本发明专利技术涉及测试箱级联技术领域，且公开了一种测试箱级联的装置和方法，包括外壳体，所述外壳体的底部固定安装有支撑脚，所述外壳体的正面设置有柜门，所述外壳体的内部固定安装有测试机，所述外壳体的背部设置有接头固定机构，所述外壳体的底部与柜门的正面设置有散热通风机构。该测试箱级联的装置和方法，通过螺帽向外侧拉动拉动杆，使拉动杆通过滑动块向外侧拉动连接杆，连接杆带动卡接块向外侧移动，并使滑动块压缩复位弹簧，再将计算机的接头体插入到信号端口中，随后松开螺帽，通过复位弹簧的弹力使滑动块带动卡接块插入到接头体的卡接槽中，使接头体固定在信号端口中，从而防止在使用过程中接头体发生脱落的情况。止在使用过程中接头体发生脱落的情况。止在使用过程中接头体发生脱落的情况。
【技术实现步骤摘要】
一种测试箱级联的装置和方法
[0001]本专利技术涉及测试箱级联
，具体为一种测试箱级联的装置和方法。
技术介绍
[0002]测试箱是指用于对电子设备进行检测的仪器，而级联可以定义为两台或两台以上的交换机通过一定的方式相互连接,根据需要,多台交换机可以以多种方式进行级联。通过级联使多台测试箱可以进行连接使用。
[0003]现有技术中，所使用的测试箱在使用过程中，计算机的接头直接插接在测试箱的端口上，无法对接头进行有效的固定，从而使得在使用过程中接头容易发生脱落，从而使得测试中断的情况，其次现有的测试箱在使用过程中，散热效果较差，使得箱内的温度较高，从而影响测试箱的正常运行，并且在ATE测试中，由于测试通道数的需求，通常需要多个测试箱级联来满足测试端口数的需求，级联时需要确保通信信号的带宽和同步信号同步性能，因此需要专利技术出一种测试箱级联的装置和方法来解决上述问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种测试箱级联的装置和方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种测试箱级联的装置和方法，包括外壳体，所述外壳体的底部固定安装有支撑脚，所述外壳体的正面设置有柜门，所述外壳体的内部固定安装有测试机，所述外壳体的背部设置有接头固定机构，所述外壳体的底部与柜门的正面设置有散热通风机构。
[0006]所述接头固定机构包括接头组件、固定组件与卡接组件，所述接头组件设置在外壳体背端的内部，所述卡接组件设置在固定组件的内部。
[0007]优选的，所述接头组件包括信号端口，所述信号端口设置在外壳体的背部，所述信号端口与测试机之间固定安装有数据线，所述信号端口的内部插接有接头体，便于使接头体与测试机进行连接。
[0008]优选的，所述固定组件包括固定框，所述固定框固定安装在外壳体的背部，所述固定框的外侧设置有端盖，所述端盖与固定框之间设置有第一螺栓，所述端盖与第一螺栓的对应位置处开设有通孔，所述固定框与第一螺栓的对应位置处开设有螺纹孔，且所述第一螺栓穿过通孔螺纹安装在螺纹孔中，便于使固定框固定安装。
[0009]优选的，所述卡接组件包括滑动块，所述滑动块滑动安装在固定框的内部，所述滑动块的内侧固定安装有连接杆，所述固定框的内部固定安装有限位杆，所述滑动块的外侧固定安装有拉动杆，所述拉动杆远离滑动块的一端螺纹安装有螺帽，所述端盖与滑动块之间固定安装有复位弹簧，所述连接杆远离滑动块的一端固定安装有卡接块，便于对接头体进行限位固定。
[0010]优选的，所述滑动块与限位杆的对应位置处开设有通孔，且所述限位杆穿过通孔，
所述固定框的内侧与连接杆的对应位置处开设有通孔，且所述连接杆穿过通孔，所述端盖与拉动杆的对应位置处开设有通孔，且所述拉动杆穿过通孔，便于使滑动块限位滑动。
[0011]优选的，所述接头体与卡接块的对应位置处开设有卡接槽，且所述卡接块插接在卡接槽的内部，所述卡接块的外形结构为梯形结构，便于使卡接块固定接头体。
[0012]优选的，所述散热通风机构包括排气管，所述排气管固定安装在外壳体的顶部，所述排气管的内部固定安装有安装架，所述安装架的内部固定安装有电机，所述电机的输出端固定安装有散热扇，所述柜门的内部开设有进气孔，所述柜门的正面固定安装有安装框，所述安装框的内部插接有连接框，所述连接框的内部固定安装有过滤网，所述连接框与安装框之间设置有第二螺栓，所述安装框与第二螺栓的对应位置处开设有通孔，且所述连接框与第二螺栓的对应位置处开设有螺纹孔，且所述第二螺栓穿过通孔螺纹安装在螺纹孔中，便于对设备内部进行散热通风。
[0013]优选的，所述测试机的内部设置有PCle交换模块、同步信号产生模块、同步信号路由模块、测试功能模块，所述PCle交换模块与测试功能模块之间信号连接，所述测试功能模块与同步信号路由模块之间信号连接，所述同步信号路由模块与同步信号产生模块之间信号连接。
[0014]一种测试箱级联装置使用方法，包括以下步骤：
[0015]S1、通过螺帽向外侧拉动拉动杆，使拉动杆通过滑动块向外侧拉动连接杆，连接杆带动卡接块向外侧移动，并使滑动块压缩复位弹簧，再将计算机的接头体插入到信号端口中，随后松开螺帽，通过复位弹簧的弹力使滑动块带动卡接块插入到接头体的卡接槽中，使接头体固定在信号端口中。
[0016]S2、通过安装架上的电机驱动散热扇进行转动，使散热扇将外壳体内部的热空气排出，同时通过连接框上的过滤网将外部空气过滤后，吸入到外壳体的内部，通过将第二螺栓取出，使连接框与安装框进行分离，从而对连接框上的过滤网进行清洁。
[0017]S3、通过将一组PCIe信号输入到PCIe交换模块中，输出N+1组PCIe信号，其中N≥2，输出的N+1组PCIe信号分别连接N个测试功能模块，通过同步信号产生模块，产生系统同步所需的触发信号和时钟信号，同步信号分别发送给同步信号路由模块，通过将一组同步信号输入到同步信号路由模块中，输出N组同步信号。
[0018]与现有技术相比，本专利技术提供了一种测试箱级联的装置和方法，具备以下有益效果：
[0019]1、该测试箱级联的装置和方法，通过螺帽向外侧拉动拉动杆，使拉动杆通过滑动块向外侧拉动连接杆，连接杆带动卡接块向外侧移动，并使滑动块压缩复位弹簧，再将计算机的接头体插入到信号端口中，随后松开螺帽，通过复位弹簧的弹力使滑动块带动卡接块插入到接头体的卡接槽中，使接头体固定在信号端口中，从而防止在使用过程中接头体发生脱落的情况。
[0020]2、该测试箱级联的装置和方法，通过安装架上的电机驱动散热扇进行转动，使散热扇将外壳体内部的热空气排出，同时通过连接框上的过滤网将外部空气过滤后，吸入到外壳体的内部，通过将第二螺栓取出，使连接框与安装框进行分离，从而对连接框上的过滤网进行清洁，从而达到了便于对设备进行快速散热的效果。
[0021]3、该测试箱级联的装置和方法，通过将一组PCIe信号输入到PCIe交换模块中，输
出N+1(N≥2)组PCIe信号，输出的N+1组PCIe信号分别连接N个测试功能模块，通过同步信号产生模块，产生系统同步所需的触发信号和时钟信号，同步信号分别发送给同步信号路由模块，通过将一组同步信号输入到同步信号路由模块中，输出N组同步信号，从而达到了通过通信信号和同步信号的扩展，提高测试机的测试接口数量。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图：
[0023]图1为本专利技术正面结构示意图；
[0024]图2为本专利技术左视结构剖视示意图；
[0025]图3为本专利技术局部结构剖视示意图；
[0026]图4为本专利技术图3中A处结构放大示意图；
[0027本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试箱级联装置，包括外壳体(1)，其特征在于：所述外壳体(1)的底部固定安装有支撑脚(2)，所述外壳体(1)的正面设置有柜门(3)，所述外壳体(1)的内部固定安装有测试机(4)，所述外壳体(1)的背部设置有接头固定机构(5)，所述外壳体(1)的底部与柜门(3)的正面设置有散热通风机构(6)；所述接头固定机构(5)包括接头组件(51)、固定组件(52)与卡接组件(53)，所述接头组件(51)设置在外壳体(1)背端的内部，所述卡接组件(53)设置在固定组件(52)的内部。2.根据权利要求1所述的一种测试箱级联装置，其特征在于：所述接头组件(51)包括信号端口(511)，所述信号端口(511)设置在外壳体(1)的背部，所述信号端口(511)与测试机(4)之间固定安装有数据线(512)，所述信号端口(511)的内部插接有接头体(513)。3.根据权利要求2所述的一种测试箱级联装置，其特征在于：所述固定组件(52)包括固定框(521)，所述固定框(521)固定安装在外壳体(1)的背部，所述固定框(521)的外侧设置有端盖(522)，所述端盖(522)与固定框(521)之间设置有第一螺栓(523)，所述端盖(522)与第一螺栓(523)的对应位置处开设有通孔，所述固定框(521)与第一螺栓(523)的对应位置处开设有螺纹孔，且所述第一螺栓(523)穿过通孔螺纹安装在螺纹孔中。4.根据权利要求3所述的一种测试箱级联装置，其特征在于：所述卡接组件(53)包括滑动块(531)，所述滑动块(531)滑动安装在固定框(521)的内部，所述滑动块(531)的内侧固定安装有连接杆(532)，所述固定框(521)的内部固定安装有限位杆(533)，所述滑动块(531)的外侧固定安装有拉动杆(534)，所述拉动杆(534)远离滑动块(531)的一端螺纹安装有螺帽(536)，所述端盖(522)与滑动块(531)之间固定安装有复位弹簧(535)，所述连接杆(532)远离滑动块(531)的一端固定安装有卡接块(537)。5.根据权利要求4所述的一种测试箱级联装置，其特征在于：所述滑动块(531)与限位杆(533)的对应位置处开设有通孔，且所述限位杆(533)穿过通孔，所述固定框(521)的内侧与连接杆(532)的对应位置处开设有通孔，且所述连接杆(532)穿过通孔，所述端盖(522)与拉动杆(534)的对应位置处开设有通孔，且所述拉动杆(534)穿过通孔。6.根据权利要求4所述的一种测试箱级联装置，其特征在于：所述接头体(513)与卡接块(537)的对应位置处开设有卡接槽，且所述卡接块(537)插接在卡接槽的内部，所述卡接块(537)的外形结构为梯形结构。...
【专利技术属性】
技术研发人员：张九六，胡建仁，
申请(专利权)人：杭州国磊半导体设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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