大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质技术

本申请提供一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。有利于后续对测试数据的分析和展示。有利于后续对测试数据的分析和展示。

【技术实现步骤摘要】
大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质


[0001]本申请涉及测试
，尤其涉及一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质。

技术介绍

[0002]目前，在芯片出厂前，会经过一系列的自动化测试，以保证产品的质量。在大批量的芯片自动化测试过程中，往往同时使用到多个机台，以提高测试效率。每个机台会有多个测试站点(Site)，机台会自动将芯片放置到不同的Site中，并将测试通过和不通过的芯片分开收集，同时，测试机台会与测试主机进行通信，收集每个Site对应的测试主机发送的测试结果数据和测试日志，保存每条测试结果，如图1所示。其中，测试站点编号(图1中的Site1，Site2，Site3)为索引。
[0003]然而每轮测试的结果数据往往相对独立，且每轮测试中的结果数据也相对无序，还会在测试主机卡死或者通信出现异常时，测试结果数据不完整，导致难以统计真实的测试情况。
[0004]现有的解决方案是由生产操作人员手动操作机台进行数据导出，或者批次测试结束时机台自动进行数据导出，此时该自动化机台会将在某个测试时间段内，测试的某个批次的芯片的测试结果数据进行简单的汇总和记录，并写在一个纯文本的统计文件中。
[0005]但是，现有解决方案只能统计一个机台某段时间内的测试结果，仅有一个统计维度，不能跨机台、测试时间段、测试程序版本、批次号和跨测试轮次等维度来进行统计。另外，现有解决方案只能根据机台获得的测试结果数据进行汇总，而未接收到测试结果时，统计将不完整。此外，现有解决方案仅能支持将结果直接写在一个纯文本的统计文件中，且信息繁杂，不是结构化的数据，不方便进行后续的数据分析。

技术实现思路

[0006]为了解决上述技术缺陷之一，本申请提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质。
[0007]本申请第一个方面，提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，方法包括：
[0008]建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；
[0009]进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入所述结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
[0010]存储存入数据的结构化数据表；
[0011]根据存储的结构化数据表进行统计分析。
[0012]可选地，所述结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。
[0013]可选地，所述方法还包括：
[0014]将每轮测试的过程数据存储至日志中；
[0015]所述将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层，包括：
[0016]对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常；
[0017]若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入所述结构化数据表的底层；
[0018]若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入所述结构化数据表的底层。
[0019]可选地，所述确定该轮测试是否正常，包括：
[0020]解析该轮的测试记录；
[0021]若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常；
[0022]若解析出的测试记录不完整，则确定该轮测试异常。
[0023]可选地，所述存储存入数据的结构化数据表之后，还包括：
[0024]通过看板展示结构化数据表中的数据。
[0025]可选地，所述结构化数据表为散列表。
[0026]可选地，所述建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表，包括：
[0027]创建一个满足统计条件的多层的全局的散列表，并将全局的散列表作为顶层；
[0028]在顶层下，以各轮测试的测试记录文件为键，以空的散列表为值，建立中间层；
[0029]在中间层下，以测试的索引为键，以对应测试的结果数据为值建立底层。
[0030]可选地，所述索引为测试站点编号。
[0031]本申请提供一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
附图说明
[0032]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0033]图1为一种现有的测试结构图；
[0034]图2为本申请实施例提供的一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法的流程示意图；
[0035]图3为本申请实施例提供的一种结构化数据表的结构示意图。
具体实施方式
[0036]为了使本申请实施例中的技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图对本申请的示例性实施例进行进一步详细的说明，显然，所描述的实施例仅是本申请的一部分实施例，而不是所有实施例的穷举。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0037]在实现本申请的过程中，专利技术人发现，现有的解决方案是由生产操作人员手动操作机台进行数据导出，或者批次测试结束时机台自动进行数据导出，此时该自动化机台会将在某个测试时间段内，测试的某个批次的芯片的测试结果数据进行简单的汇总和记录，并写在一个纯文本的统计文件中。
[0038]但是，现有解决方案只能统计一个机台某段时间内的测试结果，仅有一个统计维度，不能跨机台、测试时间段、测试程序版本、批次号和跨测试轮次等维度来进行统计。另外，现有解决方案只能根据机台获得的测试结果数据进行汇总，而未接收到测试结果时，统计将不完整。此外，现有解决方案仅能支持将结果直接写在一个纯文本的统计文件中，且信息繁杂，不是结构化的数据，不方便进行后续的数据分析。
[0039]针对上述问题，本申请实施例中提供了一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法、设备、介质，该方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。本申请的方法建立满足统计条件的多层的结构化数据表后，将每轮测试的索引和附加信息存入结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入结构化数据表的底层，进而可以将结果数据和过程数据综合为一个多维度的数据表进行存储，有利于后续对测试数据的分析和展示。
[0040]参见图2，本实施例提供的大批量芯片测试数据本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种大批量芯片测试数据的多维度统计分析方法，其特征在于，所述方法包括：建立一个满足统计条件的多层的结构化数据表；进行多轮测试，将每轮测试的索引和附加信息存入所述结构化数据表的中间层，将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层；存储存入数据的结构化数据表；根据存储的结构化数据表进行统计分析。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述结构化数据表的顶层大小基于待统计的测试数据的测试轮数确定。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：将每轮测试的过程数据存储至日志中；所述将每轮测试的结果数据存入所述结构化数据表的底层，包括：对于任一轮测试，确定该轮测试是否正常；若该轮测试正常，则获取测试的结果数据，将获取的结果数据存入所述结构化数据表的底层；若该轮测试异常，则获取过程数据，根据获取的过程数据得到结果数据，将得到的结果数据存入所述结构化数据表的底层。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定该轮测试是否正常，包括：解析该轮的测试记录；若解析出的测试记录完整，则确定该轮测试正常；若解析出的测试记录不完整，则...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐佳华，
申请(专利权)人：长沙景美集成电路设计有限公司长沙潜之龙微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：