一种低压智能开关现场校准方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种低压智能开关现场校准方法，包括以下步骤：启动搜表，启动广播对时，通过拓扑识别获取下端设备，同步冻结待校准低压智能开关和各下端设备，抄读上一次冻结的电压、电流、有功功率、无功功率，进行各相电压增益、电流增益、角差校准，等待一个冻结间隔后进行各相功率校准。与现有技术相比，采用本发明专利技术公开的方法能够扩大现场校表的适用范围，并能提高现场校表的精度。提高现场校表的精度。提高现场校表的精度。

【技术实现步骤摘要】
一种低压智能开关现场校准方法及系统


[0001]本专利技术涉及电力配电
，尤其涉及一种低压智能开关现场校准方法及系统。

技术介绍

[0002]在中低压配电网中广泛使用各种低压智能开关设备，为便于计算各个电力分支线路精益线损等功能，通常各设备支持电量计量功能，但如需要使用电量计量功能，该电力设备往往需要在生产时使用专用校表台体通过标准源对其进行校准。由于设备出厂现场安装运行后可能存在各种异常，如校表参数丢失、升级版本不匹配、设备部分可插拔硬件模块更换等情况，可能导致低压智能开关设备采集显示的数据与实际值存在较大偏差。
[0003]要解决上述问题，通常的做法是将设备拆除后重新返厂进行校准或者直接使用新设备进行替换，该方法存在的问题是需要停电安装，频繁停电易造成用电客户投诉，返厂后需要重新使用校表台体进行校准，持续时间长且维护及更新成本较高。
[0004]公告号为CN109856587B的专利文献提供一种电力终端现场一键校表的方法，当待校准电力终端与电能表处于同一线路上时，满足校表条件，首先对待校准电力终端的三相电压和电流进行校表；判断校表是否合格；对待校准电力终端的三相功率进行校表；判断校表是否合格，根据公式计算得到的相位增益值分别对所述待校准电力终端的三相相位进行校表；校表完成进行断电重启。该专利提供了一种现场校表的方法，将电能表作为标准源，有效解决对专业校表设备的依赖。该方法存在的问题是：(1)待校准设备下面必须接有电能表，且限制只能接入一只电能表，并以该电能表作为标准源进行校准，当待校准设备下存在多个分支的电能表时不能进行校准。(2)通过485或者红外通信方式抄读相应电压、电流及功率，由于电压、电流及功率均为瞬时变量，其值是瞬时波动的，因抄读待校准设备和电能表存在一定的时间差，故待校准设备和电能表两者抄读的数据为非同一时刻的电压、电流及功率，以此数据对待校准设备进行校准将存在一定程度的误差。

技术实现思路

[0005]本专利技术要解决的技术问题是，提供一种对中低压配电网已安装的低压智能开关进行不断电现场校准的方法及系统。
[0006]为解决上述技术问题，本专利技术提供一种低压智能开关现场校准方法，包括以下步骤：
[0007]S1，待校准低压智能开关启动搜表；
[0008]S2，若搜表结束且搜表个数>＝1则执行步骤S3，否则退出；
[0009]S3，待校准低压智能开关启动广播对时；
[0010]S4，通过拓扑识别获取待校准低压智能开关各相下端接入的下端设备，所述下端设备为具有电能计量功能的电气设备；
[0011]S5，同步冻结待校准低压智能开关和各下端设备；
[0012]S6，抄读上一次冻结的待校准低压智能开关和各下端设备的电压、电流、有功功率、无功功率；
[0013]S7，对待校准低压智能开关进行各相电压增益、各相电流增益校准；
[0014]S8，对待校准低压智能开关进行各相角差校准；
[0015]S9，等待一个冻结间隔后读取最近一次冻结的待校准低压智能开关和各下端设备的有功功率；
[0016]S10，对待校准低压智能开关进行各相功率校准。
[0017]步骤S4中通过拓扑识别获取待校准低压智能开关各相下端接入的下端设备的步骤如下：
[0018]S41，待校准低压智能开关间隔固定时间依次给通过搜表所获取的下端设备下发拓扑触发命令；
[0019]S42，各下端设备顺次触发拓扑发送命令；
[0020]S43，待校准低压智能开关依次识别各下端设备对应的发送信号，并记录其对应的相别。
[0021]步骤S5中所述同步冻结待校准低压智能开关和各下端设备的冻结间隔为5分钟，并且冻结关联对象包括电压、电流、有功功率及无功功率。
[0022]步骤S7中，各相电压增益为：
[0023]A相电压增益UAgain＝((UA1+UA2+...+UAx)/x)/UA0，
[0024]B相电压增益UBgain＝((UB1+UB2+...+UBx)/y)/UB0，
[0025]C相电压增益UCgain＝((UC1+UC2+...+UCz)/z)/UC0，
[0026]其中，UA1、UA2、...、UAx为A相各下端设备上一次冻结的电压，x为A相下端设备总数，UB1、UB2、...、UBy为B相各下端设备上一次冻结的电压，y为B相下端设备总数，UC1、UC2、...、UCz为C相各下端设备上一次冻结的电压，z为C相下端设备总数，UA0、UB0、UC0分别为待校准的低压智能开关上一次冻结的A、B、C相电压；
[0027]各相电流增益为：
[0028]A相电流增益IAgain＝(IA1+IA2+...+IAx)/IA0，
[0029]B相电流增益IBgain＝(IB1+IB2+...+IBy)/IB0，
[0030]C相电流增益ICgain＝(IC1+IC2+...+ICz)/IC0，
[0031]其中，IA1、IA2、...、IAx为A相各下端设备上一次冻结的电流，x为A相下端设备总数，IB1、IB2、...、IBy为B相各下端设备上一次冻结的电流，y为B相下端设备总数，IC1、IC2、...、ICz为C相各下端设备上一次冻结的电流，z为C相下端设备总数，IA0、IB0、IC0分别为待校准的低压智能开关上一次冻结的A、B、C相电流。
[0032]步骤S8对待校准低压智能开关进行各相角差校准中，各相角差为：
[0033]A相角差θ
A
＝(PAreal*QA0
‑
PA0*QAreal)/(PA0*QA0+PAreal*QAreal)，
[0034]B相角差θ
B
＝(PBreal*QB0
‑
PB0*QBreal)/(PB0*QB0+PBreal*QBreal)，
[0035]C相角差θ
C
＝(PCreal*QC0
‑
PC0*QCreal)/(PC0*QC0+PCreal*QCreal)，
[0036]其中，
[0037]PAreal＝PA1+PA2+...+PAx，
[0038]QAreal＝QA1+QA2+...+QAx，
[0039]PBreal＝PB1+PB2+...+PBy，
[0040]QBreal＝QB1+QB2+...+QBy，
[0041]PCreal＝PC1+PC2+...+PCz，
[0042]QCreal＝QC1+QC2+...+QCz，
[0043]其中，PA1、PA2、...、PAx，PB1、PB2、...、PBy，PC1、PC2、...、PCz分别为A、B、C相各下端设备上一次冻结的有功功率，QA1、QA2、...、QAx，QB1、QB2、...、QBy，QC1、QC2、...、QCz分别为A、B、C相各下端设备上一次本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低压智能开关现场校准方法，其特征在于，包括以下步骤：S1，待校准低压智能开关启动搜表；S2，若搜表结束且搜表个数>＝1则执行步骤S3，否则退出；S3，待校准低压智能开关启动广播对时；S4，通过拓扑识别获取待校准低压智能开关各相下端接入的下端设备，所述下端设备为具有电能计量功能的电气设备；S5，同步冻结待校准低压智能开关和各下端设备；S6，抄读上一次冻结的待校准低压智能开关和各下端设备的电压、电流、有功功率、无功功率；S7，对待校准低压智能开关进行各相电压增益、各相电流增益校准；S8，对待校准低压智能开关进行各相角差校准；S9，等待一个冻结间隔后读取最近一次冻结的待校准低压智能开关和各下端设备的有功功率；S10，对待校准低压智能开关进行各相功率校准。2.根据权利要求1所述低压智能开关现场校准方法，其特征在于，步骤S4中通过拓扑识别获取待校准低压智能开关各相下端接入的下端设备的步骤如下：S41，待校准低压智能开关依次给通过搜表所获取的下端设备下发拓扑触发命令；S42，各下端设备顺次触发拓扑发送命令；S43，待校准低压智能开关依次识别各下端设备对应的发送信号，并记录其对应的相别。3.根据权利要求2所述低压智能开关现场校准方法，其特征在于，步骤S41中，待校准低压智能开关间隔固定时间依次给通过搜表所获取的下端设备下发拓扑触发命令。4.根据权利要求1所述低压智能开关现场校准方法，其特征在于，步骤S5中所述同步冻结待校准低压智能开关和各下端设备的冻结间隔为5分钟，并且冻结关联对象包括电压、电流、有功功率及无功功率。5.根据权利要求1所述低压智能开关现场校准方法，其特征在于，步骤S7中，各相电压增益为：A相电压增益UAgain＝((UA1+UA2+...+UAx)/x)/UA0，B相电压增益UBgain＝((UB1+UB2+...+UBx)/y)/UB0，C相电压增益UCgain＝((UC1+UC2+...+UCz)/z)/UC0，其中，UA1、UA2、...、UAx为A相各下端设备上一次冻结的电压，x为A相下端设备总数，UB1、UB2、...、UBy为B相各下端设备上一次冻结的电压，y为B相下端设备总数，UC1、UC2、...、UCz为C相各下端设备上一次冻结的电压，z为C相下端设备总数，UA0、UB0、UC0分别为待校准的低压智能开关上一次冻结的A、B、C相电压；各相电流增益为：A相电流增益IAgain＝(IA1+IA2+...+IAx)/IA0，B相电流增益IBgain＝(IB1+IB2+...+IBy)/IB0，C相电流增益ICgain＝(IC1+IC2+...+ICz)/IC0，其中，IA1、IA2、...、IAx为A相各下端设备上一次冻结的电流，x为A相下端设备总数，
IB1、IB2、...、IBy为B相各下端设备上一次冻结的电流，y为B相下端设备总数，IC1、IC2、...、ICz为C相各下端设备上一次冻结的电流，z为C相下端设备总数，IA0、IB0、IC0分别为待校准的低压智能开关上一次冻结的A、B、C相电流。6.根据权利要求1所述低压智能开关现场校准方法，其特征在于，步骤S8对待校准低压智能开关进行各相角...

【专利技术属性】
技术研发人员：李智敏，
申请(专利权)人：威胜信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：