一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置制造方法及图纸

技术编号:37193014 阅读:30 留言:0更新日期:2023-04-20 22:53
本实用新型专利技术公开了一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置,包括测试架体,在所述测试架体下部设置有安装空间,安装空间中设置有给电插头、调压器、漏电保护机构,所述给电插头通过导线依次连接调压器、漏电保护机构,在安装空间顶部设置检测槽,检测槽中设有给电搭针,给电搭针则连接漏电保护机构,在所述测试架体上部设置测试装置。本实用新型专利技术结构简单,成本低,能适用于不同型号规格的集成电路测试,适用范围广,具有漏电保护功能,能大大提升集成电路的测试安全性能,避免集成电路在测试中损坏;相较于传统的测试方法,对集成电路的损伤更小,能一次性进行多点位、多电子元器件的漏电测试,且进行快速精准定位,大大提升漏电测试效率。电测试效率。电测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置


[0001]本技术属于集成电路生产设备
,尤其涉及一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置。

技术介绍

[0002]集成电路成品在出厂前, 需要进行多个功能测试,避免在后期安装使用过程中出现漏电导致集成电路或设备损坏的问题,以保证集成电路的性能,其中就有漏电测试。在对集成电路进行漏电测试时,为保证测试探针能感应检测到电流,需要把测试探针接触到集成电路表面或其上的电子元器件的表面,才能更精准的检测。现有的设备的测试探针在接触集成电路过程中,会出现因受力过大导致集成电路表面、电子元器件或测试探针损坏;其次,现有设备结构复杂,成本高,通常只能适用于规定型号测试,适用范围小,而且没有漏电保护功能,使用操作不方便。
[0003]因此,研制一种适用范围广,具有漏电保护功能的漏电测试装置是解决问题的关键。

技术实现思路

[0004]本技术在于提供一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置。
[0005]本技术通过以下技术方案实现:包括测试架体,在所述测试架体下部设置有安装空间,安装空间中设置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有保护功能的集成电路漏电测试装置,其特征在于:包括测试架体(1),在所述测试架体(1)下部设置有安装空间,安装空间中设置有给电插头(2)、调压器(3)、漏电保护机构(4),所述给电插头(2)通过导线依次连接调压器(3)、漏电保护机构(4),在安装空间顶部设置检测槽(5),检测槽(5)中设有给电搭针(6),给电搭针(6)则连接漏电保护机构(4),在所述测试架体(1)上部设置测试装置,所述测试装置包括升降机构(7)、安装板(8)、测试探针组(10)、信号线(12)、测试控制装置(13),所述安装板(8)通过升降机构(7)设置于测试架体(1)上,在安装板(8)上均设测试探针组(10),所述测试探针组(10)的下部向下穿出安装板(8),二者动配合,测试探针组(10)的顶部设置信号线(12)连接测试控制装置(13),所述测试控制装置(13)可拆卸地设置于测试架体(1)上。2.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置,其特征在于:所述的升降机构(7)包括滑座(7a)、滑轨(7b)、悬臂(7c)、升降控制杆(7d),所述滑轨(7b)竖立设置在测试架体(1)上,滑座(7a)设置于滑轨(7b)上,在滑座(7a)上设置垂直于滑轨(7b)的安装板(8),所述悬臂(7c)设置于测试架体(1)上部或顶部,且平行于安装板(8),在悬臂(7c)末端设置与之螺纹配合连接的升降控制杆(7d),升降控制杆(7d)的下端通过旋转关节连接安装板(8)。3.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置,其特征在于:所述的安装板(8)上横向均设若干调节槽(9),各调节槽(9)中设置至少两个测试探针组(10),测试探针组(10)与调节槽(9)滑动配合。4.根据权利要求1所述的具有保护功能的集成电路漏电测试装置,其特征在于:各所述的测试探针组(10)包括至少一根测试探针(11),所述测试探针(11)包括针体(11a)、缓冲部(11b)、下挡环(11c)、上挡环(11d)、弹簧(11e)、滑板(11f),所述针体(11a)同轴设置于缓冲部(11b)底端,在所述缓冲部(11b)下部设置下挡环(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:童宾何进安
申请(专利权)人:云南瑞讯达通信技术有限公司
类型:新型
国别省市:

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