用于精磨机设备的打浆间隙传感器装置和校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及传感器装置(1)，该传感器装置(1)包括适于产生磁场(MF)的换能器(3)，传感器装置(1)构造成测量精磨机设备(9)的第一精磨盘(5)与第二精磨盘(7)之间的打浆间隙(G)，并且构造成安装在第一精磨盘(5)中，传感器装置(1)包括磁极(13)、线圈组件(15)和测量头(11

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于精磨机设备的打浆间隙传感器装置和校准方法


[0001]本专利技术涉及根据权利要求1所述的传感器装置和根据权利要求8所述的校准传感器装置的方法。
[0002]本专利技术还可以涉及精磨机设备和适于校准精磨机设备的打浆间隙传感器装置的数据介质存储程序。
[0003]本专利技术主要涉及利用精磨机设备的纸浆生产工业。本专利技术还涉及生产打浆间隙传感器的工业，该打浆间隙传感器构造成测量精磨机设备的精磨盘的研磨表面之间的打浆间隙。

技术介绍

[0004]用于精磨盘之间的距离测量的电流传感器装置包括磁性类型的、优选地根据磁阻原理工作的换能器，所述换能器包括包含在形成测量头的套筒中的磁极。
[0005]电流传感器装置可以构造成在校准期间与相对的研磨表面接触，并且提供了用于实现传感器装置的精确校准的已知方法。
[0006]申请人的US 6 657 427B2中示出了打浆间隙传感器的一个示例。传感器安装成能够在第一精磨盘的轴向方向上移位并且可以与相对的第二精磨盘接触。US 6 657 427B2中的传感器工作良好，但仍有待开发。

技术实现思路

[0007]存在提高在用于纸浆生产的精磨机中确定打浆间隙的尺寸的精度的目的，其中，测量头的磨损和损耗以其他方式对测量精度构成了问题。
[0008]存在提供构造成用于精确校准的传感器装置的目的。
[0009]存在提供以刚性的方式起作用的传感器装置的目的，并且该传感器装置提供了成本有效的功能。
[0010]抵接可以发生在相对的精磨盘的其它位置中，而不是定位成用于现有技术校准的现有技术传感器测量头的位置处，在精磨盘区段或杆之间的这种抵接可能会误导系统进行正确的校准。
[0011]该目的或者所述目的中的至少一个目的已经通过包括适于产生磁场的换能器的传感器装置来实现，该传感器装置构造成测量精磨机设备的第一精磨盘与第二精磨盘之间的打浆间隙，并且构造成安装在第一精磨盘中，该传感器装置包括磁极、线圈组件和测量头，该测量头构造成相对于第二精磨盘设定在校准位置中，以用于传感器装置的校准，其中，测量头包括由非磁性材料制成的外端部，非磁性材料构造成在校准序列中与第二精磨盘抵接定位。
[0012]替代性地，线圈组件围绕磁极布置。
[0013]替代性地，第一精磨盘的第一研磨表面面向第二精磨盘的第二研磨表面。
[0014]替代性地，打浆间隙被限定在第一精磨盘的第一研磨表面与第二精磨盘的第二研
磨表面之间。
[0015]替代性地，所述磁场围绕磁极产生。
[0016]替代性地，非磁性材料构造成抵接第二精磨盘的第二研磨表面，以用于所述校准序列。
[0017]替代性地，所述校准序列在第二精磨盘的旋转和/或第一精磨盘的旋转期间进行。
[0018]以这种方式实现了精磨机设备的时间节省和成本有效的操作。
[0019]替代性地，测量头的外端部的非磁性外端部表面构造成在传感器装置的使用期间面向第二精磨盘的研磨表面。
[0020]替代性地，测量头构成套筒装置的一部分，磁极容纳在该套筒装置中，该套筒装置包括外端部，该外端部包括构造成抵接第二精磨盘的非磁性材料。
[0021]替代性地，磁极安装在套筒装置中并且围绕磁极布置有线圈组件。
[0022]替代性地，套筒装置的外端部可以被称为非磁性套筒端部。
[0023]替代性地，除了包括非磁性材料的非磁性套筒端部之外，套筒装置还包括磁性材料。
[0024]替代性地，当传感器装置已经安装至第一研磨盘时，非磁性套筒端部从第一研磨表面以突出测量部突出。
[0025]替代性地，磁极和/或套筒装置和/或非磁性套筒端部包括不锈钢。
[0026]替代性地，传感器装置是感应式接近传感器。
[0027]替代性地，传感器装置耦合至间隙测量转换电路，该间隙测量转换电路配置成根据测量头与第二精磨盘之间的打浆间隙的变化将磁场的变化转换成电信号。
[0028]替代性地，磁极的不含非磁性材料的外极端部形成面向第二研磨表面的极端部表面。
[0029]替代性地，非磁性套筒端部形成面向第二研磨表面的套筒端部表面。
[0030]替代性地，第一精磨盘和第二精磨盘构造成朝向彼此移动，以用于改变打浆间隙。
[0031]替代性地，第一精磨盘和第二精磨盘布置在旋转轴线上，该旋转轴线定向成与第一研磨表面和第二研磨表面正交。
[0032]替代性地，至少第一精磨盘构造成朝向第二精磨盘移动。
[0033]替代性地，间隙测量转换电路耦合至精磨盘驱动器，该精磨盘驱动器构造成至少使第一精磨盘沿着旋转轴线朝向和/或远离第二精磨盘移动，以用于调节打浆间隙。
[0034]替代性地，间隙测量转换电路耦合至精磨盘位置传感器，以用于记录相应的第一精磨盘和第二精磨盘的相互位置。
[0035]替代性地，间隙测量转换电路耦合至控制电路，该控制电路配置成控制精磨盘驱动器，以至少使第一精磨盘沿着旋转轴线移动。
[0036]替代性地，与第二精磨盘抵接定位的测量头提供了第一研磨表面与第二研磨表面之间的第一距离值，该第一距离值由测量转换电路记录。
[0037]替代性地，第一距离值被称为非磁性套筒端部在从第一研磨表面且横向于第一研磨表面的方向上突出的距离，例如0,5/0.5mm或任何其他合适的值。
[0038]替代性地，磁极的外极端部构造成与第一研磨表面齐平。
[0039]替代性地，磁极的外极端部定位在第一研磨表面的内侧或外侧。
[0040]替代性地，控制电路配置成根据第二距离值控制精磨盘驱动器，以提供至少第一精磨盘沿着旋转轴线的运动，从而达到有效的打浆间隙值，例如5mm(在第一距离值为0,5/0.5mm的情况下，第二距离值为4,5/4.5mm，从而达到5mm的有效的打浆间隙值)。
[0041]替代性地，间隙测量转换电路配置成将第一磁场值转换成第一电信号，该第一磁场值与第一距离值相关。
[0042]替代性地，间隙测量转换电路配置成将第二磁场值转换成第二电信号，该第二磁场值与第二距离值相关。
[0043]替代性地，间隙测量转换电路配置成在打浆间隙经历变化(例如，由于研磨表面的磨损)成为与有效的打浆间隙值不同的第三距离值时根据所述第三距离值记录并转换第三磁场值的磁场变化。
[0044]替代性地，间隙测量转换电路配置成将第三磁场值转换成第三电信号，该第三磁场值与第三距离值相关。
[0045]替代性地，间隙测量转换电路配置成命令控制电路启用精磨盘驱动器以使第一精磨盘和/或第二精磨盘朝向彼此移动以用于调节第三距离值，从而达到有效的打浆间隙值，即，将打浆间隙调节至第二距离值，这对于最佳研磨是有效的。
[0046]替代性地，当测量头的套筒端部表面抵接第二研磨表面时，间隙测量转换电路记录该抵接并校准传感器装置。
[0047]以这种方式实现的是，传感器装置的校准可以以可靠的方式进行，同时磁极和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种传感器装置(1)，所述传感器装置(1)包括适于产生磁场(MF)的换能器(3)，所述传感器装置(1)构造成测量精磨机设备(9)的第一精磨盘(5)与第二精磨盘(7)之间的打浆间隙(G)，并且构造成安装在所述第一精磨盘(5)中，所述传感器装置(1)包括磁极(13)、线圈组件(15)和测量头(11
’
)，所述测量头(11
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)构造成相对于所述第二精磨盘(7)设定在校准位置中，以用于所述传感器装置(1)的校准，其特征在于，所述测量头(11
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)包括由非磁性材料制成的外端部(10
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)，所述非磁性材料构造成在校准序列中与所述第二精磨盘(7)抵接定位。2.根据权利要求1所述的传感器装置(1)，其中，所述测量头(11
’
)构成套筒装置(14)的一部分，所述磁极(13)容纳在所述套筒装置(14)中，所述套筒装置(14)包括所述外端部(10
’
)，所述外端部(10
’
)包括构造成抵接所述第二精磨盘(7)的所述非磁性材料。3.根据权利要求2所述的传感器装置(1)，其中，所述套筒装置(14)的非磁性套筒端部形成面向所述第二精磨盘(7)的第二研磨表面的套筒端部表面。4.根据权利要求1至3中的任一项所述的传感器装置(1)，其中，所述传感器装置(1)耦合至间隙测量转换电路(19)，所述间隙测量转换电路(19)配置成根据所述测量头(11
’
)与所述第二精磨盘(7)之间的所述打浆间隙(G)的变化将所述磁场(MF)的变化转换成电信号。5.根据前述权利要求中的任一项所述的传感器装置(1)，其中，所述线圈组件(15)围绕所述磁极(13)应用并且耦合至交流电供应单元(AC)，所述交流电供应单元(AC)适于将电流感应到所述线圈组件(15)中，以用于产生所述磁场(MF)。6.根据前述权利要求中的任一项所述的传感器装置(1)，其中，所述传感器装置(1)的测量头抵接检测电路(23)配置成在所述第一精磨盘(5)和所述第二精磨盘(7)朝向彼此移动时检测所述测量头(11
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)抵接所述第二精磨盘(7)的抵接。7.根据权利要求6所述的传感器装置(1)，其中，所述测量头抵接检测电路(23)配置成检测与所述抵接相关的机械振动和/或声能变化和/或温度变化和/或所述感应电流的电流变化。8.一种校准传感器装置(1)的方法，所述传感器装置(1)包括适于产生磁场(MF)的换能器(3)，所述传感器装置(1)构造成测量精磨机设备(9)的第一精磨盘(5)与第二精磨盘(7)之间的打浆间隙(G)并且构造成安装在所述第一精磨盘(5)中，所述传感器装置(1)包括磁极(13)、线圈组件(15)和测量头(11
’
)，所述测量头(11
’
)构造成相对于所述第二精磨盘(7)设定在校准位置中，以用于所述传感器装置(1)的校准，其中，所述测量头(11
’
)包括由非磁性材料制成的外端部(10
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)，所述非磁性材料构造成在校准序列中...

【专利技术属性】
技术研发人员：本特，
申请(专利权)人：达普罗克斯公司，
类型：发明
国别省市：