【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
【技术保护点】
一种测定解剖结构中应力的方法,所述方法包括: 从解剖图像数据中,基于具有第一范围内硬度的所述结构,测定在所述结构中多个位置处的各自第一应力值; 测定多个第一所述位置,在所述位置处所述解剖结构的硬度在不同于所述第一范围的第二范围内;以及 测定在不同于所述各第一位置的多个第二所述位置处的各自第二应力值,所述各自第二应力值表示考虑到在至少一个所述第一位置处具有所述第二范围内硬度的所述解剖结构所校正的各自所述第一应力值。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员:M布雷沃,S德帕特,
申请(专利权)人:皇家飞利浦电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:NL[荷兰]
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