一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法技术

本发明专利技术涉及一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法，所述光学电压传感器包括依次设置位于同一光路上的激光器、起偏器、电光晶体、扩束镜、晶体劈和检偏器，所述方法包括以下步骤：利用激光器发出光信号，依次经过起偏器、电光晶体、扩束镜、晶体劈和检偏器，在待测电压作用下，输出信号叠加了电光相位延迟与应力线双折射产生的附加相位延迟，形成平移的条形光斑；通过图像传感器定位条形光斑的位移量进行相位延迟叠加量的测量；检测待测电压的交流过零点，在过零点时刻获取测量的相位延迟叠加量作为应力线双折射产生的附加相位延迟；通过获取的应力线双折射产生的附加相位延迟对光学电压传感器的输出信号进行补偿。偿。偿。

【技术实现步骤摘要】
一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法


[0001]本专利技术涉及一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法，属于光学电压传感器校正


技术介绍

[0002]电压互感器在电网中起到传递、变换、隔离的作用，其中传统电磁式电压互感器已无法适应电网的快速发展要求，逐渐暴露出其局限性，诸如存在电磁谐振、绝缘性能差、无数字接口等问题。光学电压传感器具有无源、绝缘性能好、响应频带宽、抗干扰能力强等优点，有效地克服了电磁式电压互感器的缺点，具有良好的应用前景。
[0003]现有光学电压传感器测量原理是基于Pockels效应和偏光干涉测量模式，即在待测电场的调制下，线偏振光通过电光晶体后产生电光相位延迟，一般认为现有技术无法直接测量相位延迟，需要借助于偏光干涉得到出射光强，由对出射光强的非线性解调得到待测电压。受温漂与震动的影响，电光晶体和传输光纤中容易产生应力线双折射，并与电光相位延迟叠加在一起，而偏光干涉测量模式难以将应力线双折射分离出来，影响了光学电压传感器长期运行的稳定性与可靠性。
专利技术内容
[000本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法，其特征在于，所述光学电压传感器包括依次设置位于同一光路上的激光器、起偏器、电光晶体、扩束镜、晶体劈和检偏器，所述方法包括以下步骤：利用激光器发出光信号，依次经过起偏器、电光晶体、扩束镜、晶体劈和检偏器，在待测电压作用下，输出信号叠加了电光相位延迟与应力线双折射产生的附加相位延迟，形成平移的条形光斑；通过图像传感器定位条形光斑的位移量进行相位延迟叠加量的测量；检测待测电压的交流过零点，在过零点时刻获取测量的相位延迟叠加量作为应力线双折射产生的附加相位延迟；通过获取的应力线双折射产生的附加相位延迟对光学电压传感器的输出信号进行补偿。2.根据权利要求1所述的一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿方法，其特征在于，所述通过图像传感器定位条形光斑的位移量进行相位延迟叠加量的测量的方法具体为：通过图像传感器定位条形光斑的暗纹中心的初始位置；在测量待测电压时，通过图像传感器定位条形光斑暗纹中心的当前位置，并通过当前位置和初始位置计算光斑位移量Δx；基于光斑位移量Δx与相位延迟叠加量的关系获取相位延迟叠加量的值。3.一种光学电压传感器应力线双折射的交流过零补偿系统，其特征在于，所述光学电压传感器包括依次设置位于同一光路上的激光器、起偏器、电光晶体、扩束镜、晶体劈和检偏器，所述系统包括：启动模块，用于利用激光器发出光信号，依次经过起偏器、电光晶体、扩...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鸿毅，徐启峰，李超，黄奕钒，
申请(专利权)人：国网福建省电力有限公司国网福建省电力有限公司电力科学研究院福州大学，
类型：发明
国别省市：