涂胶检测方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种涂胶检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，该方法包括：获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据；基于至少一帧点云数据，创建与待涂胶对象相对应的三维模型，并确定于三维模型上的目标涂胶轨迹，以控制涂胶操作装置按照目标涂胶轨迹对待涂胶对象进行涂胶操作；当检测到至少一个已涂胶点时，基于目标涂胶轨迹，确定与各已涂胶点相对应的目标待涂胶轨迹点，并基于各已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，以基于涂胶偏差信息调整涂胶操作装置。本实施例的技术方案，实现了基于至少两种扫描装置对涂胶轨迹进行精准定位的效果，并且，实现了基于至少两种扫描装置对涂胶效果进行精准检测的效果。效果。效果。

【技术实现步骤摘要】
涂胶检测方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及机械制造
，尤其涉及一种涂胶检测方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在机械制造业，普遍需要对设备进行涂胶操作。例如，在汽车制造业，密封胶已成为汽车生产所必需的一类重要辅助材料，且应用越来越广泛。但是，在涂胶操作过程中，涂胶过量，会造成密封胶的浪费；涂胶不足，会造成器件密封性不好，发生泄露。因此，涂胶过程，不但包括涂胶，还需要检测涂胶是否合格。
[0003]现有的涂胶检测过程为：在没有涂胶前采集待涂胶器件的全局图像，并在涂胶完成后再采集该待涂胶器件的全局图像，通过对这两张全局图像进行检测，实现对胶线粗细或者漏涂的检测过程。
[0004]然而，由于上述涂胶检测过程中采集的是关于待涂胶部件的全局图像，这样会导致：在胶线过长或者涂胶线路不规则的情况下，涂胶检测精度较低。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种涂胶检测方法、装置、电子设备及存储介质，以实现基于至少两种扫描装置对涂胶轨迹进行精准定位的效果，并且，实现了在涂胶过程中，基于至少两种扫描装置对涂胶效果进行精准检测的效果，提高了检测精度，同时，提高了检测效率和检测稳定性。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种涂胶检测方法，该方法包括：
[0007]获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据；其中，所述至少一帧点云数据是由至少两组点云数据集融合得到的，每组点云数据集是基于不同的扫描装置对所述待涂胶对象进行扫描后确定的；
[0008]基于所述至少一帧点云数据，创建与所述待涂胶对象相对应的三维模型，并确定于所述三维模型上的目标涂胶轨迹，以控制涂胶操作装置按照所述目标涂胶轨迹对所述待涂胶对象进行涂胶操作；
[0009]当检测到至少一个已涂胶点时，基于所述目标涂胶轨迹，确定与各所述已涂胶点相对应的目标待涂胶轨迹点，并基于各所述已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，以基于所述涂胶偏差信息调整所述涂胶操作装置。
[0010]根据本专利技术的另一方面，提供了一种涂胶检测装置，该装置包括：
[0011]点云数据获取模块，用于获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据；其中，所述至少一帧点云数据是由至少两组点云数据集融合得到的，每组点云数据集是基于不同的扫描装置对所述待涂胶对象进行扫描后确定的；
[0012]三维模型创建模块，基于所述至少一帧点云数据，创建与所述待涂胶对象相对应的三维模型，并确定于所述三维模型上的目标涂胶轨迹，以控制涂胶操作装置按照所述目
标涂胶轨迹对所述待涂胶对象进行涂胶操作；
[0013]涂胶偏差信息确定模块，用于当检测到至少一个已涂胶点时，基于所述目标涂胶轨迹，确定与各所述已涂胶点相对应的目标待涂胶轨迹点，并基于各所述已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，以基于所述涂胶偏差信息调整所述涂胶操作装置。
[0014]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0015]至少一个处理器；以及
[0016]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0017]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例所述的涂胶检测方法。
[0018]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例所述的涂胶检测方法。
[0019]本专利技术实施例的技术方案，通过获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据，进一步的，基于至少一帧点云数据，创建与待涂胶对象相对应的三维模型，并确定于三维模型上的目标涂胶轨迹，以控制涂胶操作装置按照目标涂胶轨迹对所述待涂胶对象进行涂胶操作，最后，当检测到至少一个已涂胶点时，基于目标涂胶轨迹，确定与各已涂胶点相对应的目标待涂胶轨迹点，并基于各已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，以基于涂胶偏差信息调整所述涂胶操作装置，解决了现有技术中所出现的在胶线过长或者涂胶线路不规则的情况下，涂胶检测精度较低等问题，实现了基于至少两种扫描装置对涂胶轨迹进行精准定位的效果，并且，实现了在涂胶过程中，基于至少两种扫描装置对涂胶效果进行精准检测的效果，提高了检测精度，同时，提高了检测效率和检测稳定性。
[0020]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种涂胶检测方法的流程图；
[0023]图2是根据本专利技术实施例二提供的一种涂胶检测装置的结构示意图；
[0024]图3是实现本专利技术实施例的涂胶检测方法的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人
员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0026]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]实施例一
[0028]图1是本专利技术实施例一提供的一种涂胶检测方法的流程图，本实施例可适用于在涂胶操作之前，基于与待涂胶对象相对应的点云数据，确定目标涂胶轨迹，并在涂胶过程中，对已涂胶点进行涂胶检测的情况，该方法可以由涂胶检测装置来执行，该涂胶检测装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，该涂胶检测装置可配置于终端和/或服务器中。如图1所示，该方法包括：
[0029]S110、获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据。
[0030]在本实施例中，待涂胶对象可以为需要进行涂胶操作的任意器件。示例性的，待涂胶对象可以为汽车中的发动机缸体、缸盖或变速箱。本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种涂胶检测方法，其特征在于，包括：获取与待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据；其中，所述至少一帧点云数据是由至少两组点云数据集融合得到的，每组点云数据集是基于不同的扫描装置对所述待涂胶对象进行扫描后确定的；基于所述至少一帧点云数据，创建与所述待涂胶对象相对应的三维模型，并确定于所述三维模型上的目标涂胶轨迹，以控制涂胶操作装置按照所述目标涂胶轨迹对所述待涂胶对象进行涂胶操作；当检测到至少一个已涂胶点时，基于所述目标涂胶轨迹，确定与各所述已涂胶点相对应的目标待涂胶轨迹点，并基于各所述已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，以基于所述涂胶偏差信息调整所述涂胶操作装置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：基于第一扫描装置对所述待涂胶对象进行扫描，得到与所述待涂胶对象相对应的第一待处理点云数据集；以及，基于第二扫描装置对所述待涂胶对象进行扫描，得到与所述待涂胶对象相对应的第二待处理点云数据集；基于滤波对所述第一待处理点云数据集和所述第二待处理点云数据集进行融合，得到与所述待涂胶对象相对应的至少一帧点云数据。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述至少一帧点云数据，确定与所述待涂胶对象相对应的三维模型，包括：基于预先训练完成的三维重建模型对所述至少一帧点云数据进行处理，得到与所述待涂胶对象相对应的三维重建矩阵；基于所述三维重建矩阵，确定所述三维模型。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定于所述三维模型上的目标涂胶轨迹，包括：确定于所述三维模型上的至少一个初始待涂胶轨迹点；对于各所述初始待涂胶轨迹点，确定与当前初始待涂胶轨迹点相对应的实际待涂胶轨迹点，并分别获取与所述当前初始待涂胶轨迹点相对应的初始点云数据和与所述实际待涂胶轨迹点相对应的实际点云数据，并基于预先点云配准算法对所述初始点云数据和所述实际点云数据进行配准操作，确定目标待涂胶轨迹点；其中，所述实际待涂胶轨迹点与所述待涂胶对象相对应；基于各所述目标待涂胶轨迹点，确定所述目标涂胶轨迹。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于各所述已涂胶点和相应的目标待涂胶轨迹点，确定涂胶偏差信息，包括：对于各所述已涂胶点，确定与当前已涂胶点相对应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘大猛，李宁，王荣国，房远志，
申请(专利权)人：清华大学天津高端装备研究院清华大学，
类型：发明
国别省市：