一种自平衡测试底座制造技术

技术编号:37263786 阅读:34 留言:0更新日期:2023-04-20 23:36
本实用新型专利技术公开了一种自平衡测试底座,包括底座平台,所述底座平台上端一侧设置有底座头。有益效果在于:本实用新型专利技术一方面能够在调整弹簧、定位销钉、导向孔、精密螺丝的配合下实现底座头在底座平台不整情况下的自动调平操作,有效避免了该半导体器件测试底座在使用时因测试机台安装不平而导致该半导体器件测试底座在使用时不平进而使得该半导体器件测试底座在使用时测量脚处接触不良的问题,确保了半导体器件测试底座测量结果的准确性,另一方面通过侧压紧螺丝来实现绝缘垫片的固定,有效避免了该半导体器件测试底座在使用时因震动导致上固定螺丝松脱进而引起测量时线路短路及不水平的问题。及不水平的问题。及不水平的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种自平衡测试底座


[0001]本技术涉及半导体生产测试
,具体涉及一种自平衡测试底座。

技术介绍

[0002]半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓,可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等器材。其中在振荡器类的片状半导体器件生产过程中需要采用测试底座来对半导体器件的使用性能进行通电检测。
[0003]目前用于对振荡器类的片状半导体器件进行测试的测试底座主要由一个底座、固定在底座上的底座头以及采用上压紧螺丝固定在底座头顶端的绝缘垫片构成,上述结构的测试底座虽然能够实现对振荡器类的片状半导体器件的通电测试,但是在实际测量过程中容易因测试机台安装不平而导致半导体器件测试底座在使用时不平,这样带来直接后果就是测量时半导体器件的测试脚处接触不良,进而使得测量结果不准确,同时由于上述结构上的绝缘垫片主要采用上压紧螺丝进行固定,该种固定方式下使得半导体器件测试底座在使用时容易因震动导致上固本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种自平衡测试底座,其特征在于:包括底座平台(2),所述底座平台(2)上端一侧设置有底座头(5),所述底座头(5)三侧面上分别安装有精密螺丝(4),所述底座平台(2)上与所述精密螺丝(4)相连处开设有螺槽(9),所述底座头(5)底端四角处分别开设有安装孔(10),所述安装孔(10)内固定有定位销钉(7),所述定位销钉(7)的杆部外侧设置有调整弹簧(3),所述底座平台(2)上位于所述定位销钉(7)底端处开设有导向孔(8),所述底座头(5)上端设置有绝缘垫片(1),所述底座头(5)两侧壁上侧安装有侧压紧螺丝(6)。2.根据权利要求1所述的一种自平衡测试底座,其特征在于:所述精密螺丝(4)贯穿所述底座头(5),所述精密螺丝(4)与所述螺槽(9)旋接。3...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴桂荣
申请(专利权)人:苏州荣伟豪电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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