物三维模型；使用上述容纳三维模型及上述对象物三维模型，计算上述测量对象物对于上述容纳空间的填充率。2.如权利要求1所述的填充率测量方法，上述二维图像包括通过照相机拍摄上述开口而生成的RGB图像；上述位置姿势信息表示上述照相机在拍摄上述开口时的位置及姿势。3.如权利要求1所述的填充率测量方法，上述二维图像包括基于上述测距传感器进行的上述开口的测量而生成的深度图像；上述位置姿势信息表示上述测距传感器在测量上述开口时的位置及姿势。4.如权利要求1所述的填充率测量方法，上述二维图像包括RGB图像、灰阶图像、红外线图像及深度图像的至少一方；上述RGB图像通过照相机拍摄上述开口而生成；上述深度图像是基于上述测距传感器的测量结果而生成的图像。5.如权利要求4所述的填充率测量方法，在上述线段的确定中，基于根据上述RGB图像所确定的线段和根据上述深度图像所确定的线段的双方，确定上述线段。6.如权利要求1～5中任一项所述的填充率测量方法，上述测距传感器包括ToF传感器即飞行时间测距传感器、及立体照相机中的至少一个。7.如权利要求1～6中任一项所述的填充率测量方法，上述测距传感器包括第1测距传感器及第2测距传感器；上述第1测距传感器的第1测量区域与上述第2测距传感器的第2测量区域具有重叠的区域。8.如权利要求7所述的填充率测量方法，上述重叠的区域在上述测距传感器测距的方向上具有上述测量对象物的长度以上的长度。9.如权利要求7所述的填充率测量方法，上述重叠的区域包括上述测量对象物所存在的范围的全部。10.如权利要求1～9中任一项所述的填充率测量方法，
上述容纳部在与上述测距传感器测距的方向交叉的方向上，相对于上述测距传感器相对地移动；使用由上述测距传感器在第1定时测量出的第1测量结果和在第2定时测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：桂右京，松延彻，吉川哲史，福田将贵，寺西研翔，一力知一，木村雅典，杉尾敏康，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：