上盖组件及烹饪器具制造技术

本公开涉及一种上盖组件及烹饪器具，上盖组件包括上盖本体，上盖本体上设置有发热元件和反射罩，反射罩位于发热元件的上方；透光件，设置在上盖本体上，并位于发热元件的下方，且透光件的下表面能够与烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触，发热元件透过透光件向烹饪器具的煲体中辐射热量；测温装置，设置在上盖本体上，且测温装置抵在反射罩或透光件上，并且测温装置抵在反射罩上时反射罩的部分区域与透光件贴合，以检测蒸汽温度和发热元件的温度。通过在反射罩或透光件上设置测温装置，实现了仅通过一个测温装置即可实现检测蒸汽温度和发热元件的温度，使得上盖组件的结构简化，且便于清洗。清洗。清洗。

【技术实现步骤摘要】
上盖组件及烹饪器具


[0001]本公开涉及烹饪器具
，尤其涉及一种上盖组件及烹饪器具。

技术介绍

[0002]目前市场上的烹饪器具(如电饭煲)煮出的米饭缺乏饭香，其主要原因通常是烹饪器具的上盖上附着的冷凝水较多，冷凝水会吸附米饭的香气；并且上盖的温度较低，无法充分地激发米饭的香气。
[0003]现有技术中通过在烹饪器具的上盖上搭载加热模块，以在沸腾后期提高上盖的温度，减少冷凝水，增加米饭香气。同时，上盖上通常设有两个测温装置，分别用于检测蒸汽温度和加热模块的温度，但设置两个测温装置导致上盖结构复杂，且通常需要在上盖上开孔以使测温装置伸至位于上盖下方的烹饪腔中来检测蒸汽温度，导致上盖的清洗不方便。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本公开提供了一种通过一个测温装置既能检测蒸汽温度又能检测发热元件的温度的上盖组件及烹饪器具。
[0005]本公开第一方面提供了一种上盖组件，用于烹饪器具，包括：上盖本体，所述上盖本体上设置有发热元件和反射罩，所述反射罩位于所述发热元件的上方；透光件，所述透光件设置在所述上盖本体上，并位于所述发热元件的下方，且所述透光件的下表面能够与所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触，所述发热元件透过所述透光件向所述烹饪器具的煲体中辐射热量；测温装置，所述测温装置设置在所述上盖本体上，且所述测温装置抵在所述反射罩或所述透光件上，并且所述测温装置抵在所述反射罩上时所述反射罩的部分区域与所述透光件贴合。
[0006]本公开实施例提供的上盖组件，通过在上盖本体上设置发热元件，以利用发热元件对上盖组件进行加热，减少上盖组件上附着冷凝水，避免冷凝水吸附米饭的香气，并且发热元件辐射的热量能够在反射罩中进行反射，并透过透光件向烹饪器具的煲体中辐射，从而更好地激发米饭的香气；通过在上盖本体上设置测温装置，且测温装置抵在反射罩或透光件上，发热元件的热量可传导至反射罩和透光件上，从而实现测温装置对发热元件的温度的检测；透光件的下表面能够与烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触，使得蒸汽热量可直接传导至透光件上，从而实现测温装置对蒸汽温度的检测；同时，测温装置抵在反射罩上时反射罩的部分区域与透光件贴合，使得蒸汽温度可通过透光件更好地传导至反射罩上，提升了测温装置检测蒸汽温度的精准性；如此设置通过一个测温装置可以实现对蒸汽温度和发热元件温度的检测，使得上盖组件的结构简化，且无需在上盖组件上开孔来使得测温装置伸至位于上盖组件下方的烹饪腔中，从而使得上盖组件的清洗更方便。
[0007]在一些实施例中，所述上盖本体的内侧安装有盖板，所述盖板位于所述透光件的下方，所述盖板上形成有中空区域，蒸汽通过所述盖板的中空区域与所述透光件的下表面接触。
[0008]通过在上盖本体的内侧安装有盖板，且盖板为可拆卸盖板，通过拆下盖板方便对透光件进行清洗，且盖板上的中空区域与发热元件的辐射区域对应，使得发热元件辐射的热量更多的透过盖板，从而提高热利用效率；同时，蒸汽通过中空区域与透光件的下表面接触，即蒸汽温度可直接传导至透光件上，使得测温装置可实现检测蒸汽温度。
[0009]在一些实施例中，所述上盖本体上设置有蒸汽通道支架，所述蒸汽通道支架上形成有蒸汽通道，所述透光件上开设有安装通孔，所述蒸汽通道支架和所述安装通孔之间通过第一密封件密封配合。
[0010]通过设置蒸汽通道支架形成蒸汽通道，方便蒸汽通过蒸汽通道排出，通过在透光件上开设有安装通孔，蒸汽通道的入口通过安装通孔与烹饪器具的煲体连通，在蒸汽通道支架和安装通孔之间设置第一密封件，防止烹饪过程产生的蒸汽通过蒸汽通道支架和安装通孔之间的间隙进入到上盖组件内部，从而提高了上盖组件上的各个元件的使用寿命，同时第一密封件也起到缓冲作用，在上盖组件与煲体盖合时，减少了蒸汽通道支架对透光件的冲击，对透光件进行了保护。
[0011]在一些实施例中，所述盖板上设置有与所述蒸汽通道的入口错开设置的蒸汽通孔，所述盖板的上表面和所述透光件的下表面之间形成有蒸汽间隙，所述蒸汽通孔通过所述蒸汽间隙与所述蒸汽通道的入口连通；或者，所述盖板的中空区域与所述蒸汽通道的入口错开设置，所述盖板的上表面和所述透光件的下表面之间形成有蒸汽间隙，所述盖板的中空区域通过所述蒸汽间隙与所述蒸汽通道的入口连通。
[0012]通过上述设置，避免在烹饪过程中蒸汽向上盖组件流动使得食物渣滓直接粘着于蒸汽通道的入口以及透光件上与蒸汽通道的入口相对应的位置处，有利于保证蒸汽通道的入口及透光件上与蒸汽通道的入口相对应的位置的清洁性，更加便于清洗。
[0013]在一些实施例中，所述测温装置包括测温装置外壳及置于所述测温装置外壳内的弹性件，所述测温装置通过内置的所述弹性件弹性抵接在所述反射罩或所述透光件上。
[0014]通过在测温装置内部设置弹性件，使得测温装置可实现与反射罩或透光件更紧密的抵接，由于发热元件或蒸汽的热量可传导至反射罩或透光件上，从而使得测温装置检测温度的精准性更好，同时弹性件还可吸收冲击能量，对测温装置起到保护作用。
[0015]在一些实施例中，所述反射罩包括向上隆起的反射部及平直延伸的贴合部，所述贴合部与所述反射部连接；所述发热元件位于所述反射部向上隆起形成的反射腔内，所述贴合部与所述透光件贴合，所述测温装置抵在所述贴合部上。
[0016]通过设置反射部，反射部向上隆起形成反射腔，发热元件设于反射腔中，使得发热元件辐射的热量能更好的在反射罩中进行反射，提高了反射效率，从而使得发热元件的热量能够更多的透过透光件向烹饪器具的煲体辐射，降低了热损失；当测温装置抵接在反射罩上时，具体为抵接在反射罩的贴合部上，贴合部为平直段，可提高测温装置与反射罩的接触面积，从而使得测温装置能够更加精确测出发热元件的温度，贴合部和透光件贴合，由于透光件的下表面能够与烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触，使得蒸汽温度可通过透光件更多的传导至贴合部上，提高了测温装置检测蒸汽温度的精准性。
[0017]在一些实施例中，所述反射罩包括向上隆起的反射部及平直延伸的延伸部，所述延伸部与所述反射部连接；所述发热元件位于所述反射部向上隆起形成的反射腔内，所述测温装置抵在所述透光件上，所述延伸部上对应所述测温装置的位置开设有避让孔。
[0018]通过设置反射部，反射部向上隆起形成反射腔，发热元件设于反射腔中，使得发热元件辐射的热量能更好的在反射罩中进行反射，提高了反射的效率，从而使得发热元件的热量能够更多的透过透光件向烹饪器具的煲体辐射，降低了热损失；通过设置延伸部，并在延伸部上对应测温装置的位置开设有避让孔，使得测温装置可穿过避让孔抵接在透光件上，从而通过检测透光件的温度，间接实现对与透光件接触的蒸汽的温度的检测，并且由于发热元件的热量可传导至透光件上，从而通过检测透光件的温度，间接实现对发热元件的温度的检测。此外，通过设置延伸部，使得测温装置设置在反射罩的反射部以外的区域，从而减少反射部形成的反射腔内的高温影响测温装置的使用寿命。
[0019]在一些实施例中，所述测温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种上盖组件，用于烹饪器具，其特征在于，包括：上盖本体，所述上盖本体上设置有发热元件和反射罩，所述反射罩位于所述发热元件的上方；透光件，所述透光件设置在所述上盖本体上，并位于所述发热元件的下方，且所述透光件的下表面能够与所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触，所述发热元件透过所述透光件向所述烹饪器具的煲体中辐射热量；测温装置，所述测温装置设置在所述上盖本体上，且所述测温装置抵在所述反射罩或所述透光件上，并且所述测温装置抵在所述反射罩上时所述反射罩的部分区域与所述透光件贴合。2.根据权利要求1所述的上盖组件，其特征在于，所述上盖本体的内侧安装有盖板，所述盖板位于所述透光件的下方，所述盖板上形成有中空区域，蒸汽通过所述盖板的中空区域与所述透光件的下表面接触。3.根据权利要求2所述的上盖组件，其特征在于，所述上盖本体上设置有蒸汽通道支架，所述蒸汽通道支架上形成有蒸汽通道，所述透光件上开设有安装通孔，所述蒸汽通道支架和所述安装通孔之间通过第一密封件密封配合。4.根据权利要求3所述的上盖组件，其特征在于，所述盖板上设置有与所述蒸汽通道的入口错开设置的蒸汽通孔，所述盖板的上表面和所述透光件的下表面之间形成有蒸汽间隙，所述蒸汽通孔通过所述蒸汽间隙与所述蒸汽通道的入口连通；或者，所述盖板的中空区域与所述蒸汽通道的入口错开设置，所述盖板的上表面和所述透光件的下表面之间形成有蒸汽间隙，所述盖板的中空区域通过所述蒸汽间隙与所述蒸汽通道的入口连通。5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙韦韦，黄韦铭，罗飞龙，胡修泽，潘嘉健，刘化勇，邱金生，羊小亮，瞿月红，谢心怡，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：