用于显示装置的检查设备和检查方法制造方法及图纸

本申请提供了用于显示装置的检查设备和用于显示装置的检查方法。检查设备包括将光供给到显示装置的表面的光供应器、定位在显示装置与光供应器之间的检查图案部、测量从显示装置的表面反射的反射光的测量部和处理由测量部测量的反射光的数据的处理器，其中处理器包括包含有校准数据的校准数据部和使用校准数据部的校准数据来校准数据的校准器。据部的校准数据来校准数据的校准器。据部的校准数据来校准数据的校准器。

【技术实现步骤摘要】
用于显示装置的检查设备和检查方法
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2021年10月14日提交到韩国知识产权局的第10
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2021
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0136554号韩国专利申请的优先权以及权益，该韩国专利申请的全部内容通过引用并入本文中。


[0003]本公开涉及用于显示装置的检查设备和检查方法。

技术介绍

[0004]在制造显示装置之后，可能需要检查显示装置。
[0005]显示装置的检查步骤可包括检查从外部入射的光在可由用户在视觉上识别的显示装置的表面上是否畸变。
[0006]在显示装置内部可形成有诸如用于形成信号线的层、用于形成晶体管的层以及发射层的多个层，层的数量或层的厚度可根据其位置而不同，并且在包括具有不同数量和厚度的层的区上可形成有用于平坦化的层。相应地，在显示装置的外表面的平坦化层上实际上测量的表面质量检查结果可能由于内部层的数量和厚度的差异而不同于用户能够实际上从外部在视觉上识别的光的畸变结果。
[0007]在本
技术介绍
部分中公开的以上信息仅用于增本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于显示装置的检查设备，包括：光供应器，所述光供应器将光供给到所述显示装置的表面；检查图案部，所述检查图案部位于所述显示装置与所述光供应器之间；测量部，所述测量部测量从所述显示装置的所述表面反射的反射光；以及处理部，所述处理部处理由所述测量部测量的所述反射光的数据，其中，所述处理部包括：校准数据部，所述校准数据部包括校准数据；以及校准器，所述校准器通过使用所述校准数据部的所述校准数据来校准所述数据。2.根据权利要求1所述的检查设备，其中，与所述显示装置的所述表面垂直的第一方向和与所述检查图案部的表面垂直的第二方向彼此形成角度。3.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述角度在0度至45度的范围内。4.根据权利要求3所述的检查设备，其中，所述角度在0度至30度的范围内。5.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述检查图案部包括：多个阻光部，所述多个阻光部排列成具有间隔；以及透光部，所述透光部定位在所述多个阻光部中的两个相邻阻光部之间。6.根据权利要求5所述的检查设备，其中，所述多个阻光部中的所述两个相邻阻光部之间的距离根据所述两个相邻阻光部的位置而不同。7.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述检查图案部包括在平面视图中具有均一形状并且以有规律的间隔布置的多个透光部。8.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述测量部包括检测所述反射光的相机。9.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述处理部包括算法程序。10.根据权利要求2所述的检查设备，其中，所述处理部检测所述反射光的线性畸变和所述反射光的平面畸变。11.根据权利要求10所述的检查设备，其中，所述处...

【专利技术属性】
技术研发人员：石相俊，金南赫，
申请(专利权)人：三星显示有限公司，
类型：发明
国别省市：