一种自动化测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动化测试设备，属于滤光片生产技术领域，第一摆放结构用于放置待检测产品，第二摆放结构用于放置检测后的产品，旋转驱动件上设有多个检测孔位，旋转驱动件相对探测器以及激光光源转动使不同检测孔位对准探测器以及激光光源，抓取结构位于第一摆放结构以及第二摆放结构之间并与检测结构相对，抓取组件在第一摆放结构、检测结构以及第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至第二摆放结构，通过上述设计，摆放物料、测试物料、吸取测试物料同步操作，摆脱了现有技术中的待料时间，大幅度提升了测试效率。率。率。

【技术实现步骤摘要】
一种自动化测试设备


[0001]本技术涉及滤光片生产
，尤其是涉及自动化测试设备。

技术介绍

[0002]在通讯领域，滤光片的尺寸都比较小，范围通常在0.5～2.0mm范围内，这就导致在加工工艺中无法采用成品的尺寸进行镀膜，通常都是采用大尺寸的基片进行镀膜，完成镀膜工艺后再划切加工成对应的小尺寸；滤光片的性能要求比较高，其波长性能要求都是在埃量级，生产出的膜片在出货前需要对膜片进行性能全检。
[0003]在测试膜片的光谱性能指标的时候，现有的测试设备在测试和过程中采用固定单一孔位的测试位，需要先将膜片摆放到测试位上后，再进行测试，待测试完毕后，再将膜片摆放到包装盒中；其中摆放待测样品和吸取已测样品的过程使得测试无法进行，使得测试设备效率无法充分利用。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本技术的目的之一在于提供一种自动化测试设备，能够在提高滤光片的测试效率基础上减少设备体积。
[0005]本技术的目的之一采用如下技术方案实现：
[0006]一种自动化测试设备，包括
[0007]第一摆放结构，所述第一摆放结构用于放置待检测产品；
[0008]第二摆放结构，所述第二摆放结构用于放置检测后的产品；
[0009]检测结构，所述检测结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间，所述检测结构包括旋转驱动件、探测器以及激光光源，所述旋转驱动件上设有多个检测孔位，所述探测器以及所述激光光源分别位于所述旋转驱动件的相对两侧，所述旋转驱动件相对所述探测器以及所述激光光源转动使不同所述检测孔位对准所述探测器以及所述激光光源；
[0010]抓取结构，所述抓取结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间并与所述检测结构相对，所述抓取结构包括横向驱动件以及安装于所述横向驱动件的抓取组件，所述抓取组件在所述第一摆放结构、所述检测结构以及所述第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至所述检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至所述第二摆放结构；
[0011]处理系统，所述处理系统与所述探测器通信连接，所述处理系统测试并处理所述探测器接收的光谱数据。
[0012]进一步的，所述第一摆放结构包括第一移动件、第二移动件以及第一支架，所述第二移动件安装于所述第一移动件，所述第一支架安装于所述第二移动件，所述第一移动件带动所述第二移动件以及所述第一支架在第一方向移动，所述第二移动件带动所述第一支架在垂直于第一方向的第二方向移动。
[0013]进一步的，所述第一移动件以及所述第二移动件为气缸、直线模组、蜗轮蜗杆中的任意一种。
[0014]进一步的，所述第二摆放结构包括第三移动件以及第二支架，所述第二支架安装于所述第三移动件，所述第三移动件带动所述第二支架沿所述第二方向移动。
[0015]进一步的，所述横向驱动件带动所述抓取组件在所述第一方向移动。
[0016]进一步的，所述抓取组件的数量为两个，一所述抓取组件将所述第一摆放结构上的待检测产品移动至所述检测孔位，另一所述抓取组件将所述检测孔位上检测后的产品移动至所述第二摆放结构。
[0017]进一步的，所述抓取组件包括竖直驱动件、连接板以及吸盘，所述竖直驱动件滑动安装于所述横向驱动件，所述连接板滑动安装于所述竖直驱动件，所述吸盘固定于所述连接板末端，所述竖直驱动件带动所述吸盘在竖直方向移动。
[0018]进一步的，多个所述检测孔位均匀分布于所述旋转驱动件。
[0019]进一步的，所述自动化测试设备检测时，所述探测器、所述激光光源以及所述检测孔位位于同一直线上。
[0020]相比现有技术，本技术自动化测试设备的旋转驱动件上设有多个检测孔位，旋转驱动件相对探测器以及激光光源转动使不同检测孔位对准探测器以及激光光源，抓取结构位于第一摆放结构以及第二摆放结构之间并与检测结构相对，抓取结构包括横向驱动件以及安装于横向驱动件的抓取组件，抓取组件在第一摆放结构、检测结构以及第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至第二摆放结构，通过上述设计，摆放物料、测试物料、吸取测试物料同步操作，摆脱了现有技术中的待料时间，大幅度提升了测试效率。
附图说明
[0021]图1为本技术自动化测试设备的立体图；
[0022]图2为图1的自动化测试设备的第一摆放结构的立体图；
[0023]图3为图1的自动化测试设备的第二摆放结构的立体图；
[0024]图4为图1的自动化测试设备的检测结构的一立体图；
[0025]图5为图4的检测结构的另一立体图；
[0026]图6为图1的自动化测试设备的抓取结构的立体图。
[0027]图中：10、第一摆放结构；11、第一移动件；12、第二移动件；13、第一支架；130、摆放槽；20、第二摆放结构；21、第三移动件；22、第二支架；220、放置槽；30、检测结构；31、底板；32、安装架；33、旋转驱动件；34、检测孔位；35、检测组件；350、立柱；351、探测器；36、激光光源；40、抓取结构；41、横向驱动件；42、抓取组件；420、竖直驱动件；421、连接板；422、吸盘；50、外观检测结构。
具体实施方式
[0028]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下
所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0029]需要说明的是，当组件被称为“固定于”另一个组件，它可以直接在另一个组件上或者也可以存在另一中间组件，通过中间组件固定。当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在另一中间组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在另一中间组件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
[0030]除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
[0031]如图1所示，本技术自动化测试设备包括处理系统、第一摆放结构10、第二摆放结构20、检测结构30、抓取结构40以及外观检测结构50。检测结构30位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间。抓取结构40位于第一摆放结构10以及第二摆放结构20之间并与检测结构30正对设置。处理系统与第一摆放结构10、第二摆放结构20、检测结构30、抓取结构40以及外观检测结构50通本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自动化测试设备，其特征在于：包括第一摆放结构，所述第一摆放结构用于放置待检测产品；第二摆放结构，所述第二摆放结构用于放置检测后的产品；检测结构，所述检测结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间，所述检测结构包括旋转驱动件、探测器以及激光光源，所述旋转驱动件上设有多个检测孔位，所述探测器以及所述激光光源分别位于所述旋转驱动件的相对两侧，所述旋转驱动件相对所述探测器以及所述激光光源转动使不同所述检测孔位对准所述探测器以及所述激光光源；抓取结构，所述抓取结构位于所述第一摆放结构以及所述第二摆放结构之间并与所述检测结构相对，所述抓取结构包括横向驱动件以及安装于所述横向驱动件的抓取组件，所述抓取组件在所述第一摆放结构、所述检测结构以及所述第二摆放结构之间移动，将第一摆放结构上的待检测产品移动至所述检测孔位，将检测孔位上检测后的产品移动至所述第二摆放结构；处理系统，所述处理系统与所述探测器通信连接，所述处理系统测试并处理所述探测器接收的光谱数据。2.根据权利要求1所述的自动化测试设备，其特征在于：所述第一摆放结构包括第一移动件、第二移动件以及第一支架，所述第二移动件安装于所述第一移动件，所述第一支架安装于所述第二移动件，所述第一移动件带动所述第二移动件以及所述第一支架在第一方向移动，所述第二移动件带动所述第一支架...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏炎，李昱，
申请(专利权)人：苏州众为光电有限公司，
类型：新型
国别省市：