芯片测试方法、芯片、设备及存储介质技术

本申请提供一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质，属于芯片测试领域该方法包括：获取芯片测试指令，根据芯片测试指令多次向运行的芯片的各核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各核的多个运算结果；根据各核的多个运算结果，从多次输入的midstate字段和随机数中确定各核的目标midstate字段和黄金随机数；获取芯片的测试条件，测试条件包括测试电压和测试时钟；基于测试电压和测试时钟运行所述芯片，并根据各核对应的目标midstate字段和黄金随机数，对芯片进行测试，极大地提高了芯片的测试效率和准确性。片的测试效率和准确性。片的测试效率和准确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试方法、芯片、设备及存储介质


[0001]本申请涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]数字货币一般是虚拟加密的，且为对等网络(Peer to Peer，P2P)，例如比特币。数字货币的独特之处在于，它一般不依靠特定货币机构发行，而是依据特定算法通过大量运算来产生。例如，比特币交易使用整个P2P网络中众多节点构成的分布式数据库来确认并记录所有的交易行为，并使用密码学设计来确保安全性。
[0003]使用例如数字货币挖矿机等的数据处理设备可以进行数字货币挖矿，其核心是根据挖矿机的运算能力来获得奖励，也就是说，数据处理设备是工作量证明(proof of power，POW)型的。对于数据处理设备而言，芯片的算力和功耗是决定其性能的至关重要的因素。
[0004]现有的asicboost条件下进行芯片测试的过程中，生成一个黄金随机数(golden nonce)所对应的运行只能产生一个中间状态(midstate)字段，在芯片测试过程中，芯片的版本号对应运行所需的midstate字段是多个时，则需要伪造多个midstate字段以达到芯片运行所需的midstate字段，导致芯片测试时间长和效率低。
[0005]因此，如何提高芯片的测试效率和准确性是目前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0006]本申请的主要目的在于提供一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质，旨在提高芯片的测试效率和准确性。
[0007]第一方面，本申请提供一种芯片测试方法，应用于待测试的芯片，所述芯片包括多个核，所述芯片测试方法包括以下步骤：
[0008]获取芯片测试指令，根据所述芯片测试指令多次向运行的所述芯片的各所述核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各所述核的多个运算结果；
[0009]根据各所述核的多个运算结果，从多次输入的所述midstate字段和随机数中确定各所述核的目标midstate字段和黄金随机数；
[0010]获取所述芯片的测试条件，所述测试条件包括测试电压和测试时钟；
[0011]基于所述测试电压和测试时钟运行所述芯片，并根据各所述核对应的所述目标midstate字段和所述黄金随机数，对所述芯片进行测试。
[0012]第二方面，本申请还提供一种芯片，所述芯片包括处理器、存储器、以及存储在所述存储器上并可被所述处理器执行的计算机程序，其中所述计算机程序被所述处理器执行时，实现如上述的芯片测试方法的步骤。
[0013]第三方面，本申请还提供一种计算机设备，所述计算机设备包括如上所述芯片，所述芯片实现如上芯片测试方法的步骤。
[0014]第四方面，本申请还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现如上述的芯片测试方法的步骤。
[0015]本申请提供一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质，本申请通过获取芯片测试指令，根据芯片测试指令多次向运行的芯片的各核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各核的多个运算结果；然后根据各核的多个运算结果，从多次输入的midstate字段和随机数中确定各核的目标midstate字段和黄金随机数；之后获取芯片的包括测试电压和测试时钟的测试条件；并基于测试电压和测试时钟运行所述芯片，根据各核对应的目标midstate字段和黄金随机数，对芯片进行测试。本方案先确定待测试的芯片的目标midstate字段和黄金随机数，并根据各核对应的目标midstate字段和黄金随机数，对芯片进行测试，极大地提高了芯片的测试效率和准确性。
附图说明
[0016]为了更清楚地说明本申请实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0017]图1为本申请实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图；
[0018]图2为本申请实施例提供的一种芯片的结构示意图；
[0019]图3为本申请实施例提供的一种区块头的结构示意图；
[0020]图4为图1中的芯片测试方法的子步骤流程示意图；
[0021]图5为本申请实施例提供的一种芯片的结构示意性框图；
[0022]图6为本申请实施例提供的一种计算机设备的结构示意性框图。
[0023]本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
[0024]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]附图中所示的流程图仅是示例说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解、组合或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
[0026]本申请实施例提供一种芯片测试方法、芯片、设备及存储介质。其中，该芯片测试方法可应用于芯片中，该芯片包括但不限于中央处理器(central processing unit，CPU)芯片、存储芯片和数字多媒体芯片等，该CPU芯片包括但不限于CPU和显卡等。例如，在该芯片为显卡的情况下，显卡包括多个核，获取显卡测试指令，根据显卡测试指令多次向运行的显卡的各核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各核的多个运算结果；根据各核的多个运算结果，从多次输入的midstate字段和随机数中确定各核的目标midstate字段和黄金随机数；获取显卡的测试条件，该测试条件包括测试电压和测试时钟；基于测试电压和测
试时钟运行该显卡，并根据各核对应的目标midstate字段和黄金随机数，对显卡进行测试，极大地提高了显卡的测试效率和准确性。
[0027]下面结合附图，对本申请的一些实施方式作详细说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0028]请参照图1，图1为本申请的实施例提供的一种芯片测试方法的流程示意图。
[0029]如图1所示，该芯片测试方法包括步骤S101至步骤S104。
[0030]步骤S101、获取芯片测试指令，根据所述芯片测试指令多次向运行的所述芯片的各所述核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各所述核的多个运算结果。
[0031]其中，该芯片包括多个核(core)，该芯片所包括核的数量与核的种类可以根据实际情况进行设置，本申请实施例对此不做具体限定。例如，如图2所示，芯片200包括核A211、核B212、核C213、核D221、核E222、核F223、核G231、核H232、核J233、核K241、核M242和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试方法，其特征在于，应用于待测试的芯片，所述芯片包括多个核，所述方法包括：获取芯片测试指令，根据所述芯片测试指令多次向运行的所述芯片的各所述核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各所述核的多个运算结果；根据各所述核的多个运算结果，从多次输入的所述midstate字段和随机数中确定各所述核的目标midstate字段和黄金随机数；获取所述芯片的测试条件，所述测试条件包括测试电压和测试时钟；基于所述测试电压和测试时钟运行所述芯片，并根据各所述核对应的所述目标midstate字段和所述黄金随机数，对所述芯片进行测试。2.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述根据所述芯片测试指令多次向运行的所述芯片的各所述核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各所述核的多个运算结果，包括：根据所述芯片测试指令获取预设安全散列算法；基于所述预设安全散列算法，多次向各所述核输入midstate字段和随机数进行运算，得到各所述核的多个运算结果。3.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，获取根据各所述核的多个运算结果，从多次输入的所述midstate字段和随机数中确定各所述核的目标midstate字段和黄金随机数，包括：确定各所述核是否存在符合预设要求的运算结果；当所述核存在符合预设要求的运算结果，将符合预设要求的运算结果对应的所述midstate字段和随机数，确定为所述核的目标midstate字段和黄金随机数。4.如权利要求1所述的芯片测试方法，其特征在于，所述基于所述测试电压和测试时钟运行所述芯片，并根据各所述核对应的所述目标midstate字段和所述黄金随机数，对所述芯片进行测试，包括：基于所述测试电压和测试时钟运行所述芯片，并将各所述目标midstate字段输入至匹配的所述核中运算，生成各所述目标midstate字段对应的随机数；根据各所述目标midstate字段对应的随机数和所述黄金随机数，确定所述芯片...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨光吉，刘发明，刘敏，王文海，李颖海，
申请(专利权)人：北京比特大陆科技有限公司，
类型：发明
国别省市：