一种可调节雷达物位计制造技术

本实用新型专利技术公开了雷达物位计领域的一种可调节雷达物位计，包括雷达物位计本体，雷达物位计本体包括物位计探头，物位计探头位于雷达物位计本体下表面的中部并与雷达物位计本体之间相转动连接，雷达物位计本体下表面的边缘部分固定有安装盘，安装盘下表面位于物位计探头的外侧固定有呈竖直状态的固定筒，固定筒一侧的上部固定有贯穿固定筒的引风筒，引风筒内安装有引风机，引风筒内环面远离物位计探头的一端固定有多孔网板，在使用的过程中，能够对物位计探头外侧的粉尘进行清理，避免物位计探头的外侧粘附粉尘影响雷达物位计本体及物位计探头的使用，有助于正常的对雷达物位计本体及物位计探头进行使用。体及物位计探头进行使用。体及物位计探头进行使用。

【技术实现步骤摘要】
一种可调节雷达物位计


[0001]本技术涉及雷达物位计领域，具体是一种可调节雷达物位计。

技术介绍

[0002]雷达物位计采用微波脉冲的测量方法，并可在工业频率波段范围内正常，波束能量低，可安装于各种金属、非金属容器或管道内，对液体、浆料及颗粒料的物位进行非接触式连续测量。
[0003]雷达物位计适用于粉尘、温度、压力变化大，有惰性气体及蒸汽存在的场合，雷达物位计对人体及环境均无伤害，还具有不受介质比重的影响，不受介电常数变化的影响，不需要现场校调等优点，对颗粒物进行物位检测的过程中，颗粒物会产生一定的粉尘，对雷达物位计使用时粉尘易粘附在雷达物位计探头处，现有的雷达物位计在使用的过程中，不能够对雷达物位计探头处的粉尘进行清理，雷达物位计探头上粘附粉尘会影响雷达物位计探头的使用，会影响正常的对雷达物位计进行使用。
[0004]因此，我们提出了一种可调节雷达物位计。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供一种可调节雷达物位计，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006]为实现上述目的，本技术提供如下技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可调节雷达物位计，包括雷达物位计本体(1)，其特征在于：所述雷达物位计本体(1)包括物位计探头(7)，物位计探头(7)位于雷达物位计本体(1)下表面的中部并与雷达物位计本体(1)之间相转动连接，雷达物位计本体(1)下表面的边缘部分固定有安装盘(2)，安装盘(2)下表面位于物位计探头(7)的外侧固定有呈竖直状态的固定筒(3)，固定筒(3)一侧的上部固定有贯穿固定筒(3)的引风筒(4)，引风筒(4)内安装有引风机(5)，引风筒(4)内环面远离物位计探头(7)的一端固定有多孔网板(6)。2.根据权利要求1所述的一种可调节雷达物位计，其特征在于：所述安装盘(2)的中部开设有第一留置槽(14)，第一留置槽(14)贯穿安装盘(2)的上下表面，安装盘(2)内环面位于第一留置槽(14)的两侧均固定有固定块(8)。3.根据权利要求2所述的一种可调节雷达物位计，其特征在于：所述固定块(8)相对面的中部之间共同转动连接有齿轮(9)，安装盘(2)下表面内侧的两侧均固定有固定板(12)，固定板(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李富强，蒋境森，耿八一，
申请(专利权)人：天津恒立远大仪表股份有限公司，
类型：新型
国别省市：