一种扫描处理方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本公开实施例涉及一种扫描处理方法、装置、设备及介质，其中该方法包括：在对目标物体进行跟踪扫描的过程中实时检测扫描头的状态信息，基于扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据，在扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件切换至拼接扫描模式，在拼接扫描模式下基于扫描头获取拼接扫描测量数据，继续实时检测扫描头的状态信息满足预设的数据转换条件下，将拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据，基于第一跟踪仪扫描测量数据和第二跟踪仪扫描测量数据，得到目标物体的目标跟踪仪扫描测量数据。采用上述技术方案，在跟踪扫描过程中存在遮挡时不需要进行转栈就可以完成被测物的完整测量，保障扫描测量精度的同时节约成本、提高扫描处理效率。提高扫描处理效率。提高扫描处理效率。

【技术实现步骤摘要】
一种扫描处理方法、装置、设备及介质


[0001]本公开涉及跟踪扫描
，尤其涉及一种扫描处理方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]通常，通过跟踪仪对扫描头进行实时跟踪定位从而完成被测物形貌的完整测量，该方式在出现遮挡情况时不能够完成被测物背面的扫描测量，若要完整测量需要进行转栈(移动跟踪仪到下一个位置)，操作繁琐。
[0003]因此，跟踪扫描设备在跟踪扫描过程中出现扫描头被遮挡情况时，如果不进行转栈，则无法完整测量，若进行转栈，需要耗费更多成本和时间，且不能保证扫描测量精度。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种扫描处理方法、装置、设备及介质。
[0005]本公开实施例提供了一种扫描处理方法，所述方法包括：
[0006]在对目标物体进行跟踪扫描的过程中，实时检测扫描头的状态信息，并基于所述扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据；
[0007]在所述扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件下，切换至拼接扫描模式，并在所述拼接扫描模式下，基于所述扫描头获取拼接扫描测量数据；
[0008]继续实时检测所述扫描头的状态信息，在所述扫描头的状态信息满足预设的数据转换条件下，将所述拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据；
[0009]基于所述第一跟踪仪扫描测量数据和所述第二跟踪仪扫描测量数据，得到所述目标物体的目标跟踪仪扫描测量数据。
[0010]本公开实施例还提供了一种扫描处理装置，所述装置包括：
[0011]实时检测模块，用于在对目标物体进行跟踪扫描的过程中，实时检测扫描头的状态信息；
[0012]第一获取模块，用于基于所述扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据；
[0013]切换模块，用于在所述扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件下，切换至拼接扫描模式；
[0014]第二获取模块，用于在所述拼接扫描模式下，基于所述扫描头获取拼接扫描测量数据；
[0015]所述实时检测模块，还用于继续实时检测所述扫描头的状态信息；
[0016]转换模块，用于在所述扫描头的状态信息满足预设的数据转换条件下，将所述拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据；
[0017]处理模块，用于基于所述第一跟踪仪扫描测量数据和所述第二跟踪仪扫描测量数据，得到所述目标物体的目标跟踪仪扫描测量数据。
[0018]本公开实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括：处理器；用于存储所述
处理器可执行指令的存储器；所述处理器，用于从所述存储器中读取所述可执行指令，并执行所述指令以实现如本公开实施例提供的扫描处理方法。
[0019]本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序用于执行如本公开实施例提供的扫描处理方法。
[0020]本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：本公开实施例提供的扫描处理方案，在对目标物体进行跟踪扫描的过程中实时检测扫描头的状态信息，并基于扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据，在扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件切换至拼接扫描模式，在拼接扫描模式下基于扫描头获取拼接扫描测量数据，继续实时检测扫描头的状态信息，在扫描头的状态信息满足预设的数据转换条件下，将拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据，基于第一跟踪仪扫描测量数据和第二跟踪仪扫描测量数据，得到目标物体的目标跟踪仪扫描测量数据。采用上述技术方案，在跟踪扫描过程中存在遮挡时不需要进行转栈就可以完成被测物的完整测量，保障扫描测量精度的同时节约成本、提高扫描处理效率。
附图说明
[0021]结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，原件和元素不一定按照比例绘制。
[0022]图1为本公开实施例提供的一种扫描处理方法的流程示意图；
[0023]图2为本公开实施例提供的另一种扫描处理方法的流程示意图；
[0024]图3为本公开实施例提供的一种扫描处理装置的结构示意图；
[0025]图4为本公开实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0026]下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。
[0027]应当理解，本公开的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本公开的范围在此方面不受限制。
[0028]本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。
[0029]需要注意，本公开中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。
[0030]需要注意，本公开中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。
[0031]本公开实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。
[0032]具体地，跟踪式扫描测量系统在测量过程中需要将被测物体放置于跟踪仪的有效视场内，在实时扫描测量的过程中，跟踪仪需要实时的检测到扫描头连接的标志点框架，从而实现实时检测扫描头的位姿，从而将每一帧扫描头的扫描数据统一到参考坐标系(跟踪仪坐标系)下，若要实现对大尺寸被测物体的完整扫描测量，需要在被测物体上粘贴反光标志点，跟踪仪预先拍摄粘贴在被测物体上的标志点框架信息，当需要移动跟踪仪时进行转栈操作，将坐标系统一到被测物体上的标志点框架坐标上，从而实现大尺寸工件的完整测量。
[0033]然而，当需要完整测量大尺寸工件时，需要跟踪仪提前对被测物体表面上的标志点进行框架点拍摄，拍摄框架的过程需要人工移动跟踪仪至不同的位置和姿态，并且需要拍摄足够的数量以保障框架的稳定性和精度，有些位置可能因空间比较狭小不能将跟踪仪移动到对应的位置继续跟踪扫描。
[0034]本公开实施例提出的扫描处理方法，通过将跟踪的定位信息与扫描头的自定位信息在公共区域进行自动拼接，让两个数据可以实时的自动拼接在一个坐标系下，实现在跟踪扫描过程中存在遮挡时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种扫描处理方法，其特征在于，包括：在对目标物体进行跟踪扫描的过程中，实时检测扫描头的状态信息，并基于所述扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据；在所述扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件下，切换至拼接扫描模式，并在所述拼接扫描模式下，基于所述扫描头获取拼接扫描测量数据；继续实时检测所述扫描头的状态信息，在所述扫描头的状态信息满足预设的数据转换条件下，将所述拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据；基于所述第一跟踪仪扫描测量数据和所述第二跟踪仪扫描测量数据，得到所述目标物体的目标跟踪仪扫描测量数据。2.根据权利要求1所述的扫描处理方法，其特征在于，所述基于所述扫描头获取第一跟踪仪扫描测量数据，包括：基于所述扫描头获取当前位置的当前第一扫描测量数据；获取扫描头坐标系转换到跟踪仪坐标系的第一旋转矩阵和第一平移向量；基于所述当前第一扫描测量数据、所述第一旋转矩阵和所述第一平移向量进行计算，得到所述第一跟踪仪扫描测量数据。3.根据权利要求1所述的扫描处理方法，其特征在于，所述基于所述扫描头获取拼接扫描测量数据，包括：基于所述扫描头获取当前位置的当前第二扫描测量数据；获取所述扫描头在当前位置坐标系转换到扫描头初始位置坐标系的第二旋转矩阵和第二平移向量；基于所述当前第二扫描测量数据、所述第二旋转矩阵和所述第二平移向量进行计算，得到所述拼接扫描测量数据。4.根据权利要求1所述的扫描处理方法，其特征在于，所述将所述拼接扫描测量数据转换成第二跟踪仪扫描测量数据，包括：获取所述扫描头在初始位置坐标系转换到跟踪仪坐标系的第三旋转矩阵和第三平移向量；基于所述拼接扫描测量数据、所述第三旋转矩阵和所述第三平移向量进行计算，得到所述第二跟踪仪扫描测量数据。5.根据权利要求1所述的扫描处理方法，其特征在于，所述在所述扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件下，切换至拼接扫描模式，包括：基于所述扫描头的状态信息确定跟踪仪未检测到所述扫描头，确定所述扫描头的状态信息满足预设的模式切换条件，切换至所述拼接扫描模式。6.根据权利要求1所述的扫描处理方法，其特征在于，所述继续实时检测所述扫描头的状态信息，确定...

【专利技术属性】
技术研发人员：李洲强，李仁举，梁保秋，李仲平，
申请(专利权)人：杭州天远三维检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：