一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，包括直线导轨、上下调整丝杠、上调整块压块、固定安装板、下调整块压块、厚度测量本体和测厚螺钉；所述直线导轨上安装有固定安装板，所述固定安装板上安装有下调整块压块，所述上调整块压块与下调整块压块固定连接，所述上调整块压块与下调整块压块之间夹持安装有上下调整丝杠，所述上下调整丝杠上套设有厚度测量本体，所述厚度测量本体的一端设置有若干测厚螺钉。解决了狭缝下拉压延法微晶玻璃生产中前后设备调整周期长，减少了前后工序设备调整时间，从而保障了微晶玻璃的顺利生产。的顺利生产。的顺利生产。

【技术实现步骤摘要】
一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置


[0001]本技术属于微晶玻璃制造领域，尤其是一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置。

技术介绍

[0002]狭缝下拉制造微晶玻璃的狭缝出口玻璃液厚度测量装置，是确定和判断狭缝下拉出口效应的重要测量装置，即测量狭缝下拉出口不同位置的玻璃液厚度，为后工序设备调整提供关键数据支撑，同时为前工序池炉通道工艺温度控制提供重要依据。
[0003]在微晶璃生产过程中，热端生产为持续不间断式生产，在生产过程中狭缝出口玻璃液的厚度分布及状态对前后工序都会造成严重影响，厚度测量不准确，容易导致后工序设备调整出错，并且反复，从而影响微晶玻璃生产良品率。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于解决现有技术中的问题，提供一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，确定和判断狭缝下拉出口不同位置的玻璃液厚度，为后工序设备调整提供关键数据支撑，同时为前工序池炉通道工艺温度控制提供重要依据。
[0005]为达到上述目的，本技术采用以下技术方案予以实现：
[0006]一种用于狭缝本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，包括直线导轨(2)、上下调整丝杠(5)、上调整块压块(6)、固定安装板(7)、下调整块压块(9)、厚度测量本体(10)和测厚螺钉(11)；所述直线导轨(2)上安装有固定安装板(7)，所述固定安装板(7)上安装有下调整块压块(9)，所述上调整块压块(6)与下调整块压块(9)固定连接，所述上调整块压块(6)与下调整块压块(9)之间夹持安装有上下调整丝杠(5)，所述上下调整丝杠(5)上套设有厚度测量本体(10)，所述厚度测量本体(10)的一端设置有若干测厚螺钉(11)。2.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在于，所述直线导轨(2)通过螺钉紧固在直线导轨固定板(12)上，所述直线导轨固定板(12)安装在移动支架(1)的一侧。3.根据权利要求1所述的一种用于狭缝下拉制造微晶玻璃的玻璃液测厚装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：苏双全，赵宇峰，王昭杰，
申请(专利权)人：陕西彩虹工业智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：