基于规则的工艺数据校验方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于规则的工艺数据校验方法及装置，方法包括如下步骤，将工艺卡片转换为结构化数据；制作校验配置文件，包括条件、判断规则以及显示；读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置；根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据，并显示校验结果。本发明专利技术的方法能够实现自动校验工艺数据的正确性，并将校验结果按工艺、工序展示给用户，以便用户快速定位问题，进行修改，借助工艺校验装置，提高了工艺编制效率，减少了人工成本，提升了工艺编制质量；本发明专利技术的方法实现了校验规则的可配置，支持不同客户的不同需求。支持不同客户的不同需求。支持不同客户的不同需求。

【技术实现步骤摘要】
基于规则的工艺数据校验方法及装置


[0001]本专利技术属于工艺校验
，尤其是涉及一种基于规则的工艺数据校验方法及装置。

技术介绍

[0002]零部件生产工艺具有专业性，一般都比较复杂，复杂的工艺甚至达到上百页，而且是人都会出错，所以企业里的工艺人员使用CAPP系统编制的工艺容易隐含错误，如漏填、填错、数据约束错误等。
[0003]现有的CAPP系统，工艺人员编制工艺完成后，通过人工检查方式，检查工艺正确性，有些具有一定规模的企业通过开发校验模块，用程序校验工艺数据。
[0004]由于工艺的复杂性，编制的工艺容易隐含错误，企业大多通过人工检查方式解决，但费时费力，并且不能保证准确性，虽然有些企业针对本企业工艺数据规则定制开发校验模块，但定制开发成本高，并且由于是针对特定企业定制的校验模块，所以很难推广使用。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本专利技术提供了一种基于规则的工艺数据校验方法及装置，实现自动校验工艺的正确性。
[0006]为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：
[0007]基于规则的工艺数据校验方法，包括如下步骤
[0008]将工艺卡片转换为结构化数据；
[0009]制作校验配置文件，包括条件、判断规则以及显示；
[0010]读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置；
[0011]根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据，并显示校验结果。
[0012]进一步的，所述工艺卡片包括对过程卡中工序内容的描述。
[0013]进一步的，所述读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置，
[0014]如果无需校验，则提示无校验配置。
[0015]进一步的，所述根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据包括
[0016]对根据工艺卡片形成的结构化数据进行解析，形成对象树；
[0017]将工艺对象作为根节点，将根节点置为当前对象；
[0018]获取和当前对象有关的校验配置文件，取第一个校验配置文件；
[0019]根据校验配置文件中的条件，判断当前对象是否符合判断条件，如果不符合条件，则取下一条校验配置文件，进行判断条件；
[0020]如果符合条件，则判断当前对象是否符合判断规则，如果判断通过，则取下一条校验配置文件，进行判断条件；
[0021]如果上述判断失败，则将当前对象置为有问题；
[0022]校验配置文件里获取问题对象描述配置，通过当前对象及关联对象属性值格式化出问题对象描述信息；
[0023]校验配置文件里获取错误显示信息配置，通过当前对象及关联对象属性值格式化出错误显示信息；
[0024]取下一校验配置文件，判断是否为空；
[0025]根据深度优先遍历，获取下一个校验对象，对所有对象进行递归循环，每个对象分别进行上述步骤的校验；
[0026]对象全部遍历完成后，获取标记为有问题的对象，如果为空，则通过校验，否则展示校验结果；
[0027]按照工艺、工序分组深度优先遍历出校验失败的对象，展示校验结果。
[0028]进一步的，所述对象树里包括工艺、工序、工步、以及工装。
[0029]进一步的，所述展示校验结果包括对象描述信息以及错误描述信息。
[0030]进一步的，所述对象描述信息包含对象标识，用于快速定位有问题的对象。
[0031]本专利技术还提供了一种基于规则的工艺数据校验装置，包括
[0032]数据转换单元，用于将工艺卡片转换为结构化数据；
[0033]校验配置制作单元，用于制作校验配置文件，包括条件、判断规则以及显示；
[0034]判断单元，用于读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置；
[0035]校验单元，用于根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据，并显示校验结果。
[0036]本专利技术还提供了一种非易失性存储介质，所述非易失性存储介质用于存储程序，其中，所述程序运行时控制所述非易失性存储介质所在的设备执行上述基于规则的工艺数据校验方法。
[0037]本专利技术还提供了一种电子装置，包含处理器和存储器，所述存储器中存储有计算机可读指令，所述处理器用于运行所述计算机可读指令，其中，所述计算机可读指令运行时执行上述基于规则的工艺数据校验方法。
[0038]相对于现有技术，本专利技术所述的一种基于规则的工艺数据校验方法及装置具有以下优势：
[0039]本专利技术的方法能够实现自动校验工艺数据的正确性，并将校验结果按工艺、工序展示给用户，以便用户快速定位问题，进行修改，借助工艺校验装置，提高了工艺编制效率，减少了人工成本，提升了工艺编制质量；
[0040]本专利技术的方法实现了校验规则的可配置，支持不同客户的不同需求。
附图说明
[0041]构成本专利技术的一部分的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0042]图1为本专利技术实施例中的方法流程示意图；
[0043]图2为本专利技术实施例中的方法中校验结构化数据的子流程示意图；
[0044]图3为本专利技术实施例中的工艺卡片示意图；
[0045]图4为本专利技术实施例中的校验配置示意图；
[0046]图5为本专利技术实施例中的校验失败结果示意图；
[0047]图6为本专利技术实施例中的校验规则示意图；
[0048]图7为本专利技术实施例中的规则配置中的对象描述示意图。
具体实施方式
[0049]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0050]在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本专利技术的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
[0051]在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以通过具体情本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.基于规则的工艺数据校验方法，其特征在于：包括如下步骤将工艺卡片转换为结构化数据；制作校验配置文件，包括条件、判断规则以及显示；读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置；根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据，并显示校验结果。2.根据权利要求1所述的基于规则的工艺数据校验方法，其特征在于：所述工艺卡片包括对过程卡中工序内容的描述。3.根据权利要求1所述的基于规则的工艺数据校验方法，其特征在于：所述读取校验配置文件，根据工艺规程判断此种工艺是否需要校验，如果无需校验，则无需配置，如果无需校验，则提示无校验配置。4.根据权利要求1所述的基于规则的工艺数据校验方法，其特征在于：所述根据校验配置文件里的条件和判断规则，校验结构化数据包括对根据工艺卡片形成的结构化数据进行解析，形成对象树；将工艺对象作为根节点，将根节点置为当前对象；获取和当前对象有关的校验配置文件，取第一个校验配置文件；根据校验配置文件中的条件，判断当前对象是否符合判断条件，如果不符合条件，则取下一条校验配置文件，进行判断条件；如果符合条件，则判断当前对象是否符合判断规则，如果判断通过，则取下一条校验配置文件，进行判断条件；如果上述判定失败，则将当前对象置为有问题；校验配置文件里获取问题对象描述配置，通过当前对象及关联对象属性值格式化出问题对象描述信息；校验配置文件里获取错误显示信息配置，通过当前对象及关联对象属性值格式化出错误显示信息；取下一校验配置文件，判断是否为空；根据深度优先遍历，获取下一...

【专利技术属性】
技术研发人员：齐鑫，
申请(专利权)人：大方智造天津科技有限公司，
类型：发明
国别省市：