用于无全旋转安全测量的角度传感器校准方法技术

在一些实现方式中，与小于360度测量范围相关联的感测装置可获得一组信号值。感测装置可以被配置成感测存在于感测装置处的磁场并且基于磁场收集传感器数据。所述一组信号值可以被包括在由感测装置收集的传感器数据中，并且可以对应于感测装置处存在的磁场的一个或多个分量。感测装置可以基于所述一组信号值确定一组校准点和一组角位置。感测装置可以基于所述一组校准点和所述一组角位置计算一组校准参数。感测装置可以利用所述一组校准参数来执行一个或多个安全检查。执行一个或多个安全检查。执行一个或多个安全检查。

【技术实现步骤摘要】
用于无全旋转安全测量的角度传感器校准方法


[0001]本公开涉及角度传感器校准领域，特别地涉及用于角度传感器校准的方法、相关的角度传感器和系统。

技术介绍

[0002]角度传感器可以包括一组感测组件，感测组件感测由目标对象产生或失真的磁场的不同分量(例如，x分量和y分量)的强度。角度传感器可以基于磁场的分量的强度来确定目标对象的角位置，并且可以提供指示由角度传感器确定的角位置的输出。

技术实现思路

[0003]在一些实现方式中，一种方法包括通过感测装置获得一组信号值，感测装置被配置成感测存在于感测装置处的磁场并且基于磁场收集传感器数据，传感器数据与小于360度的测量范围相关联，一组信号值被包括在由感测装置收集的传感器数据中，并且所述一组信号值对应于存在于感测装置处的磁场的一个或多个分量；由感测装置并且基于所述一组信号值确定一组校准点和一组角位置，所述一组校准点中的每个校准点与所述一组角位置中的相应角位置相关联；由感测装置基于所述一组校准点和所述一组角位置计算一组校准参数；由感测装置利用所述一组校准参数来执行一个或多个安全检查；以本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方法，包括：由感测装置获得一组信号值，所述感测装置被配置成感测存在于所述感测装置处的磁场并且基于所述磁场收集传感器数据，所述传感器数据与小于360度的测量范围相关联，所述一组信号值被包括在由所述感测装置收集的所述传感器数据中，并且所述一组信号值对应于存在于所述感测装置处的所述磁场的一个或多个分量；由所述感测装置并且基于所述一组信号值确定一组校准点和一组角位置，所述一组校准点中的每个校准点与所述一组角位置中的相应角位置相关联；由所述感测装置基于所述一组校准点和所述一组角位置计算一组校准参数；由所述感测装置利用所述一组校准参数来执行一个或多个安全检查；并且由所述感测装置输出所述一个或多个安全检查的结果。2.根据权利要求1所述的方法，其中，计算所述一组校准参数包括：通过求解一组超定方程来执行椭圆回归；并且基于执行所述椭圆回归来计算所述一组校准参数。3.根据权利要求2所述的方法，其中，执行所述椭圆回归的结果包括值矩阵，并且其中，所述值矩阵包括：所述值矩阵的第一行和第一列中的第一值；和在所述值矩阵的第二行和所述第一列中的第二值；并且其中，计算所述一组校准参数包括：基于计算所述第二值的负值除以所述第一值的反正切，来计算所述一组校准参数中的校准参数。4.根据权利要求3所述的方法，其中，所述校准参数是第一校准参数，并且其中，计算所述一组校准参数还包括：计算所述第一校准参数的余弦以确定第三值；计算所述第一校准参数的正弦以确定第四值；基于从所述第三值减去所述第四值来确定第五值；并且基于将所述第一值和所述第二值的总和除以所述第五值，来计算所述一组校准参数中的第二校准参数。5.根据权利要求2所述的方法，其中，执行所述椭圆回归的结果包括值矩阵，其中，所述值矩阵包括：所述值矩阵的第一行和第二列中的第一值；和在所述值矩阵的第二行和所述第二列中的第二值；并且其中，计算所述一组校准参数包括：基于将所述第一值除以所述第二值来计算第三值；并且基于计算所述第三值的反正切来计算所述一组校准参数中的校准参数。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述校准参数是第一校准参数，并且其中，计算所述一组校准参数还包括：计算所述第一校准参数的余弦以确定第四值；计算所述第一校准参数的正弦以确定第五值；并且基于将所述第一值和所述第二值的总和除以所述第四值和所述第五值的总和，来计算
所述一组校准参数中的第二校准参数。7.根据权利要求2所述的方法，其中，执行所述椭圆回归的结果包括值矩阵，其中，所述值矩阵包括：所述值矩阵的第三行和第一列中的第一值；并且其中，计算所述一组校准参数包括：计算所述一组校准参数中的对应于所述第一值的校准参数。8.根据权利要求2所述的方法，其中，执行所述椭圆回归的结果包括值矩阵，其中，所述值矩阵包括：所述值矩阵的第三行和第二列中的第一值；并且其中，计算所述一组校准参数包括：计算所述一组校准参数中的对应于所述第一值的校准参数。9.一种角度传感器，包括：一个或多个感测元件，被配置成：感测存在于所述一个或多个感测元件处的磁场；并且基于所述磁场收集传感器数据，所述传感器数据与小于360度的测量范围相关联；以及一个或多个处理器，被配置成：获得一组信号值，所述一组信号值被包括在由所述一个或多个感测元件收集的所述传感器数据中，并且所述一组信号值对应于存在于所述一个或多个感测元件处的所述磁场的一个或多个分量；基于所述一组信号值确定一组校准点和一组角位置，所述一组校准点中的每个校准点与所述一组角位置中的相应角位置相关联；基于所述一组校准点和所述一组角位置计算一组校准参数；利用所述一组校准点执行一个或多个安全检查；并且输出所述一个或多个安全检查的结果。10.根据权利要求9所述的角度传感器，其中，用于计算所述一组校准参数的所述一个或多个处理器被配置成：通过求解一组超定方程来执行椭圆回归；并且基于执行所述椭圆回归来计算所述一组校准参数。11.根据权利要求10所述的角度传感器，其中，执行所述椭圆回归的结果包括值矩阵，其中，所述值矩阵包括：所述值矩阵的第一行和第一列中的第一值；并且在所述值矩阵的第二行和所述第一列中的第二值；并且其中，用于计算所述一组校准参数的所述一个或多个处理器被配置成：基于将所述第二值的负值除以所述第...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴柱逸，金贤贞，金世焕，
申请(专利权)人：英飞凌科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：