一种用于谷物检测的可采集图像的光谱探头制造技术

一种用于谷物检测的可采集图像的光谱探头，属于光谱分析仪技术领域，本发明专利技术为解决现有光谱仪只能对谷物进行光谱分析，若想采集被测物的外观信息，则需要单独拍照，费时费力的问题。本发明专利技术方案：一号入射光纤和二号入射光纤出射光束照射在被测谷物，所述被测谷物的漫反射光和反射光同时入射至筒形外壳内腔中，光束经过成像镜头后，再由分光片分为两束光，根据两束光实现样品外观和样品成分的同步检测：其中一束光经一号滤光片滤掉红外光，保留可见光的光束从筒形外壳出光侧输出并将在探测器上成像形成样品图像，所述样品图像用于分析被测谷物的外观是否合格；另一束光经二号滤光片及出射光纤传导至光谱检测单元，用于分析被测谷物的样品成分。谷物的样品成分。谷物的样品成分。

【技术实现步骤摘要】
一种用于谷物检测的可采集图像的光谱探头


[0001]本专利技术涉及谷物外观检测及光谱检测技术，属于光谱分析仪


技术介绍

[0002]谷物检测中，谷物的成分和外观都是用于评价谷物质量的重要信息，现有专利技术方案CN107356526A(一种红外光谱仪外置入射接收光纤探头装置)、CN107917890A(一种用于固体颗粒光谱无损检测的LED漫透射式探头)都是使光谱直接进入探头设备，对于待测光的能量利用率不高，CN103245416A(一种添加集光结构的哈达玛变换近红外光谱仪)提出了准直透镜和柱面镜结合的集光措施，但是单纯采集了被测物的光谱，并没有成像功能，分析过程中仍会存在误差，如对被测物中的杂质产生的光谱进行测量，产生错误的分析结果；谷物的外观并不合格，而对谷物评价为合格等，若想采集被测物的外观信息，则需要单独拍照，费时费力。
[0003]因此，针对以上不足，需要提供一种检测技术，在不增加设备复杂度、不增加设备体积的前提下，能够同时进行光谱检测和外观检测。

技术实现思路

[0004]针对现有光谱仪只能对谷物进行光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于谷物检测的可采集图像的光谱探头，其特征在于，包括筒形外壳(11)、一号入射光纤(1)、二号入射光纤(2)、成像镜头(3)、一号滤光片(6)、二号滤光片(7)、出射光纤(8)和分光片(9)；一号入射光纤(1)、二号入射光纤(2)对称安装筒形外壳(11)外侧壁；筒形外壳(11)内腔下部设置成像镜头(3)，筒形外壳(11)内腔上部设置有分光片(9)，筒形外壳(11)上部侧壁开有出光通孔，出射光纤(8)通过该出光通孔安装在筒形外壳(11)侧壁上；一号入射光纤(1)和二号入射光纤(2)出射光束照射在被测谷物(5)，所述被测谷物(5)的漫反射光和反射光同时入射至筒形外壳(11)内腔中，光束经过成像镜头(3)后，再由分光片(9)分为两束光，根据两束光实现样品外观和样品成分的同步检测：其中一束光经一号滤光片(6)滤掉红外光，保留可见光的光束从筒形外壳(11)出光侧输出并将在成像探测器上成像形成样品图像，所述样品图像用于分析被测谷物(5)的外观是否合格；另一束光经二号滤光片(7)及出射光纤(8)传导至光谱检测单元，用于分析被测谷物(5)的样品成分。2.根据权利要求1所述一种用于谷物检测的可采集图像的光谱探头，其特征在于，一号入射光纤(1)、二号入射光纤(2)接入宽光谱光源。3.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王治乐，夏磊，张树青，何晓博，刘广森，于涛，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：