水质分析仪和水质分析方法技术

校正运算部(102)基于由吸光度计算部(101)计算出的各波长下的吸光度，使用校正式进行运算，由此进行吸光度的校正。浊度成分检测处理部(103)使浊度标准溶液被供给到氧化反应部，使测定光从光源(51)照射到氧化反应后的浊度标准溶液，由此利用检测器(52)检测通过了浊度标准溶液后的测定光的多个波长下的强度。校正系数更新处理部(104)使得吸光度计算部(101)基于由浊度成分检测处理部(103)检测出的多个波长下的强度来计算各波长下的吸光度，并基于计算出的各波长下的吸光度，更新存储部(200)中存储的校正系数。(200)中存储的校正系数。(200)中存储的校正系数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】水质分析仪和水质分析方法


[0001]本专利技术涉及一种能够测定试样水中的总氮浓度的水质分析仪和水质分析方法。

技术介绍

[0002]例如，在总氮总磷分析仪等水质分析仪中具备使试样水中的成分发生氧化反应的反应器。反应器中的氧化反应后的试样水被供给到测定单元，从光源对测定单元内的试样水照射测定光。利用检测器检测通过了测定单元内的试样水后的测定光，基于该检测器中的检测强度来计算试样水中的目标成分的吸光度(例如，参照下述专利文献1)。
[0003]现有技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2016
‑
80441号公报

技术实现思路

[0006]专利技术要解决的问题
[0007]在试样水中含有浊度成分的情况下，不仅目标成分(例如氮氧化物)会吸光，还产生浊度成分的吸光，因此无法准确地计算目标成分的吸光度。因此，想到了通过使用校正式进行运算来进行吸光度的校正从而去除浊度成分的吸光的影响。
[0008]例如想到了：基于与试样水中的总氮对应的测定用波长下的检测强本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种水质分析仪，能够测定含有浊度成分的试样水中的总氮浓度，所述水质分析仪具备：氧化反应部，其使试样水中的成分发生氧化反应；光源，其对所述氧化反应部中的氧化反应后的试样水照射测定光；检测器，其检测通过了所述试样水后的测定光的多个波长下的强度；吸光度计算部，其基于由所述检测器检测出的多个波长下的强度，来计算各波长下的吸光度；校正运算部，其基于由所述吸光度计算部计算出的各波长下的吸光度，使用校正式进行运算，由此进行吸光度的校正；存储部，其存储所述校正式所包含的校正系数；浊度成分检测处理部，其使浊度标准溶液被供给到所述氧化反应部，使测定光从所述光源照射到氧化反应后的浊度标准溶液，由此利用所述检测器检测通过了浊度标准溶液后的测定光的所述多个波长下的强度；以及校正系数更新处理部，其使得所述吸光度计算部基于由所述浊度成分检测处理部检测出的所述多个波长下的强度来计算各波长下的吸光度，并基于计算出的各波长下的吸光度，更新所述存储部中存储的所述校正系数。2.根据权利要求1所述的水质分析仪，其特征在于，所述多个波长包含与试样水中的总氮对应的测定用波长和波长比所述测定用波长更长的浊度校正用波长。3.根据权利要求2所述的水质分析仪，其特征在于，所述校正系数包含与所述浊度校正用波长下的吸光度相乘的比例项。4.根据权利要求2或3所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：北田佳夫，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：