微纳卫星磁强计快速校准方法技术

一种微纳卫星磁强计快速校准方法，将微纳卫星分别绕星体XYZ三轴进行旋转，每个轴采集四个静态点，每次采集多组数据，取平均值作为该点磁强计的测量值，通过最小二乘法计算得到每个轴上待消除的硬铁磁场分量误差，从而将球心修正到原点。本发明专利技术利用地磁场的方向和大小恒定，当传感器在空间任意旋转时，地磁场的轨迹理论上是在一个球面上，未经校准的磁强计测得的磁场会是一个中心不在坐标系原点的球，这时的磁强计数据不能正确反应磁场的方向和大小这一特性，能在卫星进入整星测试后，使用卫星本体，无需借助其他高精度磁强计，即可实现微纳卫星磁强计的快速校准。微纳卫星磁强计的快速校准。微纳卫星磁强计的快速校准。

【技术实现步骤摘要】
微纳卫星磁强计快速校准方法


[0001]本专利技术涉及的是一种微纳卫星控制领域的技术，具体是一种微纳卫星磁强计快速校准方法。

技术介绍

[0002]磁特性是卫星姿态控制与稳定的重要特性之一。磁强计在微纳卫星中的输出精度主要受两个方面因素影响。一为磁强计自身存在的传感器误差，包括传感器零位偏差、灵敏度误差，正交性误差等；二为环境磁干扰误差，微纳卫星体积较小，星载设备电磁环境复杂，会产生较强的硬磁干扰与软磁干扰，使得磁强计产生测量偏差。如何消除与削弱这些误差对磁强计的影响，是提高微纳卫星磁强计输出精度的关键。
[0003]常规的磁强计校准方法，需要零磁实验室或标准高精度磁强计，测量剩磁后在卫星内部布置磁块抵消剩磁，但微纳卫星整星内部空间有限，采用这种方法测试成本高，耗时长，不易实现，不能实现微纳卫星快速生产部署。

技术实现思路

[0004]本专利技术针对现有微纳卫星磁强计校准需要多个传感器配合，存在成本高、测试周期长、校准流程难度较大的问题，提出一种微纳卫星磁强计快速校准方法，利用了地磁场的方向和大小恒定，当传感器在空间任意本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微纳卫星磁强计快速校准方法，其特征在于，将微纳卫星分别绕星体XYZ三轴进行旋转，每个轴采集四个静态点，每次采集多组数据，取平均值作为该点磁强计的测量值(M
xi
，M
yi
，M
zi
)，通过最小二乘法计算得到每个轴上待消除的硬铁磁场分量误差(M
′
x
，M
′
y
，M
′
z
)，从而将球心修正到原点。2.根据权利要求1所述的微纳卫星磁强计快速校准方法，其特征是，所述的最小二乘法是指：求出其中：其中：a、b、c分别表示i＝10，11，12，M
xi
‑
M
x(i+1)
＝ΔM
xi(i+1)
，i＝1，3，5，7，9，11，3.根据权利要求1或2所述的微纳卫星磁强计快速校准方法，其特征是，具体包括：第一步，对整星进行上电，使磁强计的校准环境与微纳卫星运行过程中的工作环境相近；第二步，将微纳卫星分别绕星体XYZ三轴进行旋转，每旋转90
°
采集多组磁强计数据，取平均值，得到每一个静态位置的磁强计测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈强，康泽禹，吴树范，褚孙豪，慕忠成，黄益新，张祎，莫乾坤，王晓亮，
申请(专利权)人：上海交通大学，
类型：发明
国别省市：