一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统，包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机；所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接，用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。本实用新型专利技术具有超高时间分辨、高空间分辨、无需制样、非接触式测量等优势。非接触式测量等优势。非接触式测量等优势。

【技术实现步骤摘要】
一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统


[0001]本技术涉及超快光学测量
，更具体地说，特别涉及一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统。

技术介绍

[0002]自旋波是磁性材料内部电子自旋的集体激发行为，其量子化形式为磁子，是自旋电子学的重要研究分支。磁子的传播不依赖于电荷的流动，但与电流类似的是，磁子流也可用于携带、传输和处理信息，避免了诸如欧姆损耗等基于电子流动的传统电子器件的固有缺点，并且相对电流而言，磁子流可以拥有更长的扩散距离。目前，在磁子自旋电子学中，磁子的输运信息大部分采用电学手段进行检测，通常检测原理为：首先将电荷注入器件一端的贵金属电极(如铂)，通过自旋霍尔效应产生横向自旋流，进一步通过金属/磁体界面交换相互作用，自旋流的角动量转移到磁性材料(如磁性绝缘体)中，产生磁子，随后磁子在磁性材料中输运到器件另一端，通过逆自旋霍尔效应在另一侧电极产生电压信号。电学检测手段能够检测器件中磁子的整体输运性能(如输运长度和输运速率等)，但该方法需要提前制备相应器件，制样复杂，且不具备高的时间和空间分辨能力，并且测量到的电学信号是器件的整本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种高时空分辨的磁光偏振成像测量系统，其特征在于，包括飞秒脉冲激光源、第一分束器、第二分束器、泵浦光路组件、探测光路组件、第三分束器、第一合束器、第二合束器、微区样品成像模块、信号探测模块和计算机；所述飞秒脉冲激光源用于提供产生泵浦光和探测光的光源；所述第一分束器用于将飞秒激光源分入泵浦光和探测光两条光路；所述第二分束器用于将泵浦光分入第一泵浦光和第二泵浦光两条光路；所述第三分束器用于透射探测光并反射从样品返回的探测光；所述第一合束器用以第一泵浦光和第二泵浦光的合束；所述第二合束器用于在探测光波长范围内透射、在泵浦光波长范围内反射以及探测光、第二泵浦光和第一泵浦光的合束；所述泵浦光路组件设于泵浦光路上，用于输出泵浦光以及调节第一和第二泵浦光之间的脉冲延时；所述探测光路组件设于探测光路上，用于输出探测光以及调节探测光与两束泵浦光之间的脉冲延时；所述微区样品成像模块设于第二合束器的合束一端，用于样品成像；所述信号探测模块设于斩波器一端，用于完成泵浦
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探测信号的再生和放大；所述计算机与飞秒脉冲激光源、泵浦光路组件、探测光路组件、微区样品成像模块、信号探测模块连接，用于光源的输出和参数控制、成像及光路调试、仪器的自动化控制与测试、信号处理功能。2.根据权利要求1所述的高时空分辨的磁光偏振成像测量系统，其特征在于，所述泵浦光路组件包括依次设置于泵浦光路上的泵浦光参量放大器、第一半波片、偏振器和反射镜，设于反射镜反射光路上的凸透镜对、第一衰减器，设于第一泵浦光路上的泵浦光程调节器，所述第二分束器位于凸透镜对和第一衰减器之间，第二衰减器位于第二泵浦光上，所述泵浦光参量放大器用于输出波长、脉宽可调谐的泵浦光，所述第一半波片和偏振器用于组合输出具有高光强和线偏振度的泵浦光，所述反射镜用于调整光路走向，调整第二泵浦光所在光路的多个反射镜可将第二泵浦光聚焦到远离第一泵浦光光斑的另一样品表面位置，所述凸透镜对用于调整激光的发散程度，所述第一衰减器和第二衰减器用于调整泵浦光的光强，所述斩波器用于泵浦光的频率调制，输出频率参考信号以实现同步测量，所述泵浦光程调节器用于调节第一和第二泵浦...

【专利技术属性】
技术研发人员：韦可，刘祺瑞，江天，郝昊，唐宇翔，李思维，程湘爱，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科技大学，
类型：新型
国别省市：