本发明专利技术提供了一种测量物体空间位置的测量装置及其测量方法，所述测量装置包括多个同位器和多个投影收集器，所述同位器安装在待测量物体的外侧部，用于将所述待测量物体内传感器或其支撑件的位置通过投影的方式变为可测量的信息；所述投影收集器安装在对应的所述同位器的侧部，用于收集所述同位器发射的投影光源的信息。本发明专利技术通过同位器将隐藏你给的运动部件通过机械同步的方式，变成可以观察到的部件和测量的部件。同时通过投影收集器收集同位器上的投影，实现信号传输。实现信号传输。实现信号传输。
【技术实现步骤摘要】
测量物体空间位置的测量装置及其测量方法
[0001]本专利技术涉及称重系统领域，特别涉及一种测量物体空间位置的测量装置及其测量方法。
技术介绍
[0002]在现有技术中，平台秤或其它称重设备，如汽车衡等等，其支撑点为一个及多个(两个及以上)时，在秤体在空载状态及不同载荷的加载状态下，其不同支撑点(或称支点)，由于传感器本身及秤体都会产生一定程度的弹性形变，安装在秤体下面的传感器或其支撑件，会产生不同方向的倾角变化。
[0003]该倾角变化，对于不同的设备，在没有预设角度的情况下，是随机的。随机表现在，同一种设备，在不同的安装条件下，或者在相同安装条件下，其倾角变化的不确定性。而该不确定性，直接影响到衡器的称重结果。
[0004]但是目前，尚未有科学的测试或计算方法，准确测量或计算倾角与称重结果的相互关系，这就为理论计算和实际测试，造成困扰。
[0005]有鉴于此，本领域技术人员设计了一种测量物体空间位置的测量装置及其测量方法，以期克服上述技术问题。
技术实现思路
[0006]本专利技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中无法直接测量物体的空间位置的缺陷，提供一种测量物体空间位置的测量装置及其测量方法。
[0007]本专利技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
[0008]一种测量物体空间位置的测量装置，其特点在于，所述测量装置包括多个同位器和多个投影收集器，所述同位器安装在待测量物体的外侧部，用于将所述待测量物体内传感器或其支撑件的位置通过投影的方式变为可测量的信息；所述投影收集器安装在对应的所述同位器的侧部，用于收集所述同位器发射的投影光源的信息。
[0009]根据本专利技术的一个实施例，所述同位器包括投影光源单元和连接杆，所述连接杆的一端与所述待测量物体内传感器连接，另一端与所述投影光源单元连接。
[0010]根据本专利技术的一个实施例，所述同位器还包括三轴加速度传感器，所述三轴加速度传感器安装在所述连接杆的另一端和所述投影光源单元之间，用于获取所述同位器的空间角度变化。
[0011]根据本专利技术的一个实施例，所述投影光源单元包括多个水平投影光源和多个垂直投影光源。
[0012]根据本专利技术的一个实施例，所述三轴加速度传感器的上端设有水泡，用于调整和校准所述三轴加速度传感器。
[0013]根据本专利技术的一个实施例，所述投影收集器包括立杆、多个影像收集仪、信电源线和信号线，所述影像收集仪水平或垂直地固定在所述立杆上，所述信电源线将所述影像收
集仪与电源连接，所述信号线将所述影像收集仪与外部的控制终端连接。
[0014]根据本专利技术的一个实施例，所述影像收集仪包括第一影像收集仪、第二影像收集仪和第三影像收集仪，所述第一影像收集仪水平安装在所述立杆的顶端，所述第二影像收集仪水平安装在所述立杆的底端，所述第三影像收集仪安装在所述立杆的侧部，与所述第二影像收集仪相互垂直。
[0015]根据本专利技术的一个实施例，所述第一影像收集仪上安装有调平水泡，用于所述第一影像收集仪的调平；
[0016]所述第二影像收集仪上安装有调平螺钉，用于所述第二影像收集仪的调平。
[0017]本专利技术还提供了一种测量物体空间位置的测量方法，其特点在于，所述测量方法采用如上所述的测量物体空间位置的测量装置，所述测量方法包括：通过所述投影收集器，收集到对应所述同位器在一预设间距的两个平行平面内的投影点Ai(i从0到n)和投影点Ci(i从0到n)；
[0018]同时测算投影点Ai在另一平面的投影位置Bi(i从0到n)的位置，从而根据三角函数关系，计算出所述同位器在垂直水平面方向的倾斜角度αi(i从0到n)的大小；
[0019]在投影点Ai点位置保持稳定不变的情况下，测出投影点Ci在不同状态下，所述同位器在水平方向上的角度变化；
[0020]在投影点Ci点位置保持稳定不变的情况下，测出投影点Ai在不同状态下，所述同位器在水平方向上的角度变化。
[0021]根据本专利技术的一个实施例，所述测量方法还包括：通过YZ平面内的投影，判定所述同位器和待测量物体内传感器的相关位置信息；
[0022]若AiY>CiY，则所述同位器偏向所述传感器的左侧，反之则偏向右侧；若BiX>CiX,则所述同位器偏向所述传感器的后端，反之则偏向前端。
[0023]本专利技术的积极进步效果在于：
[0024]本专利技术测量物体空间位置的测量装置及其测量方法，通过同位器将隐藏你给的运动部件通过机械同步的方式，变成可以观察到的部件和测量的部件。同时通过投影收集器收集同位器上的投影，实现信号传输。
附图说明
[0025]本专利技术上述的以及其他的特征、性质和优势将通过下面结合附图和实施例的描述而变的更加明显，在附图中相同的附图标记始终表示相同的特征，其中：
[0026]图1为本专利技术测量物体空间位置的测量装置的结构示意图。
[0027]图2为本专利技术测量物体空间位置的测量装置中同位器的结构示意图。
[0028]图3为本专利技术测量物体空间位置的测量装置中投影收集器的结构示意图。
[0029]图4为本专利技术测量物体空间位置的测量方法的角度数据收集示意图。
[0030]图5为本专利技术测量物体空间位置的测量方法的方向判定示意图。
[0031]图6为本专利技术测量物体空间位置的测量方法的传感器区域划分的示意图。
[0032]【附图标记】
[0033]同位器
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[0034]投影收集器
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[0035]待测量物体
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[0036]投影光源单元
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[0037]连接杆
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[0038]三轴加速度传感器
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[0039]水平投影光源
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[0040]垂直投影光源
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[0041]水平投影光源
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[0042]垂直投影光源
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[0043]水泡
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[0044]立杆
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[0045]影像收集仪
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[0046]信电源线本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述测量装置包括多个同位器和多个投影收集器，所述同位器安装在待测量物体的外侧部，用于将所述待测量物体内传感器或其支撑件的位置通过投影的方式变为可测量的信息；所述投影收集器安装在对应的所述同位器的侧部，用于收集所述同位器发射的投影光源的信息。2.如权利要求1所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述同位器包括投影光源单元和连接杆，所述连接杆的一端与所述待测量物体内传感器连接，另一端与所述投影光源单元连接。3.如权利要求2所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述同位器还包括三轴加速度传感器，所述三轴加速度传感器安装在所述连接杆的另一端和所述投影光源单元之间，用于获取所述同位器的空间角度变化。4.如权利要求2所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述投影光源单元包括多个水平投影光源和多个垂直投影光源。5.如权利要求3所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述三轴加速度传感器的上端设有水泡，用于调整和校准所述三轴加速度传感器。6.如权利要求1所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述投影收集器包括立杆、多个影像收集仪、信电源线和信号线，所述影像收集仪水平或垂直地固定在所述立杆上，所述信电源线将所述影像收集仪与电源连接，所述信号线将所述影像收集仪与外部的控制终端连接。7.如权利要求6所述的测量物体空间位置的测量装置，其特征在于，所述影像收集仪包括第一影像收集仪、第二影像收集仪和第三影像收集仪，所述第一影像收集仪水...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈登佑，郑绍文，邓立人，
申请(专利权)人：梅特勒托利多常州精密仪器有限公司梅特勒托利多国际贸易上海有限公司，
类型：发明
国别省市：
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