涂布印刷方法及设备技术

本发明专利技术属于涂布印刷的技术领域，公开了一种涂布印刷方法及设备。涂布印刷方法其包括：控制印刷头向基材喷涂溶液并控制基材相对于印刷头移动，以使得溶液在基材表面的形成液态薄膜；获取液态薄膜厚度，当液态薄膜厚度满足要求后对所述基材进行退火处理；在进行退火处理的同时对基材的液态薄膜进行紫外

【技术实现步骤摘要】
涂布印刷方法及设备


[0001]本专利技术涉及涂布印刷的
，尤其涉及一种涂布印刷方法及设备。

技术介绍

[0002]钙钛矿材料具有特殊的结构，许多光电器件的表面都会通过涂布印刷设备来涂覆钙钛矿液态薄膜，比如太阳光电池等，其能够有效提高太阳光的转换率。
[0003]现有的涂布印刷方法中，主要是利用印刷头根据提前设定好的程序，将钙钛矿溶液涂布于基材的表面上，再控制刮刀等结构刮涂基材表面的溶液，使得溶液均匀涂覆在基材的表面。在完成涂覆后即可进行退火处理，在完成退火处理后，再将基材转运至检测设备处对液态薄膜进行检测，以确定液态薄膜是否符合要求。
[0004]上述过程中，由于对液态薄膜的检测是在退火处理之后单独进行的，不仅花费较多的时间，而且当发现液态薄膜质量不合格时，只能对新的基材进行重新加工，导致整体的加工效率较低，生产成本增加。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的在于提供一种涂布印刷方法及设备，解决了现有技术中对基材的覆膜质量的检测不能及时进行，导致加工效率较低，生产成本增加。
[0006]为达此目的，本专利技术采用以下技术方案：
[0007]一种涂布印刷方法，其包括：控制印刷头向基材喷涂溶液并控制所述基材相对于所述印刷头移动，以使得溶液在基材表面的形成液态薄膜；获取液态薄膜厚度，当液态薄膜厚度满足要求后对所述基材进行退火处理；在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，当液态薄膜质量符合要求时即完成所述基材的涂布印刷。
[0008]可选地，所述在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，具体包括：对所述基材进行加热的同时利用紫外
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可见光照射所述液态薄膜，并利用光谱扫描设备扫描所述液态薄膜以获取所述液态薄膜吸收带尾的状态，根据所述液态薄膜吸收带尾的状态判断所述液态薄膜质量。
[0009]可选地，所述在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，具体包括：对所述基材进行加热的同时利用紫外
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可见光照射所述液态薄膜，并利用光谱扫描设备扫描所述液态薄膜以获取所述液态薄膜内的荧光发射峰处的单波长与时间的关系，根据单波长与时间的关系判断所述液态薄膜质量。
[0010]本专利技术还提供一种涂布印刷设备，应用上述中任一项所述涂布印刷方法进行涂布印刷，所述涂布印刷设备包括：机架、承载台、涂布头、检测件、控制器、加热件以及光谱分析设备。承载台滑动连接在所述机架上，所述承载台用于放置基材；涂布头用于向所述基材的表面涂覆溶液以形成液态薄膜；检测件设置在所述机架上以用于检测所述液态薄膜的厚度；控制器与所述检测件通讯连接以获取所述液态薄膜的厚度；加热件设置在所述承载台
并与所述控制器通讯连接，所述控制器用于根据所述液态薄膜厚度控制加热件运行以对所述液态薄膜进行退火处理。光谱分析设备设置在所述机架上并与所述控制器通讯连接，所述控制器用于控制所述光谱分析设备对所述液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析检测，以检测所述液态薄膜质量。
[0011]可选地，所述涂布印刷设备还包括：承载框，滑动连接在所述机架上；调节件，设置在所述承载框上，所述承载台固定在所述调节件上，所述调节件用于调整所述承载台的位姿；以及驱动件，设置在所述机架上并与所述承载框连接，所述控制器与所述驱动件通讯连接以控制所述驱动件运行或停止。
[0012]可选地，所述驱动件包括：直线滑轨，设置在所述机架内，所述承载框滑动连接在所述直线滑轨上；以及直线电机，与所述承载框连接以驱动所述承载框沿所述直线滑轨滑动。
[0013]可选地，所述涂布头包括：涂布轴，设置在所述机架上且位于所述承载台上方，所述涂布轴具有真空吸附腔及与所述真空吸附腔连通的吸附孔；以及刮刀，吸附在所述吸附孔上并用于对所述基材表面的溶液进行刮涂以形成液态薄膜；或狭缝涂布头，设置在所述机架上且位于所述承载台上，以用于对所述基材表面覆膜以形成所述液态薄膜。
[0014]可选地，所述涂布印刷设备还包括：固定架；调整组件，设置在所述固定架上，所述涂布头设置在所述调整组件上，所述调整组件用于调整所述涂布头相对于所述承载台的垂直距离和角度。
[0015]可选地，所述涂布印刷设备还包括：吹风架，固定在所述机架上，所述吹风架上开设有朝向所述基材表面设置的出风口；以及吹风机，所述吹风机的排风口与所述出风口连通。
[0016]可选地，所述加热件设置在所述承载台内。
[0017]本专利技术的有益效果：
[0018]1、在基材表面形成液态薄膜过程中，实时对液态薄膜厚度进行检测，当液态薄膜厚度满足要求后，再进行退火处理，同步利用紫外
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可见光谱分析检测来检测液态薄膜质量，以此在液态薄膜成型的同时，实时检测液态薄膜的质量，当发现液态薄膜质量不合格时，就能够及时进行相应的调整，以节约涂布印刷作业花费的时间，提高工作效率，同时还能够对基材进行返工处理，以降低材料的浪费，有效节约生产成本。
[0019]2、利用涂布头对基材进行涂布印刷时，检测件能够实时检测液态薄膜的厚度，当液态薄膜厚度符合要求时，控制器就会控制加热件运行以快速对液态薄膜进行退火处理，在退火处理的同时利用光谱分析设备对液态薄膜进行紫外
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可见光谱检测，以实时检测液态薄膜质量。以此在覆膜过程中实时对液态薄膜质量进行检测，当存在液态薄膜质量不合格的基材时，就能够对其快速进行处理，以节约涂布印刷花费的时间，提高工作效率。
附图说明
[0020]图1所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷方法的流程示意图。
[0021]图2所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备的结构示意图。
[0022]图3所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备隐藏罩壳后的结构示意图。
[0023]图4所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备的承载框和涂布头的结构示意图。
[0024]图5所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备的轴测图。
[0025]图6所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备的检测架的结构示意图。
[0026]图7所示为本专利技术一些实施例中涂布印刷设备的吹风架的第一侧板的结构示意图。
[0027]图中：
[0028]100、机架；110、底板；120、安装架；121、底座；122、顶板；123、挡板；130、罩壳；132、操作面板；
[0029]200、承载台；201、吸附空腔；202、吸附通孔；210、穿光孔；220、承载框；221、动子座；222、封板；230、调节件；240、直线滑轨；
[0030]300、涂布头；310、涂布轴；311、真空吸附腔；312、吸附孔；
[0031]400、检测件；
[0032]500、光谱分析设备；510、检测架；511、安装板；520、检测座；530、固本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种涂布印刷方法，其特征在于，所述涂布印刷方法包括：控制印刷头向基材喷涂溶液并控制所述基材相对于所述印刷头移动，以使得溶液在基材表面的形成液态薄膜；获取液态薄膜厚度，当液态薄膜厚度满足要求后对所述基材进行退火处理；在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，当液态薄膜质量符合要求时即完成所述基材的涂布印刷。2.根据权利要求1所述的涂布印刷方法，其特征在于，所述在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，具体包括：对所述基材进行加热的同时利用紫外
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可见光照射所述液态薄膜，并利用光谱扫描设备扫描所述液态薄膜以获取所述液态薄膜吸收带尾的状态，根据所述液态薄膜吸收带尾的状态判断所述液态薄膜质量。3.根据权利要求1所述的涂布印刷方法，其特征在于，所述在进行退火处理的同时对所述基材的液态薄膜进行紫外
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可见光谱分析的质量检测，具体包括：对所述基材进行加热的同时利用紫外
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可见光
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可见照射所述液态薄膜，并利用光谱扫描设备扫描所述液态薄膜以获取所述液态薄膜内的荧光发射峰处的单波长与时间的关系，根据单波长与时间的关系判断所述液态薄膜质量。4.一种涂布印刷设备，其特征在于，应用如权利要求1至3中任一项所述涂布印刷方法进行涂布印刷，所述涂布印刷设备包括：机架(100)；承载台(200)，滑动连接在所述机架(100)上，所述承载台(200)用于放置基材；涂布头(300)，用于向所述基材的表面涂覆溶液以形成液态薄膜；检测件(400)，设置在所述机架(100)上以用于检测所述液态薄膜的厚度；控制器，与所述检测件(400)通讯连接以获取所述液态薄膜的厚度；加热件，设置在所述承载台(200)并与所述控制器通讯连接，所述控制器用于根据所述液态薄膜厚度控制加热件运行以对所述液态薄膜进行退火处理；以及光谱分析设备(500)，设置在所述机架(100)上并与所述控制器通讯连接，所述控制器用于控制所述光谱分析设备(500)对所述液态薄膜进行紫外
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【专利技术属性】
技术研发人员：陈义旺，胡笑添，田桂祥，范宝锦，孟祥川，
申请(专利权)人：北京大学长三角光电科学研究院，
类型：发明
国别省市：