一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置及检测方法制造方法及图纸

技术编号:37194986 阅读:28 留言:0更新日期:2023-04-20 22:54
本发明专利技术公开了一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置及检测方法,检测装置包括信号发生器、功率放大器、激励线圈、导磁模块、成像模块和检测终端;所述信号发生器输出端与功率放大器输入端电连接;所述功率放大器输出端与激励线圈输入端电连接;所述激励线圈同向缠绕在导磁模块上;所述导磁模块设置于靠近曲面构件检测面但不与检测面接触的位置;所述成像模块设置于导磁模块正上方且接收端朝向曲面构件检测面。本发明专利技术通过采集曲面构件表面的温度分布、几何形状和光学图像信息,建立多模态电磁热三维成像检测扫查图,可用于曲面构件表面和近表面缺陷检测,提高缺陷检测效率、检测精度和缺陷量化评价水平。度和缺陷量化评价水平。度和缺陷量化评价水平。

【技术实现步骤摘要】
一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置及检测方法


[0001]本专利技术涉及无损检测
,尤其涉及一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置及检测方法。

技术介绍

[0002]飞机结构复杂曲面特征常见于铰链臂、加强框、工字梁、角盒以及接头等构件中。曲面构件在制造和使用过程中容易产生应力集中区域并导致不连续性缺陷。特别是经过仿生、拓扑及一体化优化设计后的增材制造金属构件,往往具有复杂形状曲面结构特征,曲面构件在成形过程中容易出现翘曲变形及冶金缺陷,降低构件力学性能,影响其使用安全。为了保障飞机增材制造曲面构件的安全使用,采用可靠的无损检测技术及时检出曲面构件存在的缺陷是十分必要的。但是,由于增材制造金属构件的复杂形状曲面结构特征影响,现有无损检测技术在曲面构件的检测可达性、检测结果可靠性及缺陷量化评价方面存在不足。
[0003]用于复杂形状曲面构件的常规渗透检测技术仅能检测表面开口缺陷,不能检测闭合的近表面缺陷且难以进行数字化缺陷评定分析。现有光学成像检测技术仅能检测表面大尺寸宏观缺陷,难以检测表面微小缺陷及近表面缺陷。常规的超声检测和涡本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,包括信号发生器(1)、功率放大器(2)、激励线圈(3)、导磁模块(4)、成像模块(5)和检测终端(6);所述信号发生器(1)输出端与功率放大器(2)输入端电连接;所述功率放大器(2)输出端与激励线圈(3)输入端电连接;所述激励线圈(3)设置于导磁模块(4)的导磁杆体上;所述导磁模块(4)与曲面构件(7)检测面通过电磁场耦合;所述成像模块(5)输出端与检测终端(6)输入端电连接。2.根据权利要求1所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述信号发生器(1)输出短时脉冲激励。3.根据权利要求1所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述激励线圈(3)缠绕在导磁模块(4)的两个导磁杆体上,两个导磁杆体上的两组激励线圈(3)缠绕方向、匝数和线径均相同。4.根据权利要求3所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述导磁模块(4)包括两个导磁杆体和连接在导磁杆体两端的两个导磁板体,两个导磁杆体间隔设置,两个导磁板体间隔设置。5.根据权利要求4所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述导磁模块(4)的导磁板体下沿的一侧设置弧形端面,弧形端面与曲面构件(7)检测面的轮廓形状相匹配,导磁板体下沿的弧形端面与曲面构件(7)检测面的间隙距离恒定。6.根据权利要求4所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述导磁模块(4)设置于靠近曲面构件(7)检测面但不与检测面接触的位置,导磁模块(4)的两个导磁杆体和两个导磁板体限定出检测区域。7.根据权利要求1所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其特征在于,所述成像模块(5)包括红外热像仪、结构光模块和光学相机,所述红外热像仪、结构光模块和光学相机的固定位置、接收端朝向及成像覆盖区域均相同。8.根据权利要求1所述的一种增材制造曲面构件电磁热成像检测装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:高运来刘卫葛增如张金玲王裕
申请(专利权)人:中国商用飞机有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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