一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置制造方法及图纸

技术编号:37391330 阅读:24 留言:0更新日期:2023-04-27 07:29
本实用新型专利技术公开了一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,所述装置包括:采集设备、控制单元、信号源和辐射板天线,所述瞬态干扰测量系统包括:电场探头和示波器;其中,采集设备,用于发送控制指令至控制单元,用于获取电场探头测量到的电场强度数据;控制单元,用于对信号源输出的电压信号进行控制;信号源,用于输出所述电压信号至辐射板天线;辐射板天线,用于基于所述电压信号产生电磁场;电场探头,置于所述辐射板天线中间,用于对所述电磁场的电场强度数据进行测量;示波器,用于对电场探头测量到的电场强度数据进行显示。本实用新型专利技术装置能够准确地确定瞬态干扰测系统的量程,能够为提高瞬态干扰测量系统的测量准确度提供支撑。提供支撑。提供支撑。

【技术实现步骤摘要】
一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置


[0001]本技术涉及瞬态干扰测量
,并且更具体地,涉及一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置。

技术介绍

[0002]变电站的开关操作、一二次融合柱上开关的分合闸操作、换流站内换流阀IGBT的导通关断等都会在电力系统中引起瞬态电磁干扰。电磁干扰一方面会经过电压、电流互感器由一次侧传导至二次侧电缆,进而耦合到二次设备端口;另一方面,电磁干扰也可通过空间场的场线耦合等方式耦合到二次设备端口。电磁干扰可能造成电子电气设备工作异常甚至损坏。实际场景中电磁环境复杂恶劣,单纯依赖仿真计算来获取电磁干扰特征难度大、耗时长。为此,往往需要通过实验测量来获得瞬态干扰特征。此时,存在一个影响测量结果准确度的问题,即空间电磁骚扰也会对该测量系统产生影响。
[0003]因此,需要一种能够准确对瞬态干扰测量系统进行校准的装置。

技术实现思路

[0004]本技术提出一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,以解决如何对瞬态干扰测量系统进行校准的问题。
[0005]为了解决上述问题,根据本技术的一个方面,提供了一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,所述装置包括:采集设备、控制单元、信号源和辐射板天线,所述瞬态干扰测量系统包括:电场探头和示波器;其中,
[0006]所述采集设备,分别与所述控制单元和示波器相连接,用于发送控制指令至所述控制单元,用于获取所述电场探头测量到的电场强度数据;
[0007]所述控制单元,与所述信号源相连接,用于对信号源输出的电压信号进行控制;
[0008]所述信号源,与所述辐射板天线相连接,用于输出所述电压信号至辐射板天线;
[0009]所述辐射板天线,用于基于所述电压信号产生电磁场;
[0010]所述电场探头,利用绝缘木块进行支撑并置于所述辐射板天线中间,用于对所述电磁场的电场强度数据进行测量;
[0011]所述示波器,通过光纤与所述电场探头相连接,用于对电场探头测量到的电场强度数据进行显示。
[0012]优选地,其中所述装置还包括:屏蔽体,所述屏蔽门的一侧开设有屏蔽门,所述屏蔽门与四个侧面的衔接处均镶有铍青铜簧片,以实现屏蔽门与其余四个侧面的密封;其中,所述采集设备和示波器置于所述屏蔽体中。
[0013]优选地,其中所述屏蔽体上设置有光纤孔,所述光纤穿过所述光纤孔,以通过光纤连接所述示波器和电场探头,所述光纤孔处采用360
°
屏蔽环接。
[0014]优选地,其中所述屏蔽体的侧面设置有观察窗,用于观察所述示波器的状态。
[0015]优选地,其中所述屏蔽体为金属屏蔽箱,所述屏蔽体的内壁材质为具有屏蔽功能
的不锈钢。
[0016]优选地,其中所述装置还包括:置于所述屏蔽体内部的供电电源和DC

AC逆变器,所述供电电源通过所述DC

AC逆变器与所述示波器相连接,用于为所述示波器供电;其中,所述DC

AC逆变器,用于将直流电逆变为交流电。
[0017]优选地,其中所述供电电源为蓄电池,所述蓄电池设置有正、负两个极性的输出端口,两个输出端口与所述DC

AC逆变器的输入端口一一对应连接。
[0018]本技术提供了一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,所述装置包括:采集设备、控制单元、信号源和辐射板天线;所述装置能够为实验分析、观察以及预测电子系统在复杂电磁环境中的抗干扰能力提供支撑,基于本技术装置进行测试得出的电场数据,能够用于瞬态干扰测量系统的电场探头的校准系数等参数的计算,能够准确地确定瞬态干扰测系统的量程,能够为提高瞬态干扰测量系统的测量准确度提供支撑。
附图说明
[0019]通过参考下面的附图,可以更为完整地理解本技术的示例性实施方式:
[0020]图1为根据本技术实施方式的用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置100的结构示意图;
[0021]图2为根据本技术实施方式的用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置的连接关系图;
[0022]图3为根据本技术实施方式的辐射板天线的示意图。
具体实施方式
[0023]现在参考附图介绍本技术的示例性实施方式,然而,本技术可以用许多不同的形式来实施,并且不局限于此处描述的实施例,提供这些实施例是为了详尽地且完全地公开本技术,并且向所属
的技术人员充分传达本技术的范围。对于表示在附图中的示例性实施方式中的术语并不是对本技术的限定。在附图中,相同的单元/元件使用相同的附图标记。
[0024]除非另有说明,此处使用的术语(包括科技术语)对所属
的技术人员具有通常的理解含义。另外,可以理解的是,以通常使用的词典限定的术语,应当被理解为与其相关领域的语境具有一致的含义,而不应该被理解为理想化的或过于正式的意义。
[0025]图1为根据本技术实施方式的用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置100的结构示意图。如图1所示,本技术实施方式提供的用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,能够为实验分析、观察以及预测电子系统在复杂电磁环境中的抗干扰能力提供支撑,基于本技术装置进行测试得出的电场数据,能够用于瞬态干扰测量系统的电场探头的校准系数等参数的计算,能够准确地确定瞬态干扰测系统的量程,能够为提高瞬态干扰测量系统的测量准确度提供支撑。本技术实施方式提供的用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置100,包括:采集设备101、控制单元102、信号源103、辐射板天线104。其中,瞬态干扰测量系统包括:电场探头和示波器。
[0026]优选地,所述采集设备101,分别与所述控制单元和示波器相连接,用于发送控制指令至所述控制单元,用于获取所述电场探头测量到的电场强度数据。
[0027]优选地,所述控制单元102,与所述信号源相连接,用于对信号源输出的电压信号进行控制。
[0028]优选地,所述信号源103,与所述辐射板天线相连接,用于输出所述电压信号至辐射板天线。
[0029]优选地,所述辐射板天线104,用于基于所述电压信号产生电磁场。
[0030]其中,所述电场探头,利用绝缘木块进行支撑并置于所述辐射板天线中间,用于对所述电磁场的电场强度数据进行测量。
[0031]所述示波器,通过光纤与所述电场探头相连接,用于对电场探头测量到的电场强度数据进行显示。
[0032]优选地,其中所述装置还包括:屏蔽体,所述屏蔽门的一侧开设有屏蔽门,所述屏蔽门与四个侧面的衔接处均镶有铍青铜簧片,以实现屏蔽门与其余四个侧面的密封;其中,所述采集设备和示波器置于所述屏蔽体中。
[0033]优选地,其中所述屏蔽体上设置有光纤孔,所述光纤穿过所述光纤孔,以通过光纤连接所述示波器和电场探头,所述光纤孔处采用360
°
屏蔽环接。
[0034]优选地,本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于对瞬态干扰测量系统进行校准的装置,其特征在于,所述装置包括:采集设备、控制单元、信号源和辐射板天线,所述瞬态干扰测量系统包括:电场探头和示波器;其中,所述采集设备,分别与所述控制单元和示波器相连接,用于发送控制指令至所述控制单元,用于获取所述电场探头测量到的电场强度数据;所述控制单元,与所述信号源相连接,用于对信号源输出的电压信号进行控制;所述信号源,与所述辐射板天线相连接,用于输出所述电压信号至辐射板天线;所述辐射板天线,用于基于所述电压信号产生电磁场;所述电场探头,利用绝缘木块进行支撑并置于所述辐射板天线中间,用于对所述电磁场的电场强度数据进行测量;所述示波器,通过光纤与所述电场探头相连接,用于对电场探头测量到的电场强度数据进行显示。2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:屏蔽体,所述屏蔽体的一侧开设有屏蔽门,所述屏蔽门与四个侧面的衔接处均镶有铍青铜簧片,以实现屏蔽门与其余四个侧面的密封;其中,所述采集设备和示波器置于所述屏蔽体中。3.根据权利要求2所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵明敏谢菁林珊珊赵鹏杨志超鞠勇林文彬林国栋李智诚
申请(专利权)人:中国电力科学研究院有限公司
类型:新型
国别省市:

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