集成电路芯片的设计方法及设计装置、存储介质制造方法及图纸

一种集成电路芯片的设计方法以及设计装置、存储介质，该设计方法包括：在集成电路芯片的设计模型中确定有源区注入点位置；建立对应于有源区注入点位置的有源区注入点标识区域；基于有源区注入点标识区域确定需要进行闩锁验证的至少一个模块，对至少一个模块进行闩锁验证；响应于对至少一个模块进行闩锁验证且都验证成功，拼接集成电路芯片的设计模型中的各个模块；对整个集成电路芯片进行闩锁验证。该方法可以提高集成电路芯片的设计效率。方法可以提高集成电路芯片的设计效率。方法可以提高集成电路芯片的设计效率。

【技术实现步骤摘要】
集成电路芯片的设计方法及设计装置、存储介质


[0001]本公开的实施例涉及一种集成电路芯片的设计方法及设计装置、存储介质。

技术介绍

[0002]随着集成电路的快速发展，芯片设计规模增大、工艺不断演进，闩锁(Latch
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up)效应发生的风险越来越高。尤其是对于使用先进制程的中央处理器(CPU)、图形处理器(GPU)、网络处理器(Networking processor)等，由于设计规模超大，物理设计中会存在大量的模块拼接，对于单一模块而言，无法看到所有相关模块是否发生闩锁违例。等所有模块完成后，再进行全芯片的闩锁验证，此时如果发生闩锁违例，需要再全芯片的设计进行修改，这对芯片整体布局和开发周期都带来巨大挑战。

技术实现思路

[0003]本公开至少一个实施例提供一种集成电路芯片的设计方法，该设计方法包括：在集成电路芯片的设计模型中确定有源区注入点位置；建立对应于有源区注入点位置的有源区注入点标识区域；基于有源区注入点标识区域确定需要进行闩锁验证的至少一个模块，对至少一个模块进行闩锁验证；响应于对至少一个模块进行本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片的设计方法，包括：在所述集成电路芯片的设计模型中确定有源区注入点位置；建立对应于所述有源区注入点位置的有源区注入点标识区域；基于所述有源区注入点标识区域确定需要进行闩锁验证的至少一个模块，对所述至少一个模块进行闩锁验证；响应于对所述至少一个模块进行闩锁验证且都验证成功，拼接所述集成电路芯片的设计模型中的各个模块；对整个所述集成电路芯片进行闩锁违例验证。2.根据权利要求1所述的设计方法，还包括：响应于对所述至少一个模块进行闩锁验证且所述至少一个模块中的第一模块验证不成功，调整所述第一模块的设置且再次对所述第一模块进行闩锁验证直至验证成功。3.根据权利要求1所述的设计方法，其中，在所述集成电路芯片的设计模型中确定有源区注入点位置，包括：在所述集成电路芯片的设计模型中根据凸点确定所述有源区注入点位置，其中，所述凸点和所述有源区注入点位置通过走线连接。4.根据权利要求1所述的设计方法，其中，建立对应于所述有源区注入点位置的有源区注入点标识区域，包括：依据有源区注入点的电压信息建立所述有源区注入点标识区域。5.根据权利要求1或4所述的设计方法，其中，基于所述有源区注入点标识区域确定需要进行闩锁验证的至少一个模块，包括：在所述集成电路芯片的设计模型中创建对应于所述有源区注入点标识区域的有源区注入点标识层，并且将所述有源区注入点标识层与所述集成电路芯片的设计模型中各个模块叠加，以确定需要进行闩锁验证的所述至少一个模块。6.根据权利要求5所述的设计方法，其中，所述有源区注入点标识层位于所述集成电路芯片的设计模型中的靠上的层，将所述有源区注入点标识层在所述集成电路芯片的设计模型向下移动...

【专利技术属性】
技术研发人员：安顺，李重阳，宋紫敏，
申请(专利权)人：海光信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：