【技术实现步骤摘要】
高光效发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管
[0001]本专利技术涉及半导体光电器件领域,尤其涉及一种高光效发光二极管外延片及其制备方法、发光二极管。
技术介绍
[0002]目前,对于GaN基LED而言,其主要发光层域为InGaN量子阱层,在外延工艺中通过调控InGaN量子阱层的In组分来调控发光波长,如要想获得发光波长更长的光,就必须提高量子阱层的In组分,也就要在外延过程中使量子阱层掺入更多的In。但由于衬底和外延层采用异质材料,两者的晶格失配相差较大,这种晶格失配的存在会在材料中引入穿透位错,这种位错除非受到阻挡或外力而发生弯曲外,通常会笔直的向上延伸穿透整个材料结构,当它延伸到多量子阱层时,会导致多量子阱晶体质量下降和较大的晶格失配,会减少In的并入,从而减少了发光效率,同时随着In量的增加,量子阱垒的晶格失配率不断的上升,压电极化效应也不断的增强,从而引起发光效率的不断下降,非辐射复合不断的增加,造成光电性能下降。
技术实现思路
[0003]本专利技术所要解决的技术问题在于,提供一种高光效发光二 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高光效发光二极管外延片,其特征在于,包括衬底和依次设于所述衬底上的N
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GaN层、应变调控层、多量子阱层和P
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GaN层,所述应变调控层为周期性结构,周期数≥5,每个周期均包括层叠设置的AInGaN层和AlInGaN层;其中,A为B、Mg或Zn中的一种或多种。2.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述AInGaN层中,A组分占比为0.01~0.05,In组分占比为0.01~0.06;所述AlInGaN层中,Al组分占比为0.01~0.1,In组分占比为0.05~0.12。3.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述应变调控层的周期数为20~100;单个所述AInGaN层的厚度为5
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20nm,单个所述AlInGaN层的厚度为50
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70nm。4.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,所述AInGaN层为BInGaN层,其中,B组分的占比为0.02~0.04,In组分的占比为0.03~0.06。5.如权利要求1所述的高光效发光二极管外延片,其特征在于,应变调控层中AInGaN层的厚度沿外延片生长方向呈恒定、递增变化或递减变化;应变调控层中的AlInGaN层的厚度沿外延片生长方向呈恒定、递增变化或递减变化。6.如权利要求1所述的高光效发光二极...
【专利技术属性】
技术研发人员:郑文杰,程龙,高虹,刘春杨,胡加辉,金从龙,
申请(专利权)人:江西兆驰半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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