用于LCR测试仪的快速校准方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种用于LCR测试仪的快速校准方法及系统，该方法为：通过标准LCR测试仪获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值；将所述标准电阻器的标准阻抗和标准相位值写入标准电阻器的EEPROM；待校准LCR测试仪通过测试获取标准电阻器的原始阻抗和原始相位值；终端通过测试底板获取标准电阻器内EEPROM内存储的标准阻抗和标准相位值；所述终端对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值进行多项式拟合获取拟合系数；所述终端根据拟合系数进行阻抗和相位校准,获得校准系数；将所述校准系数写入到待校准LCR测试仪。本发明专利技术通过测量部分频率的数据，拟合出整个频率范围内的系数，大大提高了校准效率。大大提高了校准效率。大大提高了校准效率。

【技术实现步骤摘要】
用于LCR测试仪的快速校准方法及系统


[0001]本专利技术属于电学
，具体涉及一种用于LCR测试仪的快速校准方法及系统。

技术介绍

[0002]LCR是一种可以测量电感、电容、电阻阻抗的测量仪器，它被广泛用于科研、生产和计量测试等多个领域。
[0003]目前LCR的发展相当迅速，且需求越来越大，要保证LCR的测量准确度，对其校准的方法就显得尤为重要。
[0004]现有的LCR校准技术，需要用到商用的标准电容器、标准电容器、标准电阻器。国内生产的标准允许误差大、频率特性差、温度系数大。
[0005]国外生产的标准虽然允许误差小，但工作频率范围较窄，而且它们不仅成本高，还不方便实现自动化测试。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本专利技术的主要目的在于提供一种用于LCR测试仪的快速校准方法及系统。
[0007]为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：
[0008]本专利技术实施例提供一种用于LCR测试仪的快速校准方法，该方法为：
[0009]通过标准LCR测试仪获取本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，该方法为：通过标准LCR测试仪获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值；将所述标准电阻器的标准阻抗和标准相位值写入标准电阻器的EEPROM；待校准LCR测试仪通过测试获取标准电阻器的原始阻抗和原始相位值；终端通过测试底板获取标准电阻器内EEPROM内存储的标准阻抗和标准相位值；所述终端对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值进行多项式拟合获取拟合系数；所述终端根据拟合系数进行阻抗和相位校准,获得校准系数；将所述校准系数写入到待校准LCR测试仪。2.根据权利要求1所述的用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，所述通过标准LCR测试仪获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值，具体为：所述标准LCR测试仪在1Vrms的激励电平下获取标准电阻器的标准阻抗和标准相位值。3.根据权利要求1或2所述的用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，所述待校准LCR测试仪通过测试获取标准电阻器的原始阻抗和原始相位值，具体为：所述待校准LCR测试仪通过测试若干次获取对应的标准电阻器的原始阻抗和原始相位值，之后，根据若干次测试获取对应的标准电阻器的原始阻抗和原始相位值的平均值确定为原始阻抗和原始相位值。4.根据权利要求3所述的用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，所述终端对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值进行多项式拟合获取拟合系数，具体为：分别对所述标准阻抗和原始阻抗、以及标准相位值和原始相位值在同个激励频率下根据y＝kx+b进行最小二乘法拟合，获得第一系数k(k1,k2,k3,
……
,kn)和第二系数b(b1,b2,b3,
……
,bn)，其中，x为被校准的阻抗或者阻抗，根据所述第一系数和第二系数分别确定对应的拟合曲线，根据该拟合曲线确定任意激励频率下对应的第一系数和第二系数，即为拟合系数。5.根据权利要求4所述的用于LCR测试仪的快速校准方法，其特征在于，所述根据所述第一系数和第二系数分别确定对应的拟合曲线，具体为：将第一系数和第二系数的集合分别进行曲线拟合，获得第一系数k的拟合曲线
Pk
＝c1+c2f+c3f^2+
…
+c
n
f^q和第二系数b的拟合曲线P
b<...

【专利技术属性】
技术研发人员：周茂林，陆建峰，陈锦伟，谢佳胜，
申请(专利权)人：广州思林杰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：