用于去不均匀处理的方法、校准设备和显示驱动器技术

一种方法包括生成第一去不均匀数据，所述第一去不均匀数据包括用于显示面板的第一区域中的像素的第一校正量。第一区域具有第一像素密度。该方法还包括生成第二去不均匀数据，该第二去不均匀数据包括用于显示面板的第二区域中的像素的第二校正量。第二区域具有不同于第一像素密度的第二像素密度。所述方法还包括通过以第一因子修改所述第二校正量来生成修改的第二去不均匀数据。所述方法还包括压缩所述第一去不均匀数据和所述修改的第二去不均匀数据以生成压缩的去不均匀数据。所述方法还包括将所述压缩的去不均匀数据和指示所述第一因子的因子信息提供给显示驱动器。第一因子的因子信息提供给显示驱动器。第一因子的因子信息提供给显示驱动器。

【技术实现步骤摘要】
用于去不均匀处理的方法、校准设备和显示驱动器
[0001]相关申请的交叉引用本申请根据35 U.S.C.
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119(e)要求于2021年10月19日提交的名称为“DEMURA PROCESSING FOR A DISPLAY PANEL HAVING MULTIPLE REGIONS WITH DIFFERENT PIXEL DENSITIES（用于具有多个区域的显示面板的去不均匀处理，该多个区域具有不同像素密度）”的美国临时专利申请序列号63/257,549的优先权，该申请以其整体通过引用并入本文。


[0002]所公开的技术总体上涉及用于具有多个区域的显示面板的去不均匀（demura）处理，所述多个区域具有不同的像素密度。

技术介绍

[0003]诸如有机发光二极管（OLED）显示面板和液晶显示（LCD）面板之类的显示面板可能经历由制造工艺引起的像素特性的变化。像素特性的变化可能导致显示图像中的非均匀（non
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uniform）亮度，这通常被称为“不均匀（mura）”效应。不均匀效应可能不期望地劣化显示图像的图像质量。为了减轻不均匀效应，显示驱动器可以被配置为对图像数据应用去不均匀处理（也称为不均匀校正或不均匀补偿）以校正或补偿显示图像中的“不均匀”。

技术实现思路

[0004]提供本
技术实现思路
是为了以简化的形式介绍下面在具体实施方式中进一步描述的概念的选择。本
技术实现思路
不旨在标识所要求保护的主题的关键特征或必要特征，也不旨在限制所要求保护的主题的范围。
[0005]通常，在一个方面，一种用于去不均匀处理的方法包括生成第一去不均匀数据，所述第一去不均匀数据包括用于显示面板的第一区域中的像素的第一校正量。第一区域具有第一像素密度。该方法还包括生成包括用于显示面板的第二区域中的像素的第二校正量的第二去不均匀数据。第二区域具有不同于第一像素密度的第二像素密度。所述方法还包括通过以第一因子修改所述第二校正量来生成修改的第二去不均匀数据。所述方法还包括压缩所述第一去不均匀数据和所述修改的第二去不均匀数据以生成压缩的去不均匀数据。所述方法还包括将所述压缩的去不均匀数据和指示所述第一因子的因子信息提供给显示驱动器。
[0006]通常，在一个方面，校准设备包括处理单元和接口电路。所述处理单元被配置为生成第一去不均匀数据，所述第一去不均匀数据包括用于显示面板的第一区域中的像素的第一校正量。第一区域具有第一像素密度。所述处理单元还被配置为生成第二去不均匀数据，所述第二去不均匀数据包括用于所述显示面板的第二区域中的像素的第二校正量。第二区域具有不同于第一像素密度的第二像素密度。所述处理单元还被配置为通过以第一因子修改所述第二校正量来生成修改的第二去不均匀数据。所述处理单元还被配置为压缩所述第
一去不均匀数据和所述修改的第二去不均匀数据以生成压缩的去不均匀数据。所述接口电路被配置为向显示驱动器提供所述压缩的去不均匀数据和指示所述第一因子的因子信息。
[0007]通常，在一个方面，显示驱动器包括解压缩电路、修改电路和图像处理电路。解压缩电路被配置为对压缩的去不均匀数据进行解压缩，以生成用于显示面板的第一区域的第一解压缩的去不均匀数据和用于显示面板的第二区域的第二解压缩的去不均匀数据。第一区域具有第一像素密度，并且第二区域具有不同于第一像素密度的第二像素密度。所述修改电路被配置为通过以第二因子修改所述第二解压缩的去不均匀数据的校正量来生成修改的第二解压缩的去不均匀数据。所述图像处理电路被配置为使用所述第一解压缩的去不均匀数据和所述修改的第二解压缩的去不均匀数据来执行去不均匀处理。
[0008]根据以下描述和所附权利要求，实施例的其他方面将是显而易见的。
附图说明
[0009]为了以其可以详细地理解本公开的上述特征的方式，可以通过参考实施例来获得上面简要概述的本公开的更具体的描述，其中一些实施例在附图中示出。然而，应当注意，附图仅示出了示例性实施例，并因此不应被认为是对专利技术范围的限制，因为本公开可以准许其他同等有效的实施例。
[0010]图1示出了根据一个或多个实施例的显示模块的示例配置。
[0011]图2示出了根据一个或多个实施例的显示面板的示例配置。
[0012]图3示出了根据一个或多个实施例的显示面板的第一区域和第二区域的示例像素布置。
[0013]图4示出了根据一个或多个实施例的用于显示模块的示例去不均匀方法。
[0014]图5示出了根据一个或多个实施例的显示模块的示例配置。
[0015]图6示出了根据一个或多个实施例的校准设备的示例配置。
[0016]为了便于理解，在可能的情况下，已经使用相同的附图标记来指定为附图所共有的相同元件。可以预期，在一个实施例中公开的元件可以有益地用于其他实施例中，而无需具体叙述。后缀可以附接到附图标记，以用于将相同的元件彼此区分开。除非特别指出，否则本文提及的附图不应被理解为按比例绘制。此外，为了呈现和解释的清楚性，通常简化附图并且省略细节或部件。附图和讨论用于解释下面讨论的原理，其中相同的标号表示相同的元件。
具体实施方式
[0017]以下详细描述本质上仅是示例性的，并且不旨在限制所公开的技术或所公开的技术的应用和用途。此外，不意图受前述
、
技术介绍
或以下具体实施方式中呈现的任何明示或暗示的理论的约束。
[0018]在实施例的以下详细描述中，阐述了许多具体细节以便提供对所公开技术的更透彻理解。然而，对于本领域普通技术人员将显而易见的是，可以在没有这些具体细节的情况下实践所公开的技术。在其他情况下，尚未详细描述公知的特征，以避免不必要地使描述复杂化。
[0019]在整个申请中，序数（例如，第一、第二、第三等）可以用作元件（即，本申请中的任
何名词）的形容词。序数的使用不是暗示或创建元件的任何特定排序，也不是将任何元件限制为仅单个元件，除非明确公开，诸如通过使用术语“之前”、“之后”、“单个”和其他这样的术语。相反，序数的使用是为了区分元件。作为示例，第一元件与第二元件不同，并且第一元件可以包含多于一个元件并且在元件的排序中在第二元件之后（或之前）。
[0020]如所制造的显示面板可能遭受“不均匀”效应，其中在显示面板上出现不期望的非均匀亮度。由于制造工艺在显示面板上不完全均匀，因此像素特性可能取决于显示面板中的位置而变化。像素特性中的制造工艺变化可能导致不均匀效应。
[0021]减轻不均匀效应的一种方法是根据去不均匀数据（其也可以被称为去不均匀表）修改图像数据的去不均匀处理。去不均匀数据可以包括用于显示面板的各个像素的校正量，并且去不均匀处理可以根据校正量来修改图像数据。可以基于显示面板的不均匀信息来生成去不均匀数据。在一个实施方式中，可以基于一个或多个测试图像的显示面板的各个像素的测量亮度值来生成不均匀信息。
[0022]显示面板的分辨率的最近增加可能导致去不均匀数据的大小增加，从而需要提供大尺寸的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于去不均匀处理的方法，包括，生成第一去不均匀数据，所述第一去不均匀数据包括用于显示面板的第一区域中的像素的第一校正量，所述第一区域具有第一像素密度；生成第二去不均匀数据，所述第二去不均匀数据包括用于所述显示面板的第二区域中的像素的第二校正量，所述第二区域具有不同于所述第一像素密度的第二像素密度，通过以第一因子修改所述第二去不均匀数据的所述第二校正量来生成修改的第二去不均匀数据；压缩所述第一去不均匀数据和所述修改的第二去不均匀数据以生成压缩的去不均匀数据；以及将所述压缩的去不均匀数据和指示所述第一因子的因子信息提供给显示驱动器。2.根据权利要求1所述的方法，其中由所述第一去不均匀数据和所述修改的第二去不均匀数据组成的第一整个去不均匀数据中的数据值变化小于在所述修改之前由所述第一去不均匀数据和所述第二去不均匀数据组成的第二整个去不均匀数据中的数据值变化。3.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一因子基于所述第一区域中的所述像素的所述第一校正量的平均值与所述第二区域中的所述像素的所述第二校正量的平均值之间的比率。4.根据权利要求1所述的方法，其中所述第一因子基于所述第一像素密度与所述第二像素密度之间的比率。5.根据权利要求1所述的方法，其中以所述第一因子修改所述第二校正量包括将所述第二校正量乘以所述第一因子，其中所述第二像素密度低于所述第一像素密度，并且其中所述第一因子小于1。6.根据权利要求1所述的方法，还包括：操作所述第一区域中的所述像素中的至少一个以针对给定灰度级发出具有第一亮度的光，以及操作所述第二区域中的所述像素中的至少一个以针对所述给定灰度级发出具有第二亮度的光，所述第二亮度不同于所述第一亮度。7.根据权利要求1所述的方法，其中所述第二区域包括显示器下相机UDC区域，相机在所述显示器下相机UDC区域下方。8.根据权利要求1所述的方法，还包括：解压缩所述压缩的去不均匀数据以生成用于所述第一区域的第一解压缩的去不均匀数据和用于所述第二区域的第二解压缩的去不均匀数据，所述第二解压缩的去不均匀数据包括用于所述第二区域中的像素的第三校正量；通过以基于所述因子信息确定的第二因子修改所述第二解压缩的去不均匀数据的所述第三校正量来生成修改的第二解压缩的去不均匀数据；以及使用所述第一解压缩的去不均匀数据和所述修改的第二解压缩的去不均匀数据来执行去不均匀处理。9.根据权利要求8所述的方法，其中通过以所述第一因子修改所述第二校正量包括将所述第二去不均匀数据的所述第二校正量乘以所述第一因子，并且
其中以所述第二因子修改所述第二解压缩的去不均匀数据的所述第三校正量包括将所述第二解压缩的去不均匀数据的所述第三校正量乘以所述第二因子。10.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：青垣多俊，降旗弘史，能势崇，
申请(专利权)人：辛纳普蒂克斯公司，
类型：发明
国别省市：