一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统，包括信号激发模块、声发射模块、信号采集模块、信号处理模块、声发射仪器；所述信号激发模块用于发射弹性波信号；所述声发射模块用于接收弹性波信号；所述信号采集模块用于采集一定模态的弹性波信号；所述信号处理模块用于将信号采集模块采集到的弹性波信号进行分析处理。本发明专利技术，利用弹性波发射器主动产生弹性波波源，弹性波在传播过程中与缺陷产生反射和散射等复杂作用，进而借助于声发射系统特有的高灵敏特性，实现微弱缺陷信号的拾取，最后再借助于图像增强等算法，实现缺陷成像，成像结果直观。成像结果直观。成像结果直观。

【技术实现步骤摘要】
一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统


[0001]本专利技术涉及压力容器缺陷检测
，尤其涉及一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统。

技术介绍

[0002]压力容器是指盛装气体或者液体，承载一定压力的密闭设备,压力容器在制造过程易产生缺陷，特别是焊缝区域，可能产生裂纹、未熔合等危险性缺陷,出厂前需要对其进行缺陷检测，目前主要采用声发射检测技术对制造缺陷进行检出。
[0003]但是，现有的声发射检测技术虽然具有较高的检测效率，但是声发射检测需要对压力容器进行打压，从而利用缺陷在压力载荷下的扩展产生信号源，这种方法使得原本未超标的良性缺陷产生扩展，从而对压力容器产生不可逆的损伤，因此，现提出一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统，使其能真正无损于压力容器达到缺陷检出效果。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有的声发射检测技术虽然具有较高的检测效率，但是声发射检测需要对压力容器进行打压，从而利用缺陷在压力载荷下的扩展产生信号源，这种方法使得原本未超标的良性缺陷产生本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统，其特征在于，包括信号激发模块、声发射模块、信号采集模块、信号处理模块、声发射仪器；所述信号激发模块用于发射弹性波信号；所述声发射模块用于接收弹性波信号；所述信号采集模块用于采集一定模态的弹性波信号；所述信号处理模块用于将信号采集模块采集到的弹性波信号进行分析处理；其无损检测系统包括以下步骤：步骤一：将N个声发射模块以圆形或者方形阵列的形式，布置于无缺陷的标准试块，用于接收弹性波信号；步骤二：将1个信号激发模块布置于其中一阵列点，使其发射弹性波信号，将信号激发模块的发射方向对准编号为1,2,....,N的声发射模块；步骤三：调整声发射仪器的信号触发门限，出现传感器的直达波形；步骤四：以编号s01,s02,...,s0N记录和保存采集到的无缺陷弹性波信号，作为N个参考信号；步骤五：在目标检测对象上以相同的方式布置检测传感器阵列，重复步骤一至步骤四，采集得到N个含缺陷的弹性波信号s1、s2、...、sN，每个信号长度为L，对采集到的含缺陷弹性波信号进行增益和平移处理，使其与无缺陷弹性波信号的波峰幅值和位置相同；步骤六：利用处理后的含缺陷信号减去参考信号，获得纯缺陷波信号：sqi＝si
‑
s0i；步骤七：将目标检测区域划分为M*M的矩形区域，利用每个像素点的左边与发射和接收传感器坐标位置，除以弹性波的速度，计算得到每个像素点对应的弹性波的传播时间矩阵Mt，利用弹性波时间传播矩阵，从对应的缺陷信号sq信号中找到对应的幅值sq(i)，从而构建像素矩阵IM(x,y)＝sq(Mt(xy))；步骤八：重复步骤六，对所有的N个信号进行构建像素矩阵IM的处理；对N个IM矩阵进行叠加从而获得缺陷图像的二维矩阵，并进行绘制；利用得到的缺陷影像对缺陷进行识别和位置测量。2.根据权利要求1所述的一种基于声发射系统的带激发装置的弹性波无损检测系统，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：谭凯，高彩霞，徐义，艾岭，张俊，李飞翔，李昌胜，林海，吴同津，杨拓，余灯，
申请(专利权)人：武汉大学湖北中恒善能电力技术有限公司，
类型：发明
国别省市：