一种IPT端子密封测试夹持装置制造方法及图纸

技术编号:37311728 阅读:11 留言:0更新日期:2023-04-21 22:54
一种IPT端子密封测试夹持装置,包括承载基板、固定夹持块和活动测试块;所述承载基板为平面板状结构;所述固定夹持块固定设置于所述承载基板上,所述固定夹持块上设置有用于嵌套IPT端子的夹持凹陷部;所述活动测试块上设置有密封测试套筒和密封测试组件,所述密封测试套筒和所述密封测试组件相连通,所述活动测试块活动设置于所述承载基板上,所述活动测试块带动所述密封测试套筒靠近或者远离所述固定夹持块,所述密封测试组件外接密封测试仪器。将密封测试套筒和待测试的IPT端子分别设置在活动测试块和固定夹持块上后,通过控制活动测试块靠近固定夹持块而使得IPT端子准确牢固地套入密封测试套筒内,具有结构简单和操作方便等优点。方便等优点。方便等优点。

【技术实现步骤摘要】
一种IPT端子密封测试夹持装置


[0001]本技术涉及电子设备制造
,涉及一种测试设备,尤其涉及一种操作方便的IPT端子密封测试夹持装置。

技术介绍

[0002]从结构上看,通讯线缆包括线缆本体和连接端子,连接端子设置于线缆本体的其中两端或者其中一端。线缆本体的作用在于进行信号传输,而连接端子的作用则在于实现通讯线缆和系统之间的相连对接,进而将信号通过通讯线缆传入系统。IPT端子即屏蔽环形端子,一般用于需要满足特殊用途要求的线缆上。除了连接功能外,IPT端子还具有屏蔽功能,能够更好隔绝外界干部,确保信号的稳定传输。
[0003]密封性能是IPT端子的基本性能要求之一。在生产过程中,需要对IPT端子进行密封性能测试,以保证后续的正常使用。密封性能测试具体过程为:把密封测试套筒与密封测试仪器相连后,将IPT端子套接在密封测试套筒内,在IPT端子套接和密封测试套筒之间制造密封空间,再基于密封测试仪器即可对IPT端子的密封性能进行检测,并直接反馈检测结果。现有技术中,如何将IPT端子套接牢固稳定地安装在密封测试套筒内是一个难题,操作人员需要两手分别握持IPT端子和密封测试套筒,将IPT端子套入密封测试套筒内后,再施加持续且稳定的推力,才能完成安装。业界亟待解决这一安装难的问题。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题在于,针对现有技术的上述缺陷,提供一种IPT端子密封测试夹持装置,能够IPT端子套接牢固稳定地安装在密封测试套筒内,具有结构简单和操作方便等优点。
[0005]本技术解决技术问题所采用的技术方案如下:
[0006]一种IPT端子密封测试夹持装置,包括:
[0007]承载基板,所述承载基板为平面板状结构;
[0008]固定夹持块,所述固定夹持块固定设置于所述承载基板上,所述固定夹持块上设置有用于嵌套IPT端子的夹持凹陷部;
[0009]活动测试块,所述活动测试块上设置有密封测试套筒和密封测试组件,所述密封测试套筒和所述密封测试组件相连通,所述活动测试块活动设置于所述承载基板上,所述活动测试块带动所述密封测试套筒靠近或者远离所述固定夹持块,所述密封测试组件外接密封测试仪器。
[0010]与现有技术相比,本技术方案的有益效果是:将密封测试套筒和待测试的IPT端子分别设置在活动测试块和固定夹持块上后,通过控制活动测试块靠近固定夹持块而使得IPT端子准确且牢固地套入密封测试套筒内,具有结构简单和操作方便等优点。
[0011]进一步地,所述承载基板上固定设置有第一承载块和第二承载块,所述承载基板上还固定设置有第一滑动轨道和第二滑动轨道,所述活动测试块活动设置于所述第一滑动
轨道和所述第二滑动轨道上;
[0012]所述第一滑动轨道的两端分别固定在所述固定夹持块的一侧和所述第一承载块上,所述第二滑动轨道的两端分别固定在所述固定夹持块的另一侧和所述第二承载块上,所述第一滑动轨道和所述第二滑动轨道相互平行。
[0013]采用上述方案的有益效果是:通过固定夹持块的两侧和第一承载块、第二承载块将第一滑动轨道和第二滑动轨道固定架设在承载基板上,基于第一滑动轨道和第二滑动轨道,能够方便地控制活动测试块靠近或者远离固定夹持块。
[0014]进一步地,所述承载基板上设置有第一固位凹陷部、第二固位凹陷部和第三固位凹陷部;所述固定夹持块嵌套入所述第一固位凹陷部内后固定设置于所述承载基板上,所述第一承载块和所述第二承载块分别嵌套入所述第二固位凹陷部和所述第三固位凹陷部后固定设置于所述承载基板上。
[0015]采用上述方案的有益效果是:通过设置有第一固位凹陷部、第二固位凹陷部和第三固位凹陷部,一方面能够更加牢固地将固定夹持块、第一承载块和第二承载块安装在承载基板上,另一方面还可以保证在多次使用后固定夹持块、第一承载块和第二承载块仍不会发生移位。
[0016]进一步地,所述第一滑动轨道和所述第二滑动轨道为不锈钢杆状结构。
[0017]采用上述方案的有益效果是:采用不锈钢杆状结构作为第一滑动轨道和第二滑动轨道,使得第一滑动轨道和第二滑动轨道具有制作简单、强度高、不易变形等优点。
[0018]进一步地,所述固定夹持块、所述第一承载块和所述第二承载块通过螺栓固定设置于所述承载基板上。
[0019]采用上述方案的有益效果是:通过螺栓穿过固定夹持块、第一承载块和第二承载块后分别将上述组件固定在承载基板上,具有结构简单和固定效果好等优点。
[0020]进一步地,所述夹持凹陷部在一边侧壁上设置有第一嵌套槽和第二嵌套槽,所述夹持凹陷部在另一边侧壁上设置有第三嵌套槽和第四嵌套槽;所述第一嵌套槽和所述第三嵌套槽相对设置,所述第二嵌套槽和所述第四嵌套槽相对设置;
[0021]所述第一嵌套槽、所述第二嵌套槽、所述第三嵌套槽和所述第四嵌套槽的内部形状与所述IPT端子的外部轮廓相匹配。
[0022]采用上述方案的有益效果是:设置有第一嵌套槽、第二嵌套槽、第三嵌套槽和第四嵌套槽,且使得上述组件的内部形状与所述IPT端子的外部轮廓相匹配,能够保证IPT端子的固定效果。
[0023]进一步地,所述活动测试块上开设有一方形连接凹陷部;
[0024]所述密封测试套筒包括套筒本体和方形底板,所述方形底板固定设置于所述套筒本体的其中一端,所述套筒本体通过所述方形底板嵌套入所述方形连接凹陷部而固定设置于所述活动测试块上。
[0025]采用上述方案的有益效果是:通过方形底板和方形连接凹陷部的相互套接,使得密封测试套筒能像更加牢固地安装在活动测试块上,保证在经过多次拨插后密封测试套筒仍不会出现移位,有效提升本装置的可靠性。
[0026]进一步地,所述密封测试套筒设置于所述活动测试块上靠近所述固定夹持块的一侧,所述密封测试组件设置于所述活动测试块上远离所述固定夹持块的一侧。
[0027]采用上述方案的有益效果是:将密封测试套筒和密封测试组件分别设置于活动测试块的两侧,更加便于进行操作。
[0028]进一步地,所述承载基板、所述固定夹持块和所述活动测试块为一体成型结构。
[0029]采用上述方案的有益效果是:采用一体成型结构,使得承载基板、固定夹持块和活动测试块具有生产方便的优点。
[0030]进一步地,所述承载基板、所述固定夹持块和所述活动测试块为铝合金结构或者电木结构。
[0031]采用上述方案的有益效果是:采用铝合金结构或者电木结构作为承载基板、固定夹持块和活动测试块,能够提升本装置的结构强度。
附图说明
[0032]图1是本技术IPT端子密封测试夹持装置的整体示意图。
[0033]图2是本技术IPT端子密封测试夹持装置的分解示意图。
[0034]图3是本技术IPT端子密封测试夹持装置中承载基板的示意图。
[0035]图4是本技术IPT端子密封测试夹持装置中固定夹持块的示意图。
[0036]图本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种IPT端子密封测试夹持装置,其特征在于,包括:承载基板,所述承载基板为平面板状结构;固定夹持块,所述固定夹持块固定设置于所述承载基板上,所述固定夹持块上设置有用于嵌套IPT端子的夹持凹陷部;活动测试块,所述活动测试块上设置有密封测试套筒和密封测试组件,所述密封测试套筒和所述密封测试组件相连通,所述活动测试块活动设置于所述承载基板上,所述活动测试块带动所述密封测试套筒靠近或者远离所述固定夹持块,所述密封测试组件外接密封测试仪器。2.根据权利要求1所述的一种IPT端子密封测试夹持装置,其特征在于,所述承载基板上固定设置有第一承载块和第二承载块,所述承载基板上还固定设置有第一滑动轨道和第二滑动轨道,所述活动测试块活动设置于所述第一滑动轨道和所述第二滑动轨道上;所述第一滑动轨道的两端分别固定在所述固定夹持块的一侧和所述第一承载块上,所述第二滑动轨道的两端分别固定在所述固定夹持块的另一侧和所述第二承载块上,所述第一滑动轨道和所述第二滑动轨道相互平行。3.根据权利要求2所述的一种IPT端子密封测试夹持装置,其特征在于,所述承载基板上设置有第一固位凹陷部、第二固位凹陷部和第三固位凹陷部;所述固定夹持块嵌套入所述第一固位凹陷部内后固定设置于所述承载基板上,所述第一承载块和所述第二承载块分别嵌套入所述第二固位凹陷部和所述第三固位凹陷部后固定设置于所述承载基板上。4.根据权利要求2所述的一种IPT端子密封测试夹持装置,其特征在于,所述第一滑动轨道和所述第二滑动轨道为不锈钢杆状结构。5.根据权利要求3所述的一种IPT...

【专利技术属性】
技术研发人员:韦全彩戴诗火
申请(专利权)人:深圳壹连科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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