电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质。属于电子元器件评估技术领域，所述方法包括：获取电子元器件的至少两项评估数据要素；其中，所述评估数据要素包括数据类型、数据内容和数据来源中的至少一种；根据至少两项所述评估数据要素，确定与各项所述评估数据要素相关联的实体信息；根据不同实体信息间的关联关系和至少两项所述评估数据要素，构建所述电子元器件的知识图谱模型；基于所述知识图谱模型，评估所述电子元器件。本方法基于知识图谱模型对电气元器件评估时，思路更加清晰，根据条理性，可大幅提高工作效率，并且最终关系展示也层次分明，逻辑性更强。强。强。

【技术实现步骤摘要】
电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质


[0001]本申请涉及电子元器件评估
，特别是涉及一种电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质。

技术介绍

[0002]电子元器件评估是指在装备应用前开展的一系列评估工作，例如实体信息、评估数据要素等，是一个提供证据的质量保证过程，以确定元器件生产制造信息、功能、性能、可靠性和适应性能否满足装备的后续使用要求。
[0003]电子元器件评估是一项复杂的系统性工程，涉及的因素众多、学科领域广泛，具有业务领域广、流程环节复杂、工作任务量大、参与方众多等特点，在评估过程中也会产生大量的具有推广、复用价值的数据，由于目前在进行电子元器件的评估时，缺少有效手段，造成评估过程混乱，评估效率低，并且最终关系展示混乱等问题。

技术实现思路

[0004]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提升电子元器件评估效率的电子元器件评估方法、装置、计算机设备和存储介质。
[0005]第一方面，本申请提供了一种电子元器件评估方法。方法包括：
[0006]获取电子元器件的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子元器件评估方法，其特征在于，所述方法包括：获取电子元器件的至少两项评估数据要素；其中，所述评估数据要素包括数据类型、数据内容和数据来源中的至少一种；根据至少两项所述评估数据要素，确定与各项所述评估数据要素相关联的实体信息；根据不同实体信息间的关联关系和至少两项所述评估数据要素，构建所述电子元器件的知识图谱模型；基于所述知识图谱模型，评估所述电子元器件。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据至少两项所述评估数据要素，确定与各项所述评估数据要素相关联的实体信息，包括：对至少两项所述评估数据要素进行相关性分析；根据相关性分析结果，将至少两项所述评估数据要素分为多组；根据每组评估数据要素的共用关联信息，确定每组评估数据要素相关联的实体信息；其中，同组的各项评估数据要素相关联的实体信息相同。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据不同实体信息间的关联关系和至少两项所述评估数据要素，构建所述电子元器件的知识图谱模型，包括：根据不同实体信息间的关联关系，确定所述电子元器件的知识图谱模型中的边关系，并确定所述边关系对应的至少一个关系属性；根据所述边关系、所述关系属性、各所述评估数据要素和各实体信息，构建所述电子元器件的知识图谱模型。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定所述边关系对应的至少一个关系属性，包括：对存在边关系的实体信息进行语义关系识别，得到所述边关系对应的至少一个关系属性。5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述边关系、所述关系属性、各所...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨云，韩俊杰，王浩，刘瑜珂，于迪，聂国健，赵征凡，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：