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基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统技术方案

技术编号:37169993 阅读:25 留言:0更新日期:2023-04-20 22:41
本发明专利技术涉及一种基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,包括一套光学相干层析显微成像系统、一套光学相干层析振镜扫描成像系统和一个图像超分辨率重建模块,所述光学相干层析显微成像系统用于获取样品的高分辨率成像结果,所述光学相干层析振镜扫描成像系统用于快速获取样品的低分辨率成像结果,所述图像超分辨率重建模块用于通过训练数据学习高、低分辨率成像结果之间的高维映射关系,再通过对光学相干层析振镜扫描成像系统获得的低分辨率成像结果进行超分辨率重建,从而快速得到成像区域高分辨率的成像结果。该系统有利于获得兼具快速成像和高分辨率的成像结果。具快速成像和高分辨率的成像结果。具快速成像和高分辨率的成像结果。

【技术实现步骤摘要】
基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统


[0001]本专利技术属于光学层析成像
,具体涉及一种基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统。

技术介绍

[0002]光学相干层析成像是一种非接触、高轴向分辨率的光学内部成像技术,不仅广泛运用于眼科等医学领域,近年来也在工程无损检测等非医学领域中崭露头角。但是进一步提升系统的横向分辨率需要优化样品臂的聚焦条件,会带来无法使用二维扫描振镜进行快速成像、成像深度受限等问题。导致对于提升系统横向分辨率,实现样品截面高分辨率成像的相关研究兴趣寥寥。而高轴向分辨率的快速成像系统,对于需要高分辨率成像样品截面的工程应用束手无策。研制兼具快速成像和高横向分辨率特点的光学相干层析成像系统,对于扩展光学相干层析技术的应用前景具有重大意义。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的在于提供一种基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,该系统有利于获得兼具快速成像和高分辨率的成像结果。
[0004]为实现上述目的,本专利技术采用的技术方案是:一种基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,包括一套光学本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,其特征在于,包括一套光学相干层析显微成像系统、一套光学相干层析振镜扫描成像系统和一个图像超分辨率重建模块,所述光学相干层析显微成像系统用于获取样品的高分辨率成像结果,所述光学相干层析振镜扫描成像系统用于快速获取样品的低分辨率成像结果,所述图像超分辨率重建模块用于通过训练数据学习高、低分辨率成像结果之间的高维映射关系,再通过对光学相干层析振镜扫描成像系统获得的低分辨率成像结果进行超分辨率重建,从而快速得到成像区域高分辨率的成像结果。2.根据权利要求1所述的基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,其特征在于,所述光学相干层析振镜扫描成像系统包括第一上位机、第一宽带光源、第一光纤耦合器、第一参考臂、第一样品臂和第一光谱仪,所述第一参考臂包括第一准直透镜、第一聚焦透镜和第一反射镜,所述第一样品臂包括第二准直透镜、二维扫描振镜和扫描透镜,所述第一光谱仪包括第三准直透镜、第一衍射光栅、第二聚焦透镜和第一CCD相机;第一宽带光源发出低相干光源进入第一光纤耦合器中被分为参考光与探测光,参考光经第一准直透镜准直成平行光后经第一聚焦透镜再次聚焦照射至第一反射镜上发生后向反射,反射光经原光路返回至第一光纤耦合器中;探测光经第二准直透镜准直成平行光后经二维扫描振镜改变方向后由扫描透镜聚焦在被测样品表面;通过第一上位机控制二维扫描振镜上的X、Y轴的镜片转动,实现聚焦光斑在样品表面的快速二维扫描;照射至样品的探测光发生背向散射,背向散射光经原光路收集后返回至第一光纤耦合器中;返回的探测光和参考光在第一光纤耦合器中耦合并发生干涉;第一光谱仪接收和采集干涉信号并上传至第一上位机进行处理;通过解调干涉信号获得探测点的轴向结构信息,结合二维扫描获得样品的三维成像结果。3.根据权利要求1所述的基于图像超分辨率重建的光学相干层析系统,其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员:钟舜聪陈文治林杰文张秋坤
申请(专利权)人:福州大学
类型:发明
国别省市:

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