上盖组件及烹饪器具制造技术

本公开涉及烹饪器具技术领域，尤其涉及一种上盖组件及烹饪器具。上盖组件包括：上盖本体；发热元件，发热元件设置在上盖本体上，发热元件具有冷区和热区；测温装置，测温装置设置在上盖本体上，且位于发热元件的冷区，用于检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。通过上述的设置，将测温装置设置在发热元件的冷区，使得本装置在保证发热元件能够对煲体进行有效地加热，激发食物的香气的同时，测温装置能够避免受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度，提高了测温装置的检测精度。提高了测温装置的检测精度。提高了测温装置的检测精度。

【技术实现步骤摘要】
上盖组件及烹饪器具


[0001]本公开涉及烹饪器具
，尤其涉及一种上盖组件及烹饪器具。

技术介绍

[0002]目前，现有的烹饪器具如电饭煲底部的加热组件以热传导的方式对煲体内的食物进行加热。此种加热方式在烹饪大量的米饭时会导致煲体内不同区间的温差较大，使得米粒受热不均，影响米饭的口感。
[0003]相关技术中通过在烹饪器具的上盖内设置有发热件，利用发热件对煲体内位于上部的食物进行加热，以提升加热均匀性。并且上盖内设置有用于检测和控制煲体内温度的测温装置，然而发热件工作时会向测温装置辐射热量，从而影响上盖内的测温装置的检测精度，导致测温装置无法精确地检测和控制煲体的加热温度。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本公开提供了一种上盖组件及烹饪器具。旨在解决现有的烹饪器具的上盖内的发热件工作时会向测温装置辐射热量，影响上盖内的测温装置的检测精度的温度的问题。
[0005]为实现上述目的，本公开第一方面提供一种上盖组件，用于烹饪器具，包括：上盖本体；发热元件，所述发热元件设置在所述上盖本体上，所述发热元件具有冷区和热区；测温装置，所述测温装置设置在所述上盖本体上，且位于所述发热元件的冷区，用于检测所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。
[0006]本公开提供的上盖组件，包括上盖本体、发热元件和测温装置，发热元件设置在上盖本体上，向烹饪器具的煲体中辐射热量，实现对煲体内位于上部的食物进行加热，以提升加热均匀性，更好地激发食物香气。所述发热元件具有冷区和热区，将测温装置设置在发热元件的冷区，使得本装置在保证发热元件能够对煲体进行有效地加热，激发食物的香气的同时，测温装置能够尽可能地避免受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度，提高了测温装置的检测精度。
[0007]在一些实施例中，所述发热元件为发热管，所述发热管包括弧形的管主体及分别连接于所述管主体的两端的所述接线端，以所述接线端为中心、距离所述接线端预设距离范围内的区域形成为所述发热管的冷区；所述预设距离为40mm至80mm。
[0008]通过上述的设置，弧形的管主体为发热管的热区，距离所述接线端预设距离范围内的区域形成为所述发热管的冷区，因此冷区范围内的温度较低，测温装置位于发热管的冷区，能够避免其受到发热元件工作时辐射的热量的影响，从而提高测温装置的检测精度。
[0009]在一些实施例中，所述上盖本体包括安装支架，所述安装支架上开设有贯通的安装孔，所述测温装置的感应端穿设于所述安装孔内，并通过所述安装孔与所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触。
[0010]通过在上盖本体上设置安装支架，在安装支架上开设安装孔，使得测温装置的感
应端可通过安装孔固定在安装支架上，保证测温装置的检测稳定性，从而精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。
[0011]在一些实施例中，所述上盖本体的内侧设置有透光件，所述透光件上形成有第一通孔，所述安装支架安装在所述第一通孔处，且所述安装支架和所述第一通孔之间设置有第一密封件。
[0012]通过上述的设置，在透光件上形成有第一通孔，将安装支架安装在第一通孔处，使得测温装置能够固定在透光件上，在安装支架和第一通孔之间设置第一密封件，能够避免蒸汽沿着第一通孔进入到安装空间内部，从而提高了上盖本体内个电器件的使用寿命。
[0013]在一些实施例中，所述安装孔沿竖向贯通所述安装支架，且所述安装孔位于所述第一通孔的内侧区域，所述测温装置的感应端竖向穿设于所述安装孔内。
[0014]通过上述的设置，使得测温装置能够竖向穿设于安装孔内，从而将其感应端与烹饪器具的煲体连通，使得测温装置的感应端能够直接与煲体内的蒸汽直接接触，能够进一步提高测温装置的检测精度。
[0015]在一些实施例中，所述测温装置的感应端穿出所述安装孔；或者，所述测温装置的感应端的下端面与所述安装孔的下端面齐平；或者，所述测温装置的感应端的下端面位于所述安装孔内。
[0016]通过上述的设置，测温装置的感应端穿出安装孔，从而与煲体内的蒸汽直接接触，能够更精确地检测蒸汽温度；测温在的感应端的下端面与安装孔平齐，使得感应端能够直接与蒸汽接触，保证测温装置的检测精度的同时，能够避免感应端直接暴露在外界，可以对测温装置的感应端起到有效的保护作用，避免拆装或者维修上盖本体时，损伤测温装置的感应端，影响测温装置的检测精度或者降低测温装置的使用寿命；测温装置的感应端的下端面位于安装孔内，能够进一步保护测温装置的感应端，提高测温装置的使用寿命。
[0017]在一些实施例中，所述安装支架上形成有蒸汽通道，所述安装孔沿横向贯通所述蒸汽通道的侧壁，所述测温装置的感应端横向穿设于所述安装孔内，并伸至所述蒸汽通道中。
[0018]通过上述的设置，安装孔沿横向贯通蒸汽通道的侧壁设置，测温装置的感应端沿横向穿设于安装孔内，并伸至蒸汽通道内检测蒸汽通道内的蒸汽温度，使得测温装置无需穿过透光件也能够精确地检测烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度，从而使得上盖组件的清洗更加方便，减少了因开孔而导致异物堆积的发生以及异味的产生。
[0019]在一些实施例中，所述上盖本体的内侧安装有盖板，所述盖板位于所述透光件的下方，所述盖板上形成有供蒸汽通过的蒸汽通孔。
[0020]通过上述的设置，在盖板上形成有蒸汽通孔，蒸汽穿过蒸汽通孔与测温装置的感应端接触，从而使得测温装置能够不受盖板的阻挡以检测煲体内的蒸汽温度。
[0021]在一些实施例中，所述发热元件的上方设置有反射罩，所述反射罩朝向所述发热元件的一侧形成有向上隆起的反射腔，所述发热元件位于所述反射腔内；
[0022]所述反射罩上形成有第二通孔，所述安装支架穿过所述第二通孔，并固定在所述第一通孔处。
[0023]通过上述的设置，反射罩设于发热元件的上方，且反射罩朝向发热元件的一侧形成有向上隆起的反射腔，发热元件置于反射腔中，反射腔可将发热元件发射出的光线反射
到烹饪器具的煲体中，从而提高发热元件的辐射效果。并且安装支架能够穿过第二通孔固定在第一通孔处，从而在一定程度上提高安装支架的安装可靠性。
[0024]本公开第二方面提供一种烹饪器具，包括煲体和如上述任一种所述的上盖组件，所述上盖组件可开合地设置在所述煲体上，使得所述烹饪器具也具备上述的技术效果。
附图说明
[0025]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0026]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0027]图1为本公开一种实施例中烹饪器具的剖视图；
[0028]图2为图1中A处的放大图；
[0029]图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种上盖组件，用于烹饪器具，其特征在于，包括：上盖本体；发热元件，所述发热元件设置在所述上盖本体上，所述发热元件具有冷区和热区；测温装置，所述测温装置设置在所述上盖本体上，且位于所述发热元件的冷区，用于检测所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽的温度。2.根据权利要求1所述的上盖组件，其特征在于，所述发热元件为发热管，所述发热管包括弧形的管主体及分别连接于所述管主体的两端的接线端，以所述接线端为中心、距离所述接线端预设距离范围内的区域形成为所述发热管的冷区；所述预设距离为40mm至80mm。3.根据权利要求1所述的上盖组件，其特征在于，所述上盖本体包括安装支架，所述安装支架上开设有贯通的安装孔，所述测温装置的感应端穿设于所述安装孔内，并通过所述安装孔与所述烹饪器具烹饪过程产生的蒸汽接触。4.根据权利要求3所述的上盖组件，其特征在于，所述上盖本体的内侧设置有透光件，所述透光件上形成有第一通孔，所述安装支架安装在所述第一通孔处，且所述安装支架和所述第一通孔之间设置有第一密封件。5.根据权利要求4所述的上盖组件，其特征在于，所述安装孔沿竖向贯通所述安装支架，且所述安装孔位于...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗飞龙，黄韦铭，胡修泽，龙韦韦，邱金生，潘嘉健，羊小亮，刘化勇，谢心怡，
申请(专利权)人：佛山市顺德区美的电热电器制造有限公司，
类型：新型
国别省市：