温度测试方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种温度测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待测试处理器的当前温度；根据预设的高温阈值、以及所述当前温度，确定高温温差，并在预设的温度区间集中，确定所述高温温差所属的目标温度区间；根据预设的测试策略匹配规则，在预设的测试策略集中，确定所述目标温度区间匹配的目标测试策略，并执行所述目标测试策略；在所述目标测试策略执行过程中的处理器温度不满足预设的高温条件的情况下，返回执行所述获取待测试处理器的当前温度步骤，直到满足测试结束条件，得到处理器测试结果。本方案能够实现对处理器温度的自动化测试，无需测试人员在测试过程中进行测试操作，从提高了测试效率。效率。效率。

【技术实现步骤摘要】
温度测试方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及测试
，特别是涉及一种温度测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。

技术介绍

[0002]随着测试技术的发展，出现了温度测试技术，这个技术可以对服务器进行温度测试，获取测试状态下该服务器的中央处理器温度。
[0003]传统温度测试技术中，测试人员根据测试需求，人工输入测试指令，使服务器处于测试状态。然后，每间隔一段时间，人工输入温度获取指令，人工读取并记录中央处理器温度，直到达到测试结束条件，得到处理器测试结果。其中，测试结束条件包括中央处理器温度达到预设的高温阈值，或者，每个测试状态都测试了一次。
[0004]然而，目前的温度测试技术在对服务器进行测试时，投入的人力较多，导致测试效率较低。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高测试效率的温度测试方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。
[0006]第一方面，本申请提供了一种温度测试方法。所述方法包括：
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种温度测试方法，其特征在于，所述方法包括：获取待测试处理器的当前温度；根据预设的高温阈值、以及所述当前温度，确定高温温差，并在预设的温度区间集中，确定所述高温温差所属的目标温度区间；根据预设的测试策略匹配规则，在预设的测试策略集中，确定所述目标温度区间匹配的目标测试策略，并执行所述目标测试策略；在所述目标测试策略执行过程中的处理器温度不满足预设的高温条件的情况下，返回执行所述获取待测试处理器的当前温度步骤，直到满足测试结束条件，得到处理器测试结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的测试策略集至少包括前台运行测试策略、以及负载压力测试策略；所述根据预设的测试策略匹配规则，在预设的测试策略集中，确定所述目标温度区间匹配的目标测试策略包括：在所述目标温度区间为预设的低温度区间的情况下，将所述前台运行测试策略作为所述目标温度区间匹配的目标测试策略；在所述目标温度区间为预设的中等温度区间的情况下，将所述负载压力测试策略作为所述目标温度区间匹配的目标测试策略；在所述目标温度区间为预设的高温度区间的情况下，将所述前台运行测试策略和所述负载压力测试策略作为所述目标温度区间匹配的目标测试策略。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述执行所述目标测试策略包括：在所述目标测试策略包括所述负载压力测试策略的情况下，根据所述高温温差、以及所述目标温度区间对应的预设的负载程度计算策略，确定负载程度；基于所述负载程度，执行所述负载压力测试策略。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述高温温差、以及所述目标温度区间对应的预设的负载程度计算策略，确定负载程度包括：在所述目标温度区间为所述预设的高温度区间的情况下，将所述高温温差与预设的温差阈值进行对比；所述预设的温差阈值大于所述预设的高温度区间的下限值；在所述高温温差小于所述预设的温差阈值的情况下，根据所述预设的高温度区间的下限值、所述预设的温差阈值、以及所述高温温差，确定负载调节比例，并基于所述负载调节比例、以及预设的负载程度区间，确定负载程度；在所述高温温差大于或者等于所述预设的温差阈值的情况下，将所述预设的...

【专利技术属性】
技术研发人员：张迎华，蒲嘉鹏，董艳芳，王凯东，刘晓玲，
申请(专利权)人：曙光信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：