一种光端机测试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种光端机测试系统，所述的测试系统包括直流电源(1)、光端机测试平台(2)、光功率计(3)、光衰落器(4)、以太网测试分析仪(5)、误码测试分析仪(6)和测试电缆；所述的光功率计(3)、光衰落器(4)、以太网测试分析仪(5)和误码测试分析仪(6)分别通过测试电缆和光端机测试平台(2)连接；所述的测试平台与直流电源(1)连接；所述的光端机测试平台(2)设置有测试主机(7)和显示器(8)；所述的测试主机(7)上设置散热风扇(9)；所述的测试主机(7)为安装有两个CPU的主机。与现有技术相比，本实用新型专利技术具有测试全面、高效、便于观察测试结果等优点。优点。优点。

【技术实现步骤摘要】
一种光端机测试系统


[0001]本技术涉及一种测试系统，尤其是涉及一种光端机测试系统。

技术介绍

[0002]光端机是采用MSAP技术(Muti
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Services Access Platform)的多业务接入平台。MSAP采用传统的SDH技术，以SDH技术为基础，采用先进的GFP、VCAT和LCAS技术，融合以太网交换技术和ATM交换技术，实现TDM业务、以太网业务和ATM业务的综合传输，此外MSAP还可以提供低速版率的Nx64k专线，以太网延伸业务(EoXDSL)等。MSAP平台融合多种接入技术，提升了接入网的组网能力和设备的集成度，实现了传输与接入设备的统一管理，降低了建网和运维成本。采用MSAP组网方式，不仅增加了接入网的可靠性，而且可使配线段光纤化，从而使光纤进一步靠近用户。
[0003]鉴于MSAP平台的高质量服务、方便快捷的网络管理、可提供差分服务等优势，尤其适合对带宽和业务质量有较高要求的高端企业用户，如医院、银行、部队、证券、保密单位等，是电信运营商用户面光业务接入业务的重要组成部分。
[0004]光端机的大量使用带来整新维修方面的需求，因此，如何通过测试设备对光端机进行有效、完善的整新测试成为需要解决的技术问题。

技术实现思路

[0005]本技术的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种光端机测试系统。
[0006]本技术的目的可以通过以下技术方案来实现：
[0007]一种光端机测试系统，所述的测试系统包括直流电源、光端机测试平台、光功率计、光衰落器、以太网测试分析仪、误码测试分析仪和测试电缆；所述的光功率计、光衰落器、以太网测试分析仪和误码测试分析仪分别通过测试电缆和光端机测试平台连接；所述的光端机测试平台与直流电源连接。
[0008]进一步地，所述的光功率计为用于光信号传输时的光功率进行测量的NF
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906A型光功率计。
[0009]进一步地，所述的光衰落器为用于测试光衰减量的智能型光衰落器。
[0010]进一步地，所述的以太网测试分析仪为用于测试数据传输的延时、丢包和抖动的EXFO以太网测试分析仪。
[0011]进一步地，所述的误码测试分析仪为用于光端机传输数据时的误码检测和告警的HTC误码测试分析仪。
[0012]进一步地，所述的光端机测试平台设置测试主机和显示器。
[0013]进一步地，所述的测试主机为用于分析处理测试数据的主机。
[0014]进一步地，所述的测试主机上设置用于主机工作时散热的散热风扇。
[0015]进一步地，所述的测试主机为安装有两个CPU的主机。
[0016]进一步地，所述的显示器为用于以图谱的形式显示测试结果的显示器。
[0017]与现有技术相比，本技术具有以下有益效果：
[0018]一、本技术通过各种测试仪器的相互配合，对光端机进行全面、系统的测试，完善光端机维修测试能力，提高整新质量和测试效率。
[0019]二、本技术通过在光端机测试平台上设置主机和显示器，通过双CPU的主机的数据处理能力，对测试数据进行快速的分析处理，并将测试结果以图表的形式直观的显示在显示屏上，便于测试人员快速根据测试结果锁定问题所在，及时维修。
附图说明
[0020]图1为本技术的结构示意图；
[0021]图2为本技术的光衰落器原理示意图。
[0022]图1中标号所示为：
[0023]1、直流电源，2、光端机测试平台，3、光功率计，4、光衰落器，5、以太网测试分析仪，6、误码测试分析仪，7、主机，8、显示器，9、散热风扇。
[0024]图2中标号所示为：
[0025]10、电路，11、微型电机，12、齿条，13、滤光片，14、数据编码盘。
具体实施方式
[0026]下面结合附图和具体实施例对本技术进行详细说明。本实施例以本技术技术方案为前提进行实施，给出了详细的实施方式和具体的操作过程，但本技术的保护范围不限于下述的实施例。
[0027]实施例
[0028]如图1所示，一种光端机测试系统，用于对光端机的性能进行全面、系统的测试，所述的测试系统包括直流电源1、光端机测试平台2、光功率计3、光衰落器4、以太网测试分析仪5、误码测试分析仪6和测试电缆；所述的光功率计3、光衰落器4、以太网测试分析仪5和误码测试分析仪6分别通过测试电缆和光端机测试平台2连接；所述的光端机测试平台2与直流电源1连接，直流电源1为其提供稳定的直流电流；所述的光端机测试平台2设置有测试主机7和显示器8；所述的测试主机7为用于分析处理测试数据的主机；所述的测试主机7上设置散热风扇9，用于测试主机7工作时进行散热，保证测试主机7高速运行时不会由于温度过高而烧毁；所述的测试主机7为安装有两个CPU的主机，以实现处理测试数据的能力更加强大，处理效率更高，速度更快；所述的显示器8为用于以图谱的形式显示测试结果的显示器。
[0029]其中，所述的光功率计3为NF
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906A型光功率计，用于对光端机光信号传输时的绝对光功率进行测量，并将测量结果上传至光端机测试平台2的测试主机7中。
[0030]所述的光衰落器4为智能型光衰落器，用于测试光端机传输数据时的光衰减量，达到检测光端机传输时的灵敏度的目的，并将测试结果上传至光端机测试平台2的测试主机7中。
[0031]如图2所示，所述的光衰落器4包括电路10、微型电机11、齿条12、滤光片13和数据编码盘14；所述的光衰落器4通过电路10控制微型电机11带动齿条12,使得滤光片13平移,然后将数据编码盘14检测到的实际衰减量信号反馈到电路10中进行修正,从而达到驱动、
检测和显示光衰减量的目的，进而实现光端机传输时的灵敏度的检测。
[0032]所述的以太网测试分析仪5为EXFO以太网测试分析仪，用于测试光端机数据传输的延时、丢包和抖动情况，并将测试的数据上传至光端机测试平台2的测试主机7中。
[0033]所述的误码测试分析仪为HTC误码测试分析仪6，用于光端机传输数据时的误码检测和告警，并将误码检测结果和告警信息传送到光端机测试平台2的测试主机7中。
[0034]所述的测试主机7对接收到的上述的测试数据进行分析处理，并将处理结果以直观的图谱形式展示在显示屏8上，以便测试人员快速确定测试异常情况，并及时对光端机进行维修。
[0035]以上详细描述了本技术的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本技术的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本
中技术人员依本技术的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光端机测试系统，其特征在于，所述的测试系统包括直流电源(1)、光端机测试平台(2)、光功率计(3)、光衰落器(4)、以太网测试分析仪(5)、误码测试分析仪(6)和测试电缆；所述的光功率计(3)、光衰落器(4)、以太网测试分析仪(5)和误码测试分析仪(6)分别通过测试电缆和光端机测试平台(2)连接；所述的光端机测试平台(2)与直流电源(1)连接。2.根据权利要求1所述的一种光端机测试系统，其特征在于，所述的光功率计(3)为用于光信号传输时的光功率进行测量的NF
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906A型光功率计。3.根据权利要求1所述的一种光端机测试系统，其特征在于，所述的光衰落器(4)为用于测试光衰减量的智能型光衰落器。4.根据权利要求1所述的一种光端机测试系统，其特征在于，所述的以太网测试分析仪(5)为用于测试数据传输的延时、丢包和...

【专利技术属性】
技术研发人员：商云涛，徐立群，栾长富，韩毅君，张佳俊，乔纪祥，王雁，
申请(专利权)人：上海共联通信信息发展有限公司，
类型：新型
国别省市：