集成电路块定位方法和采用该方法的集成电路块输送装置制造方法及图纸

一种用于定位一集成电路块的方法，该方法所用的装置包括： 集成电路块被安装在其上表面上的一个矩形工作台； 一包围所述工作台的定位壁件，所述的定位壁件具有两对内表面，其每一对彼此相对，各对内表面的下部形成垂直面并对应于集成电路块的外边共同分开一定距离，各对内表面的上部形成其距离向上渐渐增大的斜面；以及 一具有弹性件的定位机构，用于弹性地支承所述定位壁件以使定位壁件相对于工作台的上表面垂向地运动， 所述的方法包括以下步骤： 通过位于所述定位机构之上的推动装置克服所述弹性件的弹力将定位壁件向下推动，以便当将集成电路块安装在工作台上时使工作台的上表面对应于所述内表面的上部；以及 在将集成电路块安装到工作台上表面后通过所述弹性件的弹力使定位壁件向上运动以便通过所述斜面校正集成电路块的水平偏离并通过所述垂直面将集成电路块定位。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种合适地应用于集成电路块检验装置的半导体集成电路块的定位方法，以及采用所述方法的集成电路块输送装置。
技术介绍
下面首先将说明一个现有的集成电路块输送装置的基本结构。如附图说明图12所示，在所述的集成电路块输送装置50中，已经存放在集成电路块供给容器52中的一块集成电路块被供入一集成电路块检验装置54的一个插座56中以完成在常温时和高温时的各种检测。集成电路块输送装置50将经检验的集成电路块自动地分选并供入集成电路块分选容器58中。集成电路块通过传送装置60和62分别从所述的容器52传送给插座56以及从插座56传送给容器58。顺便提及，目前集成电路块集成程度较高以便具有高功能，因此它们有许多的引线。这样集成电路块的引线间距就变得越来越细微。由于具有小间距的引线，在插座56中的集成电路块就必须用高的定位精度供给。为了将集成电路块精确地供入插座56中，已知有一种利用图象处理技术的方法，它包括两个步骤用一个摄像机拍摄传送装置和由它固定的一块集成电路块的图象以及处理它们的图象数据以将集成电路块供入插座中。但是图象处理设备贵并且处理图象数据的时间长因而用于检验一块集成电路块的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤正人，
申请(专利权)人：株式会社信浓电子，
类型：发明
国别省市：