一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统技术方案

一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，沿着光轴由物侧至像侧依次包括前端的X光荧光采集器、中端的中继光学系统和后端的大靶面相机的保护窗，在X光荧光采集器和中继光学系统之间设有一号折叠反射镜，在中继光学系统与大靶面相机的保护窗之间设有二号折叠反射镜；X光荧光采集器包括设置在闪烁晶体后侧的铅玻璃、一号双凹负透镜、一号弯月正透镜、一号非球面反射镜，在闪烁晶体前侧设有两个二号非球面反射镜，在二号非球面反射镜与一号折叠反射镜之间设有光阑。本发明专利技术相比其它的荧光显微成像系统，具有超大的观测范围、宽光谱范围及高分辨率等优点。围及高分辨率等优点。围及高分辨率等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统


[0001]本专利技术属于光学成像系统领域，具体涉及一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统。

技术介绍

[0002]X射线显微耦合光学成像系统主要应用于生命科学研究。研究过程中，用X光穿透生物组织样本后，经闪烁晶体激发荧光图像，显微耦合光学成像系统将微弱的荧光图像传输放大，至大面阵光电成像系统，接收后形成实时的生物组织活动图像以供科学研究。
[0003]目前的显微成像系统包含折射式、反射式和折反式三种结构形式，大多数为折射式光学系统。对于折射式光学系统，如美国专利US/11,002,950 B2，如果直接应用于X光系统，存在如下问题：（1）受大剂量X光照射，玻璃材料光学透过率严重下降，无法长时间工作，（2）如果在光学系统前方增加45
°
反射镜，将成像系统从X光中分离出来，则显微系统的数值孔径受尺寸限制，一般较小，进而会影响成像系统的分辨率，（3）折射式光学系统存在二级光谱色差，虽经过复消色差设计后，依然会残留少量的色差，严重影响成像系统的分辨率。<br/>[0004]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，其特征在于，沿着光轴由物侧至像侧依次包括前端的X光荧光采集器、中端的中继光学系统和后端的大靶面相机的保护窗（15），在X光荧光采集器和中继光学系统之间设有一号折叠反射镜（6），在中继光学系统与大靶面相机的保护窗（15）之间设有二号折叠反射镜（14）；所述X光荧光采集器为大数值孔径的折反结构，沿着光轴由物侧至像侧依次包括设置在闪烁晶体（A）后侧的铅玻璃（1）、一号双凹负透镜（2）、一号弯月正透镜（3）、一号非球面反射镜（4），在闪烁晶体（A）前侧设有两个二号非球面反射镜（5），在二号非球面反射镜（5）与一号折叠反射镜（6）之间设有光阑（B）。2.如权利要求1所述的一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，其特征在于，所述中继光学系统沿着光轴由物侧至像侧依次包括二号弯月正透镜（7）、三号弯月正透镜（8）、二号双凹负透镜（9）、双凸透镜（10）、三号双凹负透镜（11）、四号弯月正透镜（12）、四号双凹负透镜（13）。3.如权利要求1所述的一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，其特征在于，所述铅玻璃（1）、一号双凹负透镜（2）、一号弯月正透镜（3）沿光轴的厚度分别为5mm、6mm、8.2mm；一号双凹负透镜（2）的物侧面半径和像侧面半径分别为
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480~
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500mm、480~500mm，一号弯月正透镜（3）的物侧面半径和像侧面半径分别为75~80mm、5812mm；铅玻璃（1）与一号双凹负透镜（2）沿光轴间隔1mm；一号双凹负透镜（2）与一号弯月正透镜（3）沿光轴间隔1mm；一号弯月正透镜（3）与一号非球面反射镜（4）沿光轴间隔1mm。4.如权利要求1所述的一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，其特征在于，二号非球面反射镜（5）半径150~240mm，与光阑（B）沿光轴间隔61mm，与铅玻璃（1）沿光轴间隔72~78mm；光阑（B）与一号折叠反射镜（6）沿光轴间隔116mm；一号非球面反射镜（4）半径100~180mm。5.如权利要求2所述的一种折反式超大视场X射线显微耦合光学成像系统，其特征在于，一号折叠反射镜（6）与二号弯月正透镜（7）沿光轴间隔281mm，二号弯月正透镜（7）与三号弯月正透镜（8）沿光轴间隔44mm，...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐晓朝，黎刚，王艳萍，张月，
申请(专利权)人：中国科学院高能物理研究所，
类型：发明
国别省市：