电流检测电路、电流检测设备及快充装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种电流检测电路、电流检测设备及快充装置，所述电流检测电路包括：采样电路、全差分运算放大电路和电平位移电路，所述采样电路并联于所述全差分运算放大电路的第一输入端和第二输入端，所述全差分运算放大电路的输出端与所述电位平移电路的输入端连接，所述电位平移电路的输出端连接外部模数转换模块。本发明专利技术的电流检测电路适用于快充装置。置。置。

【技术实现步骤摘要】
电流检测电路、电流检测设备及快充装置


[0001]本专利技术涉及电流检测
，尤其涉及一种电流检测电路、电流检测设备及快充装置。

技术介绍

[0002]电流检测是绝大部分电子系统所必需的，随着现代电子系统的应用越来越广泛，电流检测电路面临的环境也越来越多样，不同的环境对电流检测电路的性能要求也存在一定差异，目前针对快充装置的电流检测需要既能检测微小差分电压又需要耐受检测端口的高压冲击。

技术实现思路

[0003]本专利技术一个或多个实施例描述了一种电流检测电路、电流检测设备及快充装置，以提供以解决现有技术中针对快充装置需要既能检测微小差分电压又需要耐受检测端口的高压冲击的问题。
[0004]本专利技术的一个方面，提供了一种电流检测电路，所述电路包括：采样电路、全差分运算放大电路和电平位移电路，所述采样电路并联于所述全差分运算放大电路的第一输入端和第二输入端，所述全差分运算放大电路的输出端与所述电位平移电路的输入端连接，所述电位平移电路的输出端连接外部模数转换模块。
[0005]进一步地，所述全差分运算放大电路包括第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，所述第一运算放大器为全差分运算放大器，所述第一电阻连接于所述第一运算放大器的正相输入端，所述第二电阻并联于所述第一运算放大器的正向输入端和反相输出端，所述第三电阻连接于所述第一运算放大器的反相输入端，所述第四电阻并联于所述第一运算放大器的反相输入端和正向输出端，所述第一运算放大器的正向输出端为所述全差分运算放大电路的输出端。
[0006]进一步地，所述第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻为阻值可调电阻，所述第一电阻与所述第三电阻阻值相等，所述第二电阻与所述第四电阻阻值相等。
[0007]进一步地，所述电平位移电路包括第五电阻、第六电阻和第二运算放大器，所述第五电阻的一端连接于基准电压输入端，另一端连接于所述第二运算放大器的反相输入端，所述第六电阻并联于所述第二运算放大器的反相输入端和输出端之间，所述第二运算放大器的正相输入端为所述电平位移电路的输入端，所述第二运算放大器的输出端为所述电平位移电路的输出端。
[0008]进一步地，所述第五电阻和所述第六电阻的阻值相等。
[0009]进一步地，所述第二运算放大器的基准电压与所述全差分运算放大电路的共模输入电压相同。
[0010]进一步地，所述采样电路包括第七电阻或第一mos管。
[0011]本专利技术的另一个方面，提供了一种电流检测装置，所述电流检测装置包含上述各
实施例所述的电流检测电路。
[0012]本专利技术的另一个方面，提供了一种快充装置，所述快充装置包含上述各实施例所述的电流检测电路。
[0013]本专利技术实施例提供的电流检测电路、电流检测设备及快充装置，所述电流检测电路包括：采样电路、全差分运算放大电路和电平位移电路，所述采样电路并联于所述全差分运算放大电路的第一输入端和第二输入端，所述全差分运算放大电路的输出端与所述电位平移电路的输入端连接，所述电位平移电路的输出端连接外部模数转换模块。本专利技术的电流检测电路适用于快充装置。
[0014]上述说明仅是本专利技术技术方案的概述，为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本专利技术的具体实施方式。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本说明书实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本说明书的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0016]图1为本专利技术实施例提供的一种电流检测电路的结构示意图。
具体实施方式
[0017]下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
[0018]本
技术人员可以理解，除非另外定义，这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语)，具有与本专利技术所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是，诸如通用字典中定义的那些术语，应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义，并且除非被特定定义，否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
[0019]图1为本专利技术实施例提供的电流检测电路的结构示意图，参照图1，本专利技术实施例提供的一种电流检测电路包括：采样电路10、全差分运算放大电路20和电平位移电路30，所述采样电路10并联于所述全差分运算放大电路20的第一输入端和第二输入端，所述全差分运算放大电路20的输出端与所述电位平移电路30的输入端连接，所述电位平移电路30的输出端连接外部模数转换模块40。
[0020]进一步地，本专利技术实施例的采样电路10包括第七电阻R7，或者为第一mos管，其中第一mos管的等效电阻用于后续计算输出电流。本专利技术实施例的待检测电流I的电流值I＝(V
csp
‑
V
csn
)/R7。其中R7为第七电阻R7的阻值。为V
csp
全差分运算放大电路20的第一输入端CSP的电压值，V
csn
为全差分运算放大电路20的第二输入端CSN的电压值。
[0021]进一步地，本专利技术实施例提供的全差分运算放大电路20包括第一运算放大器OP1、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4，所述第一运算放大器OP1为全差分运
算放大器，所述第一电阻R1连接于所述第一运算放大器OP1的正相输入端，所述第二电阻R2并联于所述第一运算放大器OP1的正向输入端和反相输出端，所述第三电阻R3连接于所述第一运算放大器OP1的反相输入端，所述第四电阻R4并联于所述第一运算放大器OP1的反相输入端和正向输出端，所述第一运算放大器OP1的正向输出端为所述全差分运算放大电路10的输出端。此外本专利技术实施例的第一运算放大器OP1还包括共模电压输入端Ref1。
[0022]其中，第一运算放大器OP1的正相输入端表示为Vip1，反相输入端表示为Vin1，正向输出端表示为Outp1,反相输出端表示为Outn1，第一运算放大器OP1还包括共模电压输入端Ref1。
[0023]需要说明的是，本专利技术实施例的电流检测输入为差分信号，且为了避免有时差分输入电压很小时第一运算放大器OP1内部的offset的影响，本专利技术实施例的第一运算放大器OP1为具有chop功能的运算放大器；为了避免全差分运算放大电路20的第一输入端CSP和全差分运算放大电路20的第二输入端CSN的输入电压过高，本专利技术实施例的第一运算放大器OP1为支持高压的运算放大器。
[0024]进一步地，本发本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流检测电路，其特征在于，所述电路包括：采样电路、全差分运算放大电路和电平位移电路，所述采样电路并联于所述全差分运算放大电路的第一输入端和第二输入端，所述全差分运算放大电路的输出端与所述电位平移电路的输入端连接，所述电位平移电路的输出端连接外部模数转换模块。2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述全差分运算放大电路包括第一运算放大器、第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻，所述第一运算放大器为全差分运算放大器，所述第一电阻连接于所述第一运算放大器的正相输入端，所述第二电阻并联于所述第一运算放大器的正向输入端和反相输出端，所述第三电阻连接于所述第一运算放大器的反相输入端，所述第四电阻并联于所述第一运算放大器的反相输入端和正向输出端，所述第一运算放大器的正向输出端为所述全差分运算放大电路的输出端。3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述第一电阻、第二电阻、第三电阻和第四电阻为阻值可调电阻，所述第一电阻与所述第三电阻阻值相等，所述第二电阻与所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗庆华，张富彬，钟裕捷，李仕胜，
申请(专利权)人：北京鸿智电通科技有限公司，
类型：发明
国别省市：