下垂度测量治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种下垂度测量治具，包括：测量台；多个支撑件，多个所述支撑件设置在所述测量台上且用于支撑产品；第一测量机构，所述第一测量机构可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的上表面的下垂度；第二测量机构，所述第二测量机构和所述第一测量机构间隔设置，所述第二测量机构可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的下表面的下垂度。通过在测量台上移动第一测量机构和第二测量机构，可以分别对产品的上、下表面的下垂度进行测量，从而能够获得产品多个点的下垂度。并且，测量结果误差较小，测试方式较为灵活，同时结构简单，操作方便且可靠性高。操作方便且可靠性高。操作方便且可靠性高。

【技术实现步骤摘要】
下垂度测量治具


[0001]本技术涉及测量
，尤其是涉及一种下垂度测量治具。

技术介绍

[0002]由于服务器一般都是安装在机柜里面，如果机构设计不合理，这些服务器将无法稳定的安置在机柜内。在运送过程中由于受到挤压作用，服务器机箱也有可能发生机壳曲变形的情形，这就要求我们在设计研发以及制造生产阶段要考虑服务器机箱上盖面和下底面的变形量，使其在可控的范围内，不至于过大的弯曲变形量而影响安装和移除。
[0003]相关技术中，有一种服务器机壳平面度测量装置，包含有测量移动以及通过测量移动架驱动的测量仪，可以对服务器机壳的表面进行多点测试，但是仅仅对服务器机壳的上表面测量变形量，忽略了服务器机壳下表面的变形量，而且该平面度测量装置还设置有超声波测距传感器、显示器、操控板、控制器等，结构较为复杂，且价格昂贵。

技术实现思路

[0004]本技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本技术提出了一种下垂度测量治具，在测量台上设有第一测量机构和第二测量机构，第一测量机构测量机壳的上表面的变形量，第二测量机构测量机壳下表面的变形量，结构简单且便宜。
[0005]根据本技术的实施例的下垂度测量治具，包括：测量台；多个支撑件，多个所述支撑件设置在所述测量台上且用于支撑产品；第一测量机构，所述第一测量机构可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的上表面的下垂度；第二测量机构，所述第二测量机构和所述第一测量机构间隔设置，所述第二测量机构可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的下表面的下垂度。/>[0006]根据本技术的实施例的下垂度测量治具，在测量台的上方设有第一测量机构和第二测量机构，并在测量台的上方设有支撑产品的支撑件，通过移动第一测量机构和第二测量机构，可以分别对产品的上、下表面的下垂度进行测量，从而能够获得产品多个点的下垂度。并且，测量结果误差较小，测试方式较为灵活，同时结构简单，操作方便且可靠性高。
[0007]根据本技术的一些实施例，所述第一测量机构包括：第一测量机架和第一测量仪，所述第一测量机架可移动地设置在所述测量台上，所述第一测量机架上设置有所述第一测量仪且所述第一测量机架带动所述第一测量仪在产品的上表面选择性地移动。
[0008]根据本技术的一些实施例，所述第一测量机架包括：第一底座、第一支撑杆和第二支撑杆，所述第一底座可移动地设置在所述测量台上，所述第一支撑杆竖直设置在所述第一底座上，所述第二支撑杆的一端设置在所述第一支撑杆上且水平延伸，所述第二支撑杆的另一端设置有所述第一测量仪。
[0009]根据本技术的一些实施例，所述第一支撑杆上设置有第一滑轨且竖直延伸，所述第二支撑杆的一端设置在所述第一滑轨上且选择性地在所述第一滑轨上竖直移动。
[0010]根据本技术的一些实施例，所述第二支撑杆的一端设置有第一安装孔，第一紧固件穿过所述第一安装孔后与所述第一滑轨固定连接；和/或，所述第一测量仪上设置有安装部，所述安装部设置有第二安装孔，第二紧固件穿过所述第二安装孔后与所述第二支撑杆的另一端固定连接；和/或，所述第一支撑杆的底部设置有第三安装孔，第三紧固件穿过所述第三安装孔后与所述第一底座固定连接。
[0011]根据本技术的一些实施例，所述第二测量机构包括：第二测量机架和第二测量仪，所述第二测量机架可移动地设置在所述测量台上，所述第二测量机架上设置有所述第二测量仪且所述第二测量机架带动所述第二测量仪在产品的下表面选择性地移动。
[0012]根据本技术的一些实施例，所述第二测量机架包括：第二底座和第三支撑杆，所述第二底座可移动地设置在所述测量台上，所述第三支撑杆的一端设置在所述第二底座上且竖直延伸，所述第三支撑杆的另一端设置有所述第二测量仪。
[0013]根据本技术的一些实施例，所述第三支撑杆上设置有第二滑轨且竖直延伸，所述第二测量仪的一端设置在所述第二滑轨上且选择性地在所述第二滑轨上竖直移动。
[0014]根据本技术的一些实施例，所述第二测量仪的一端设置有第四安装孔，第四紧固件穿过所述第四安装孔后与所述第二滑轨固定连接；和/或，所述第三支撑杆的底部设置有第五安装孔，第五紧固件穿过所述第五安装孔后与所述第二底座固定连接。
[0015]根据本技术的一些实施例，所述第一测量仪和所述第二测量仪均为数显千分表，所述第一测量仪的检测头与产品上表面点接触且所述第二测量仪的检测头与产品的下表面点接触。
[0016]本技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本技术的实践了解到。
附图说明
[0017]本技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
[0018]图1是根据本技术的实施例的下垂度测量治具的一个角度的结构示意图；
[0019]图2是根据本技术的实施例的下垂度测量治具的另一个角度的结构示意图；
[0020]图3是根据本技术的实施例的第一测量机构的立体图；
[0021]图4是根据本技术的实施例的第二测量机构的一个角度的结构示意图；
[0022]图5是根据本技术的实施例的第二测量机构的另一个角度的结构示意图。
[0023]附图标记：
[0024]100、下垂度测量治具；
[0025]10、支撑件；11、凹槽；
[0026]20、第一测量机构；21、第一测量机架；22、第一底座；23、第一支撑杆；24、第二支撑杆；25、第一滑轨；26、第一安装孔；27、第一紧固件；28、第三紧固件；29、第一测量仪；30、安装部；31、第二紧固件；32、第二安装孔；33、第三安装孔；
[0027]40、第二测量机构；41、第二测量机架；42、第二底座；43、第三支撑杆；44、第二滑轨；45、第五紧固件；46、第二测量仪；47、第四安装孔；48、第四紧固件。
具体实施方式
[0028]下面详细描述本技术的实施例，参考附图描述的实施例是示例性的，下面详细描述本技术的实施例。
[0029]下面参考图1
‑
图5描述根据本技术实施例的下垂度测量治具100。
[0030]如图1和图2所示，下垂度测量治具100包括：测量台（附图未示出）、多个支撑件10、第一测量机构20和第二测量机构40。
[0031]其中，测量台可以为大理石，大理石的上端面为水平平面。以及，多个支撑件10设置在测量台上，并且用于支撑产品。在本实施例中，支撑件10的数量为四个，且支撑件10为T形支架，分别支撑产品的四个角，而且，在支撑件10的顶部设有开口朝上的凹槽11，可以使产品侧壁上的螺钉与凹槽11的内侧壁相配合，从而使产品搭在支撑件10上，方便取放。
[0032]而且，第一测量机构20可移动地设置在测量台上，用于测量产品的上表面的下垂度，第二测量机构40和第本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种下垂度测量治具，其特征在于，包括：测量台；多个支撑件（10），多个所述支撑件（10）设置在所述测量台上且用于支撑产品；第一测量机构（20），所述第一测量机构（20）可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的上表面的下垂度；第二测量机构（40），所述第二测量机构（40）和所述第一测量机构（20）间隔设置，所述第二测量机构（40）可移动地设置在所述测量台上，用于测量产品的下表面的下垂度。2.根据权利要求1所述的下垂度测量治具，其特征在于，所述第一测量机构（20）包括：第一测量机架（21）和第一测量仪（29），所述第一测量机架（21）可移动地设置在所述测量台上，所述第一测量机架（21）上设置有所述第一测量仪（29），且所述第一测量机架（21）带动所述第一测量仪（29）在产品的上表面选择性地移动。3.根据权利要求2所述的下垂度测量治具，其特征在于，所述第一测量机架（21）包括：第一底座（22）、第一支撑杆（23）和第二支撑杆（24），所述第一底座（22）可移动地设置在所述测量台上，所述第一支撑杆（23）竖直设置在所述第一底座（22）上，所述第二支撑杆（24）的一端设置在所述第一支撑杆（23）上且水平延伸，所述第二支撑杆（24）的另一端设置有所述第一测量仪（29）。4.根据权利要求3所述的下垂度测量治具，其特征在于，所述第一支撑杆（23）上设置有第一滑轨（25）且竖直延伸，所述第二支撑杆（24）的一端设置在所述第一滑轨（25）上且选择性地在所述第一滑轨（25）上竖直移动。5.根据权利要求4所述的下垂度测量治具，其特征在于，所述第二支撑杆（24）的一端设置有第一安装孔（26），第一紧固件（27）穿过所述第一安装孔（26）后与所述第一滑轨（25）固定连接；和/或，所述第一测量仪（29）上设置有安装部（30），所述安装部（30）设置有第二安装孔（32），第二紧固件（...

【专利技术属性】
技术研发人员：陆春梅，
申请(专利权)人：无锡闻泰信息技术有限公司，
类型：新型
国别省市：