一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统及方法，属于颗粒静电荷采样测定技术领域，用以解决现有技术中颗粒静电荷测定方法中采样和测定分步进行、采样操作会导致待测颗粒的静电荷发生变化影响测定的准确性的问题。该系统中，接触片盖设于颗粒腔前端的开口处且与颗粒腔电气连接，采样管的出样端与接触片电气连接且穿过接触片与颗粒腔连通，颗粒腔通过连接端子与电荷计的输入端电气连接，负压吸引装置通过软管与颗粒腔后端连通。该方法包括待测颗粒在负压吸引作用下通过采样管被吸入颗粒腔中；待测颗粒在采样管、接触片和颗粒腔中将电荷传导至电荷计，电荷计测定得到待测颗粒的电荷参数。本发明专利技术可用于颗粒静电荷采样和测定。样和测定。样和测定。

【技术实现步骤摘要】
一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统及方法


[0001]本专利技术属于颗粒静电荷采样测定
，尤其涉及一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统及方法。

技术介绍

[0002]在涉及粉末的工业生产过程中，由于粉末颗粒的摩擦带电特性，使得粉末颗粒常荷有较高的静电，粉末颗粒上的静电会导致颗粒粘结、壁面黏附甚至产生火花放电，不仅干扰正常生产，还会带来安全隐患。因此，粉末颗粒静电荷的测定技术对于研究颗粒荷电特性，进而改进生产设备和工艺流程具有重要意义。
[0003]目前，常用的颗粒静电荷的测定方法通常分为采样和测定两个步骤进行，由于静电荷性质不稳定，在采样过程中极易产生电荷改变，特别是采用金属器具(例如，采样勺)进行采样时，金属器具与颗粒接触会导致电荷逸散，从而影响最终测定的准确性。

技术实现思路

[0004]鉴于上述的分析，本专利技术旨在提供一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统及方法，用以解决现有技术中颗粒静电荷测定方法中采样和测定分步进行、采样操作会导致待测颗粒的静电荷发生变化影响测定的准确性的问题。
[0005]本专利技术的目的主要是通过以下技术方案实现的。
[0006]本专利技术提供了一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，包括采样装置、电荷计和负压吸引装置；采样装置包括采样管、接触片、连接端子和颗粒腔，采样管、接触片、连接端子和颗粒腔的材质均为导电材料；颗粒腔前端为开口，接触片盖设于颗粒腔前端的开口处且与颗粒腔电气连接，采样管的出样端与接触片电气连接且穿过接触片与颗粒腔连通，连接端子的一端与颗粒腔电气连接，连接端子的另一端与电荷计的输入端电气连接，负压吸引装置通过软管与颗粒腔后端连通。
[0007]进一步地，上述负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统还包括材质为导电材料的外壳以及材质为绝缘材料的外盖，外壳前端为开口，外盖盖设于外壳的开口处且与外壳固定连接；外盖上开设通孔，采样管的出样端依次穿过通孔和接触片后与颗粒腔连通，接触片固设于外盖的内侧，外壳后端与负压吸引装置连接。
[0008]进一步地，通孔与采样管相匹配。
[0009]进一步地，颗粒腔的后端为开口，使得颗粒腔与壳体连通。
[0010]进一步地，上述负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统还包括滤网，滤网盖设于颗粒腔后端的开口处且与颗粒腔后端固定连接，滤网的网孔孔径小于待测颗粒的粒径。
[0011]进一步地，连接端子包括从内至外依次套设的连接柱、绝缘层和接地层，接地层与连接柱和颗粒腔之间绝缘，连接柱与电荷计电气连接。
[0012]进一步地，连接柱通过连接线与电荷计电气连接。
[0013]进一步地，连接线包括从内至外依次套设的信号传输线、绝缘层和信号屏蔽网，信
号屏蔽网接地。
[0014]进一步地，电荷计的接地端通过外壳接地，连接端子的接地层通过外壳接地。
[0015]本专利技术还提供了一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定方法，采用上述负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，采样测定方法包括如下步骤：
[0016]待测颗粒在负压吸引作用下通过采样管被吸入颗粒腔中；
[0017]待测颗粒在采样管、接触片和颗粒腔中将电荷传导至电荷计，电荷计测定得到待测颗粒的电荷参数。
[0018]与现有技术相比，本专利技术至少可实现如下有益效果之一。
[0019]A)本专利技术提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，适用于颗粒静电荷参数(例如，颗粒电荷、荷质比、表面电荷密度和等效电流)的在线采样和测定，由于采样管直接与颗粒腔连接，采样管、接触片和颗粒腔构成一个导电腔，通过负压吸引装置使得颗粒腔处于负压状态，能够实现待测颗粒采样和测定的同步进行，避免采样和测定分步进行导致待测颗粒的静电荷发生变化，从而能够有效提高颗粒静电荷采样测定的准确性，为粉体工业、化学工业设备中颗粒的静电测定提供了新手段，为设备升级改进提供了参考。
[0020]B)本专利技术提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，由于采样管、接触片和颗粒腔均为导电材料，在待测颗粒接触采样管、接触片和颗粒腔的一瞬间就能够采集待测颗粒的静电荷参数，基本上不会有静电荷的损失，从而能够有效提高颗粒静电荷采样测定的准确性。
[0021]本专利技术中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过说明书实施例以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。
附图说明
[0022]附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本专利技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。
[0023]图1为本专利技术实施例一提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统的结构示意图；
[0024]图2为本专利技术实施例一提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统中采样装置的结构示意图；
[0025]图3为本专利技术实施例一提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统中采样管的结构示意图；
[0026]图4为本专利技术实施例一提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统中颗粒腔的结构示意图。
[0027]附图标记：
[0028]1‑
采样装置；101
‑
采样管；1011
‑
缩径段；1012
‑
恒径段；1013
‑
扩径段；1014
‑
弹性外凸区；102
‑
外盖；103
‑
接触片；104
‑
连接端子；105
‑
滤网；106
‑
颗粒腔；1061
‑
腔体导流槽；107
‑
外壳；2
‑
电荷计；3
‑
负压吸引装置。
具体实施方式
[0029]下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本专利技术的一部分，并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理，并非用于限定本专利技术的范围。
[0030]实施例一
[0031]本实施例提供了一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，参见图1至图2，包括采样装置1、电荷计2和负压吸引装置3，其中，采样装置1包括材质为导电材料的采样管101、接触片103、连接端子104和颗粒腔106，颗粒腔106前端为开口，接触片103盖设于颗粒腔106前端的开口处且与颗粒腔106电气连接，采样管101的出样端与接触片103电气连接且穿过接触片103与颗粒腔106连通，连接端子104的一端与颗粒腔106电气连接，连接端子104的另一端与电荷计2的输入端电气连接，负压吸引装置3通过软管与颗粒腔106后端连通。
[0032]需要说明的是，定义颗粒腔106设有采样管101的一端为前端，颗粒腔106与头部相对应的一端为后端。
[0033]与现有技术相比，本实施例提供的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，适用于颗本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，其特征在于，包括采样装置、电荷计和负压吸引装置；所述采样装置包括采样管、接触片、连接端子和颗粒腔，所述采样管、接触片、连接端子和颗粒腔的材质均为导电材料；所述颗粒腔前端为开口，所述接触片盖设于颗粒腔前端的开口处且与颗粒腔电气连接，所述采样管的出样端与接触片电气连接且穿过接触片与颗粒腔连通，所述连接端子的一端与颗粒腔电气连接，所述连接端子的另一端与电荷计的输入端电气连接，所述负压吸引装置通过软管与颗粒腔后端连通。2.根据权利要求1所述的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，其特征在于，还包括材质为导电材料的外壳以及材质为绝缘材料的外盖，所述外壳前端为开口，所述外盖盖设于外壳的开口处且与外壳固定连接；所述外盖上开设通孔，所述采样管的出样端依次穿过通孔和接触片后与颗粒腔连通，所述接触片固设于外盖的内侧，所述外壳后端与负压吸引装置连接。3.根据权利要求2所述的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，其特征在于，所述通孔与采样管相匹配。4.根据权利要求2所述的负压吸引式颗粒静电荷采样测定系统，其特征在于，所述颗粒腔的后端为开口，使得颗粒腔与壳体连通。5.根据权利要求4所述的负压吸引式颗粒静电...

【专利技术属性】
技术研发人员：段晨龙，陆俊宇，王维楠，乔金鹏，
申请(专利权)人：中国矿业大学，
类型：发明
国别省市：