本申请涉及一种显示面板自动检测装置，其包括上/下料工位和多个检测工位，至少一个检测工位处设置有AOI检测装置，至少一个检测工位处设置有复核分层集成检测装置，待测显示面板通过面板输送装置实现不同工位的切换，AOI检测装置位于复核分层集成检测装置的上游。本实用新型专利技术能够实现对显示面板的AOI检测、Mura的复核及判定、异物分层及尺寸量化、Mura量化、小视野复核、亮色度及均一性测量、Mura及色偏检测等功能。检测等功能。检测等功能。
【技术实现步骤摘要】
一种显示面板自动检测装置
[0001]本申请涉及显示面板缺陷检测
，特别涉及一种显示面板自动检测装置。
技术介绍
[0002]随着显示面板行业风靡全球迅速发展，市场上对多工站的面板检测装置的需求日渐增加，许多液晶面板设备/装置都渐渐走入批量化，目前在行业内有内的面板检测装置一般只包括上料工位、AOI检测工位、下料检测工位。其虽然可以实现对显示面板的AOI性能、Mura性能检测，但是由于针对显示面板产品一般还需要异物小视野复核与尺寸量化检测(即复核检)和异物分层检测(逐层检测，即分层检)，而现有技术中的面板检测装置无法满足对显示面板产品做异物小视野复核与尺寸量化检测(即复核检)和异物分层检测(逐层检测，即分层检)功能需求。
技术实现思路
[0003]本申请实施例提供一种显示面板自动检测装置，以解决相关技术中显示面板检测装置无法对显示面板产品进行异物小视野复核与尺寸量化检测(即复核检)和异物分层检测(逐层检测，即分层检)的问题。
[0004]本申请实施例提供了一种显示面板自动检测装置，其包括上/下料工位和多个检测工位，至少一个检测工位处设置有AOI检测装置，至少一个检测工位处设置有复核分层集成检测装置，待测显示面板通过面板输送装置实现不同工位的切换，AOI检测装置位于复核分层集成检测装置的上游。
[0005]在本技术的一种优选实施方案中，所述面板输送装置包括转盘和驱动单元，所述转盘上设置有多个沿转盘的周向间隔布置点灯治具，上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置。
[0006]在本技术的一种优选实施方案中，所述面板输送装置包括直线输送模组和驱动单元，所述直线输送模组上设置有沿其移动方向间隔布置的点灯治具，上/下料工位和多个检测工位沿直线输送模组的移动方向间隔布置。
[0007]在本技术的一种优选实施方案中，至少一个检测工位处设置有Mura色度检测装置，Mura色度检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述Mura色度检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野Mura检测仪器，或者所述Mura色度检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野Mura检测仪器和能够调节小视野Mura检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。
[0008]在本技术的一种优选实施方案中，至少一个检测工位处设置有色偏检测装置，色偏检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述色偏检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野色偏检测仪器，或者所述色偏检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野色偏检测仪器和能够调节小视野色偏检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。
[0009]在本技术的一种优选实施方案中，至少一个检测工位处设置有外观检测装置，外观检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述外观检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野外观检测仪器，或者所述外观检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野外观检测仪器和能够调节小视野外观检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。
[0010]在本技术的一种优选实施方案中，至少一个检测工位处设置有Demura检测装置，Demura检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述Demura检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野Demura检测仪器，或者所述Demura检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野Demura检测仪器和能够调节小视野Demura检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。
[0011]在本技术的一种优选实施方案中，所述复核分层集成检测装置包括复核检测仪器、分层检测仪器和光机驱动单元，所述光机驱动单元包括驱动机构和连接于驱动结构位移端的安装板，所述安装板上连接有所述复核检测仪器、分层检测仪器。
[0012]在本技术的一种优选实施方案中，所述分层检测仪器包括分层检测相机和分层检测相机支架，所述分层检测相机支架上设置有测距仪。
[0013]在本技术的一种优选实施方案中，所述驱动机构包括固定支架，所述固定支架上沿第一轴的轴向延伸的第一直线模组，所述第一直线模组的移动端连接有龙门架，所述龙门架上设置有沿第二轴的轴向延伸的第二直线模组，所述第二直线模组的移动端连接有沿第三轴的轴向延伸的第三直线模组，所述第三直线模组的移动端连接有所述安装板。
[0014]在本技术的一种优选实施方案中，所述AOI检测装置包括AOI暗室，所述AOI暗室内设置有AOI检测仪器和用于调节AOI检测仪器空间位置和/或空间角度的第一调节机构。
[0015]在本技术的一种优选实施方案中，所述Mura色度检测装置包括Mura暗室，所述Mura暗室内设置有Mura光机模组和用于调Mura光机模组光机空间位置和/或空间角度的第二调节机构。
[0016]在本技术的一种优选实施方案中，包括暗室，所述暗室内设置有固定钢架，所述固定钢架上通过减震单元连接有大理石平台，所述大理石平台上设置有所述上/下料工位和所述多个检测工位。
[0017]本申请提供的技术方案带来的有益效果包括：本技术不仅结构紧凑、自动化程度高、检测性能好，其能够实现对显示面板的AOI检测、Mura的复核及判定、异物分层及尺寸量化、Mura量化、小视野复核、亮色度及均一性测量、Mura及色偏检测等功能，其不仅包含大视野(一次性拍全)检测方案，含包含小视野检测方案(小视野检测，通过控制光机运动轴运动实现全视野拍摄)，后续各检测工站可以快速扩展实现大小视野交替检测方案；
[0018]进一步的，本技术包括上/下料工位和多个检测工位，至少一个检测工位处设置有AOI检测装置，至少一个检测工位处设置有复核分层集成检测装置，待测显示面板通过面板输送装置实现不同工位的切换，AOI检测装置位于复核分层集成检测装置的上游；该模块化的布局可以保证生产人员根据需要合理增加或检索针对各项面板性能的检测模块，提高显示面板的检测效率；
[0019]进一步的，本技术的面板输送装置包括转盘和驱动单元，转盘上设置有多个
沿转盘的周向间隔布置点灯治具，上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置；该方案为四工位单站转盘式机构设计，其中上/下料工位可以共用一个位置，检测工位为3组不同光机检测系统按次序检测产品，载台和光机内部分别设计快拆方式安装维护简便，外观美观较易批量复制，比较有实用性和标准化推广特性，其具有结构紧凑、便于装配调试的优点；
[0020]进一步的，至少一个检测工位处设置有Mura色度检测装置、色偏检测装置、外观检测装置、Demura检测装置等，其可以根据显示面板的需要合理增加或者减少；
[0021]进一步的，每个检测工位处的一起可以为大视野检测仪器或者小视野Demura检测仪器+调节装置，从而提高了本技术的兼容性；
[0022]进一步的，本技术的面板输送装本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种显示面板自动检测装置，其特征在于，包括上/下料工位和多个检测工位，至少一个检测工位处设置有AOI检测装置，至少一个检测工位处设置有复核分层集成检测装置，待测显示面板通过面板输送装置实现不同工位的切换，AOI检测装置位于复核分层集成检测装置的上游。2.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置，其特征在于：所述面板输送装置包括转盘和驱动单元，所述转盘上设置有多个沿转盘的周向间隔布置点灯治具，上/下料工位和多个检测工位沿转盘的周向间隔布置。3.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置，其特征在于：所述面板输送装置包括直线输送模组和驱动单元，所述直线输送模组上设置有沿其移动方向间隔布置的点灯治具，上/下料工位和多个检测工位沿直线输送模组的移动方向间隔布置。4.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置，其特征在于：至少一个检测工位处设置有Mura色度检测装置，Mura色度检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述Mura色度检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野Mura检测仪器，或者所述Mura色度检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野Mura检测仪器和能够调节小视野Mura检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。5.根据权利要求1所述的显示面板自动检测装置，其特征在于：至少一个检测工位处设置有色偏检测装置，色偏检测装置位于复核分层集成检测装置的上游，所述色偏检测装置包括能够通过一次拍摄获取待测显示面板全视野的大视野色偏检测仪器，或者所述色偏检测装置包括能够通过分次拍摄获取显示面板全视野的小视野色偏检测仪器和能够调节小视野色偏检测仪器的空间位置和/或空间角度的调节装置。6.根据权利要求1所述的显示面板自动检测...
【专利技术属性】
技术研发人员：周小培，欧昌东，郑增强，刘荣华，
申请(专利权)人：武汉精测电子集团股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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