一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法、系统、介质及终端技术方案

技术编号:37299740 阅读:24 留言:0更新日期:2023-04-21 22:45
本发明专利技术属于GIS设备仿真技术领域,公开了一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法、系统、介质及终端,通过对GIS实际形状进行分解,选中其中最典型的部分T型转角GIS使用Tracepro软件进行建模;然后在T形GIS模型里设置探测面和局部放电源;在Tracepro里进行仿真,得到各探测面上的总光通量分布图,代入公式计算得到光辐射度。通过建立对应探测位置的辐照度值与局部放电源位置的函数关系,当得到探测器位置的辐照度,就能够反向计算出局部放电源的位置。本发明专利技术的关键优势在于,通过仿真来模拟实际局部放电并进行光检测,节约了检测成本和检测时间,并且能通过反向计算对局部放电位置实现定位。位。位。

【技术实现步骤摘要】
一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法、系统、介质及终端


[0001]本专利技术属于GIS设备仿真
,尤其涉及一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法。

技术介绍

[0002]GIS是电力系统中关键的设备,在世界范围内已经获得了广泛应用,具有占地面积小、易于安装、可靠性高的优点。但其在安装运行的过程中难以避免会产生一些细微的缺陷,如金属微粒等,长时间的运行可能会导致局部放电,降低设备的绝缘能力,缩短运行寿命,若不及时采取检修措施可能会带来事故。
[0003]实际的GIS设备运行环境复杂,电磁干扰强,局部放电发生时会产生一些物理量,如超声、光信号、电磁波等,由此发展出了局部放电检测技术。光学法作为非电量的检测方法,具有抗电磁干扰能力强、信号传输损耗小的优点,有不可替代的优势,因此将其应用在GIS内的局部放电检测具有非常广泛的应用前景。随着光纤、光电转换技术的进步,光学法的灵敏度大大提高,出现了荧光光纤传感器、光纤超声传感器等,目前已有研究将其应用在GIS内的局部放电检测,但依然处在试验的阶段。
[0004]通过上述分析,现有技本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法,其特征在于,在Tracepro软件中建立T形GIS模型,并利用了T形GIS内光信号的传播特性,以及当局部放电源在GIS内不同位置、不同角度时,探测面上的总光通量分布图;根据总光通量图计算出对应探测位置的光辐照度,通过光辐照度值绘制不同距离,不同角度的辐照度曲线,然后根据曲线构建二次函数及三次函数模型,建立局部放电源位置与光辐照度的二次函数及三次函数关系,为局部放电探测提供定位的方法。2.如权利要求1所述的一种GIS局部放电光检测及定位仿真方法,其特征在于,包括:步骤一,对GIS实际形状进行分解,选中其中最典型的部分T型转角GIS使用Tracepro软件进行建模;步骤二,在T形GIS模型里设置探测面;步骤三,在T形GIS模型里设置局部放电源;步骤四,在Tracepro里进行仿真,得到各探测面上的总光通量分布图。根据总光通量图计算出对应探测位置的光辐照度,建立局部放电源与光辐照度的数学函数关系。3.如权利要求2所述的GIS局部放电光检测及定位仿真方法,其特征在于,步骤一中,对于本实验对建立的GIS模型,是根据GIS实际形状进行分解,选中其中最典型的部分T型转角GIS。GIS三端均开口,包括GIS外壳和内导杆,以及局部放电光源和各探测面。根据实际情况,需要在GIS内填充绝缘气体SF6。4.如权利要求2所述的GIS局部放电光检测及定位仿真方法,其特征在于,步骤二中,对GIS内进行探测面设置。其中探测面是垂直于腔体内壁和内导体的圆环形表面;探测面采用完全透射体模型,对于局部放电源发出的光线不产生任何的吸收或折反射。5.如权利要求2所述的GIS局部放电光检测及定位仿真方法,其特征在于,步骤三中,对GIS中放电源位置进行设置。距离GIS右端口1m处与A探测面平行的平面设置放电源;放电源的位置就在这个平面内,通过移动放电源来观测各探测面光通量情况。6.如权利要求2所述的GIS局部放电光检测及定位...

【专利技术属性】
技术研发人员:毕闯陈敏钟其水白金平
申请(专利权)人:电子科技大学长三角研究院湖州
类型:发明
国别省市:

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