本发明专利技术公开了一种降低显示面板电测误判率的方法及电测设备,方法包括步骤:在电测设备中设置第一组测试PAD及第二组测试PAD;将第一组测试PAD与第二组测试PAD间隔设置,分别与待测显示面板中的数据线一一对应连接;以帧为单位向分别数据线间隔输出正极性、负极性驱动时序。通过增加电测设备的测试PAD,并将测试PAD与对应的数据线一一连接,并间隔输出正极性、负极性时序,避免极性相同的数据线相邻情况的出现,防止在电测时,电测设备误判出现的横纹和百叶窗现象,解决了由于电测设备在对显示面板进行电测时,由于时序原因,导致显示面板被误判为NG品拦截出来,导致良率降低,产能减少的问题。减少的问题。减少的问题。
【技术实现步骤摘要】
一种降低显示面板电测误判率的方法及电测设备
[0001]本专利技术涉及显示面板测试
,特别涉及一种降低显示面板电测误判率的方法及电测设备。
技术介绍
[0002]显示面板通常会进行出货前的电测工序,从而防止一些不良品流入后段。但是现有设备以及时序在实际电测过程中存在误判的情况,即将OK品因为时序等电测方法的原因,而误判为NG品拦截出来,导致良率降低,产能减少等情况。
[0003]如图1,现有电测设备通常由R、G、B三个PAD来构成数据线的电压来源,很明显,参考图2中的电测驱动时序,出现了正负正正负正的循环,两个正极性的数据线由于处于相邻状态,到时实际电测操作过程中,待测显示屏出现了百叶窗现象,但是实际上在后段模组工序绑定上驱动IC芯片点亮状态下观看该显示屏,则是正常的OK品。由于时序设置不良,电测人员误判为不良品,导致产品良率降低。
[0004]中国专利CN111261089B中,公开一种显示装置和电子设备,该显示装置通过在驱动芯片和静电测试点之间设置控制单元,在进行静电测试时,该控制单元在第一控制信号以及第二控制信号的控制下,与驱动芯片之间断开,形成驱动芯片的保护电路,其目的是避免静电对驱动芯片的损坏,不能解决上述问题。
技术实现思路
[0005]现有技术中,在对显示面板进行电测时,由于时序原因,导致显示面板被误判为NG品拦截出来,导致良率降低,产能减少。
[0006]针对上述问题,提出一种降低显示面板电测误判率的方法及电测设备,通过增加电测设备的测试PAD,并将测试PAD与对应的数据线一一连接,并间隔输出正极性、负极性时序,避免极性相同的数据线相邻情况的出现,防止在电测时,电测设备误判出现的横纹和百叶窗现象,解决了由于电测设备在对显示面板进行电测时,由于时序原因,导致显示面板被误判为NG品拦截出来,导致良率降低,产能减少的问题。
[0007]第一方面,一种降低显示面板电测误判率的方法,包括:
[0008]步骤100、在电测设备中设置第一组测试PAD及第二组测试PAD;
[0009]步骤200、将所述第一组测试PAD与第二组测试PAD间隔设置,分别与待测显示面板中的数据线一一对应连接;
[0010]步骤300、以帧为单位向分别所述数据线间隔输出正极性、负极性驱动时序。
[0011]结合本专利技术所述的降低显示面板电测误判率的方法,第一种可能的实施方式中,所述数据线数量为6个,所述第一组测试PAD包括第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD,所述第二组测试PAD包括第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD。
[0012]结合本专利技术所述第一种可能的实施方式,第二种可能的实施方式中,所述步骤200包括:
[0013]步骤210、将所述第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD、第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD依次连接所述待测显示面板中的第一数据线、第二数据线、第三数据线、第四数据线、第五数据线、第六数据线;
[0014]步骤220、所述电测设备以帧为单位向所述第一数据线、第二数据线、第三数据线、第四数据线、第五数据线、第六数据线分别输出第一驱动时序、第二驱动时序、第三驱动时序、第四驱动时序、第五驱动时序、第六驱动时序。
[0015]结合本专利技术第二种可能的实施方式,第三种可能的实施方式中,所述步骤300包括:
[0016]步骤310、将所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出正极性时序;
[0017]步骤320、将所述第一G测试PAD、第二R测试PAD、第二B测试PAD在偶数帧输出负极性时序。
[0018]结合本专利技术第二种可能的实施方式,第四种可能的实施方式中,所述步骤300还包括:
[0019]步骤330、将所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出负极性时序;
[0020]步骤340、将所述第一G测试PAD、第二R测试PAD、第二B测试PAD在偶数帧输出正极性时序。
[0021]第二方面,一种显示面板电测设备,采用第一方面所述的方法,包括:
[0022]控制电路;
[0023]第一组测试PAD及第二组测试PAD;
[0024]所述第一组测试PAD及第二组测试PAD分别与所述控制电路电连接;
[0025]所述第一组测试PAD及第二组测试PAD间隔设置,用于分别与待测显示面板中的数据线一一对应连接;
[0026]所述控制电路控制所述第一组测试PAD及第二组测试PAD以帧为单位向分别所述数据线间隔输出正极性、负极性驱动时序。
[0027]结合本专利技术第二方面所述的显示面板电测设备,第一种可能的实施方式中,所述数据线数量为6个,所述第一组测试PAD包括第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD,所述第二组测试PAD包括第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD。
[0028]结合第二方面第一种可能实施方式,第二种可能实施方式中,所述第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD、第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD依次连接所述待测显示面板中的第一数据线、第二数据线、第三数据线、第四数据线、第五数据线、第六数据线。
[0029]结合第二方面第二种可能实施方式,第三种可能实施方式中,所述控制电路控制所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出正极性时序,所述控制电路控制所述第一G测试PAD、第二R测试PAD、第二B测试PAD在偶数帧输出负极性时序。
[0030]结合第二方面第二种可能实施方式,第四种可能实施方式中,所述控制电路控制所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出负极性时序,所述控制电路控制所述第一G测试PAD、第二R测试PAD、第二B测试PAD在偶数帧输出正极性时序。
[0031]实施本专利技术所述的一种降低显示面板电测误判率的方法及电测设备,通过增加电测设备的测试PAD,并将测试PAD与对应的数据线一一连接,并间隔输出正极性、负极性时序,避免极性相同的数据线相邻情况的出现,防止在电测时,电测设备误判出现的横纹和百叶窗现象,解决了由于电测设备在对显示面板进行电测时,由于时序原因,导致显示面板被误判为NG品拦截出来,导致良率降低,产能减少的问题。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1是现有技术中电测设备与显示面板连接示意图;
[0034]图2是现有技术中电测设备的驱动时序示意图;
[0035]图3是本专利技术电测设备与显示面板连接示意图;
[0036]本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种降低显示面板电测误判率的方法,其特征在于,包括:步骤100、在电测设备中设置第一组测试PAD及第二组测试PAD;步骤200、将所述第一组测试PAD与第二组测试PAD间隔设置,分别与待测显示面板中的数据线一一对应连接;步骤300、以帧为单位向分别所述数据线间隔输出正极性、负极性驱动时序。2.根据权利要求1所述的降低显示面板电测误判率的方法,其特征在于,所述数据线数量为6个,所述第一组测试PAD包括第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD,所述第二组测试PAD包括第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD。3.根据权利要求2所述的降低显示面板电测误判率的方法,其特征在于,所述步骤200包括:步骤210、将所述第一R测试PAD、第一G测试PAD、第一B测试PAD、第二R测试PAD、第二G测试PAD、第二B测试PAD依次连接所述待测显示面板中的第一数据线、第二数据线、第三数据线、第四数据线、第五数据线、第六数据线;步骤220、所述电测设备以帧为单位向所述第一数据线、第二数据线、第三数据线、第四数据线、第五数据线、第六数据线分别输出第一驱动时序、第二驱动时序、第三驱动时序、第四驱动时序、第五驱动时序、第六驱动时序。4.根据权利要求3所述的降低显示面板电测误判率的方法,其特征在于,所述步骤300包括:步骤310、将所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出正极性时序;步骤320、将所述第一G测试PAD、第二R测试PAD、第二B测试PAD在偶数帧输出负极性时序。5.根据权利要求3所述的降低显示面板电测误判率的方法,其特征在于,所述步骤300还包括:步骤330、将所述第一R测试PAD、第一B测试PAD、第二G测试PAD在奇数帧输出负极性时序;步骤340、将...
【专利技术属性】
技术研发人员:伍小丰,张东琪,付浩,杜超,
申请(专利权)人:信利仁寿高端显示科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。