电磁锁寿命测试装置及寿命测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及电磁锁测试技术领域，公开电磁锁寿命测试装置，包括电磁锁安装支架、计数器支架和计数器组件，电磁锁安装支架用于安装至少两组电磁锁，其中同组电磁锁的朝向相同，不同组电磁锁的朝向不同；至少两个计数器支架固定于电磁锁安装支架上，各计数器支架的位置与各组电磁锁的位置一一对应设置；至少两个计数器组件一一对应地固定于至少两个计数器支架上，每个计数器组件包括计数器盒、安装于计数器盒内的若干计数器以及一一对应地连接于各计数器上的若干轻触开关，各轻触开关与相应组中的各电磁锁的锁头一一相对设置。本发明专利技术还公开电磁锁寿命测试方法。本发明专利技术操作简单、测试效率高、通用性好，能提高电磁锁在不同安装状态下的可靠性。态下的可靠性。态下的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
电磁锁寿命测试装置及寿命测试方法


[0001]本专利技术涉及电磁锁测试
，尤其涉及一种电磁锁寿命测试装置及电磁锁寿命测试方法。

技术介绍

[0002]电磁锁是一种通过电生磁的原理以实现锁门的装置，其广泛应用于各类门结构上，市场上现有集成灶也多采用电磁锁组件作为门锁。由于电磁锁不同于普通机械锁，电磁锁内部的电磁线圈每次通电断电都会造成细微损耗，因此每个电磁锁都有一定的工作时间或开合次数限制，这些数据就是电磁锁寿命长短的重要依据。
[0003]电磁锁在批量生产制备过程中会存在一定的残次品，为了保障电磁锁在实际应用时工作的稳定性，需要对电磁锁的使用寿命进行测试。现有的电磁锁寿命测试方式通常采用一些测量仪器或传感器来检测，不仅操作复杂，而且通用性差、测试效率较低；并且现有的测试装置仅按照特定的安装方式对电磁锁进行测试，而实际工作时，电磁锁由于安装方式的改变，其使用寿命也会受到影响，因此现有的测试方式难以保证电磁锁在不同安装状态下的可靠性。

技术实现思路

[0004]基于以上所述，本专利技术的目的在于提供一种操作简单、测试效本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.电磁锁寿命测试装置，其特征在于，包括：电磁锁安装支架(1)，用于安装至少两组电磁锁，其中同组所述电磁锁的朝向相同，不同组所述电磁锁的朝向不同；至少两个计数器支架(2)，固定于所述电磁锁安装支架(1)上，各所述计数器支架(2)的位置与各组所述电磁锁的位置一一对应设置；至少两个计数器组件(3)，一一对应地固定于至少两个所述计数器支架(2)上，每个所述计数器组件(3)包括计数器盒(31)、安装于所述计数器盒(31)内的若干计数器以及一一对应地连接于各所述计数器上的若干轻触开关(32)，各所述轻触开关(32)与相应组中的各所述电磁锁的锁头一一相对设置。2.根据权利要求1所述的电磁锁寿命测试装置，其特征在于，所述电磁锁安装支架(1)被配置为安装有一组第一电磁锁(100)和一组第二电磁锁(200)，所述第一电磁锁(100)的锁头沿第一方向向外弹出，所述第二电磁锁(200)的锁头沿第二方向向外弹出，所述第一方向与所述第二方向相反设置。3.根据权利要求2所述的电磁锁寿命测试装置，其特征在于，所述第一电磁锁(100)的锁头向上弹出，其所对应的所述计数器支架(2)安装于所述电磁锁安装支架(1)的上侧；所述第二电磁锁(200)的锁头向下弹出，其所对应的所述计数器支架(2)安装于所述电磁锁安装支架(1)的下侧。4.根据权利要求3所述的电磁锁寿命测试装置，其特征在于，所述电磁锁安装支架(1)包括位于两侧的支撑臂(11)和位于两所述支撑臂(11)之间的安装部(12)，所述安装部(12)上设有若干第一通孔和若干第一连接孔，所述第一通孔用于所述第一电磁锁(100)的锁头从中穿过，所述第一连接孔用于通过紧固件与所述第一电磁锁(100)固定；所述安装部(12)上还设有若干第二通孔和若干第二连接孔，所述第二通孔用于所述第二电磁锁(200)的锁头从中穿过，所述第二连接孔用于通过紧固件与所述第二电磁锁(200)固定。5.根据权利要求4所述的电磁锁寿命测试装置，其特征在于，所述计数器支架(2)包括依次垂直连接的第一板(21)、第二板(22)和第三板(23)，所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙伟勇，郭华森，
申请(专利权)人：浙江亿田智能厨电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：